【技术实现步骤摘要】
一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法和系统
[0001]本专利技术属于图像
的一种工件缺陷检测方法,具体涉及一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法和系统。
技术介绍
[0002]随着生产水平的提高,需要对生产环节的产品工件质量进行评估反馈从而提高产线生产水平。对产品质量进行评估的方法主要可以分为量测和检测,前者是对产品关键尺寸进行测量,后者则是对会影响到产品功能使用的参数进行测量,例如对金属工件工作面的缺陷检测、对封装器件的电性能测量等。缺陷检测领域中,不同的缺陷和尺寸可能会导致工件失效的机理不同,因此需要对缺陷的种类、分布和尺寸进行检测及统计,用于反馈加工环节的生产质量水平。不同种类缺陷具有不同的形貌特征,例如颗粒缺陷为点状特征、孔洞缺陷为中空环状特征、划痕缺陷为曲线状或条状特征等,因此也就需要不同的检测手段和检测算法。
[0003]针对缺陷的检测方法主要可以分为基于纹理和颜色的图像处理算法以及深度学习分类算法,检测算法给出的结果往往是缺陷的类型和缺陷外接矩形框所对应的图像像素坐标,并基于各个单幅图像的缺陷检测算法结果进行汇总统计。这类检测方法适用于缺陷的长宽尺寸均小于图像物方视场尺寸的场景,例如针对颗粒缺陷,一般采用的检测物方视场比其特征尺寸大二至三个数量级;但是对于划痕缺陷而言,这类缺陷属于细长条状特征缺陷,在长度方向上的尺寸远远大于其宽度方向上的尺寸,因此如果采用检测物方视场大于其长度方向尺寸的设计,划痕缺陷宽度方向的尺寸可能会小于检测物方视场对应的分辨率,从而导致划痕的检测性能下降和漏检等;而如果减小检 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1)对工件进行拍摄获得单视场图像,根据单视场图像的划痕缺陷检测结果绘制真实缺陷分布图;步骤2)根据真实缺陷分布图绘制用于校准的缺陷分布图,并获得机台坐标到像素坐标的映射关系;步骤3)对预处理后的真实缺陷分布图进行骨架提取,并对获得的划痕骨架进行连通域分析获得不同编号的连通区域,然后根据像素数量初步筛选连通区域对应的划痕;步骤4)对连通区域进行形状拟合后进行进一步筛选,筛选获得的连通区域对应的跨视场划痕作为最终的工件上存在的划痕;步骤5)将步骤4)获得的跨视场划痕上的像素坐标进行逆向映射后,对跨视场划痕上的所有像素点进行遍历获得对应的单视场划痕的集合,从而获得工件上划痕的统计信息。2.根据权利要求1所述的一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法,其特征在于,所述步骤1)具体为:1.1)将成像获得的所有单视场图像进行缺陷检测获得单视场图像内所有缺陷的种类和像素坐标信息、以及所有单视场图像的机台坐标;1.2)根据步骤1.1)获得的单视场图像的机台坐标和划痕缺陷外接矩形框的像素坐标,获得划痕缺陷外接矩形框的机台坐标;1.3)根据划痕缺陷外接矩形框的机台坐标进行划痕缺陷的分布图绘制,得到工件划痕缺陷的真实缺陷分布图。3.根据权利要求2所述的一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法,其特征在于,所述步骤1.3)中,分布图包括整个工件上所有单视场图像存在的划痕缺陷,并按照设定的像素分辨率保存真实缺陷分布图。4.根据权利要求1所述的一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法,其特征在于,所述步骤2)具体为:新建一个与步骤1)的真实缺陷分布图像素分辨率相同的空白分布图,然后任意给定两个虚拟缺陷点的机台坐标(x
cal1
,y
cal1
)和(x
cal2
,y
cal2
),并将其绘制于空白分布图上,保存得到用于校准的缺陷分布图;对保存的图像进行阈值处理,获得两个虚拟缺陷点对应的像素坐标(x
cal1p
,y
cal1p
)和(x
cal2p
,y
cal2p
);根据两个虚拟缺陷点的机台坐标和像素坐标获得机台坐标系和用于校准的缺陷分布图的像素坐标系之间的映射关系,即得机台坐标系和真实缺陷分布图的像素坐标系之间的映射关系,具体为:,;其中,(x,y)为任意缺陷点在机台坐标系下的机台坐标,(x
p
,y
p
)为该缺陷点在真实缺陷分布图像素坐标系下的像素坐标。5.根据权利要求1所述的一种跨视场划痕缺陷连续性检测方法,其特征在于,所述步骤3)具体为:3.1)对步骤2)获得的真实缺陷分布图进行预处理,预处理包括:去除图像中除划痕缺陷之外的所有标志,以及对产生间断的长划痕进行膨胀操作保证长划痕连续性;3.2)对步骤3.1)预处理后的图像进行骨架提取,获得...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨青,陆宏杰,庞陈雷,王智,王兴锋,卓桐,
申请(专利权)人:之江实验室,
类型:发明
国别省市:
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