应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法技术

本申请提供一种应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，应用于MCU控制器，包括：获取原始ADC测量值，其中，MCU控制器控制电流输出单元输出方波脉冲电流，采样单元对方波脉冲电流进行采样并转化为电压信号，ADC转换单元将电压信号进行模数转换，得到原始ADC测量值，并由ADC转换单元将原始ADC测量值传输给MCU控制器；对原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据；对第一数据进行排序，得到第二数据；从第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值；基于电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法


[0001]本申请涉及显示屏电流检测领域，具体而言，涉及一种应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法。

技术介绍

[0002]在当前的显示屏背光控制技术下，很多显示屏背光通过脉冲电流驱动，如90帧的刷新率，其实背光电流并不是恒定的电流，而是一个90Hz的方波脉冲电流。而脉冲式的电流用传统方法是无法直接测量，通常是通过硬件RC滤波方式转化成均匀的直流测量。但如果要适用于不同频率的电流检测，例如频率任意变化（60Hz、75Hz、90Hz、120Hz等）或频率过低，则会降严重影响RC滤波的效果，导致跳动过大，并且，对电流的响应也会明显变迟钝，测量的结果也不够准确，与真实值差异较大。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，以直接测量脉冲电流，并且能够在控制脉冲频率发生变化时不改变硬件仍可稳定测量，电流发生变化时能够快速响应，测出接近真实的电流值。
[0004]为了实现上述目的，本申请的实施例通过如下方式实现：第一方面，本申请实施例提供一种应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，脉冲式直流电流采样测量装置包括内置MCU控制器的主点屏系统和通过排线与MCU控制器电连接的电源板，所述电源板集成有电流输出单元、采样单元和ADC转换单元，所述方法应用于所述MCU控制器，包括：获取原始ADC测量值，其中，所述MCU控制器控制所述电流输出单元输出方波脉冲电流，所述采样单元对方波脉冲电流进行采样并转化为电压信号，所述ADC转换单元将所述电压信号进行模数转换，得到原始ADC测量值，并由所述ADC转换单元将所述原始ADC测量值传输给所述MCU控制器；对所述原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据；对所述第一数据进行排序，得到第二数据；从所述第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值；基于所述电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果。
[0005]结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，对所述原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据，包括：将所述原始ADC测量值中低于设定阈值的数值剔除，得到剩余数值；将所述剩余数值组合，得到所述第一数据。
[0006]结合第一方面，在第一方面的第二种可能的实现方式中，对所述第一数据进行排序，得到第二数据，包括：对所述第一数据中的所有数值进行升序排序，得到所述第二数据。
[0007]结合第一方面，在第一方面的第三种可能的实现方式中，从所述第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值，包括：从所述第二数据确定出位于正中央的x个数值，作为所述待定数据，其中，x的数量不超过所述第二数据中数值总量的；计算
所述待定数据的均值，得到所述电压均值。
[0008]结合第一方面的第三种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，基于所述电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果，包括：利用所述电压均值，采用以下公式计算真实电流值：，其中，为所述真实电流值，为所述电压均值，为电阻，阻值已知；基于所述真实电流值，生成包含所述真实电流值的电流检测结果。
[0009]结合第一方面的第四种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，基于所述真实电流值，生成包含所述真实电流值的电流检测结果，包括：基于所述电压均值，将所述待定数据划分为高值组和低值组，其中，高值组中的每个数值均高于所述电压均值，低值组中的每个数值均低于所述电压均值；计算所述高值组的均值，将高值组的均值减去所述电压均值得到电压浮值，以及，计算所述低值组的均值，将所述电压均值减去低值组的均值得到电压沉值；将所述电压浮值除以电阻的阻值，得到电流浮值，以及，将所述电压沉值除以电阻的阻值，得到电流沉值；生成包含所述真实电流值、所述电流浮值和所述电流沉值的电流检测结果。
[0010]结合第一方面的第五种可能的实现方式，在第一方面的第六种可能的实现方式中，在确定出电流检测结果后，所述方法还包括：判断所述电流检测结果中的真实电流值是否超出安全阈值；若所述真实电流值超出安全阈值，关闭电流输出以保护后级；若所述真实电流值未超出安全阈值，基于所述电流检测结果调节电流输出单元输出的方波脉冲电流。
[0011]结合第一方面的第六种可能的实现方式，在第一方面的第七种可能的实现方式中，基于所述电流检测结果调节电流输出单元输出的方波脉冲电流，包括：获取待测显示屏的电流参数；若所述真实电流值高于所述电流参数，基于以下公式计算第一补偿电流值：，其中，为第一补偿电流值，为电流沉值，为电流参数，为真实电流值；在方波脉冲电流的基础上减去所述第一补偿电流值，得到调节后的方波脉冲电流并输出；若所述真实电流值低于所述电流参数，基于以下公式计算第二补偿电流值：，其中，为第二补偿电流值，为电流浮值，为电流参数，为真实电流值；在方波脉冲电流的基础上加上所述第二补偿电流值，得到调节后的方波脉冲电流并输出。
[0012]有益效果：1.利用脉冲式直流电流采样测量的MCU控制器控制电流输出单元输出方波脉冲电
流，采样单元对方波脉冲电流进行采样并转化为电压信号， ADC转换单元将电压信号进行模数转换，得到原始ADC测量值，并回传给MCU控制器，MCU控制器基于原始ADC测量值进行测量。这样可以直接测量脉冲电流，并且能够在控制脉冲频率发生变化时，不改变硬件仍可稳定测量，能够适用于不同频率的电流检测场景，在电流发生变化时，可以快速响应。对原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据；对第一数据进行排序，得到第二数据；从第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值；基于电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果。这样的方式，可以应对不同频率的电流测量，且利用阈值分离、排序和选取排序后电流中央的数据作为待定数据（这组待定数据能够很好地反映真实电流值），测量出的电流值更接近真实的电流值，检测更准确。以及，MCU控制器还可以基于电流检测结果实现过流保护，调控输出的方波脉冲电流，有利于提高检测的可靠性。
[0013]2.基于电压均值，将待定数据划分为高值组和低值组，计算电压浮值和电压沉值，可以进一步计算得到电流浮值和电流沉值，生成包含真实电流值、电流浮值和电流沉值的电流检测结果。判断真实电流值是否超出安全阈值；超出安全阈值则关闭电流输出以保护后级；未超出安全阈值则进一步调控输出的脉冲方波电流。而调控的方式，不仅考虑测量的真实电流值，还能分情况考虑电流沉值的影响和电流浮值的影响，计算出相应的补偿值进行补偿调控，使得调控的方波脉冲电流能够快速精准地达到待测显示屏的电流参数，有利于提升后续检测的可靠性，提高产品品质的把控。
[0014]为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，其特征在于，脉冲式直流电流采样测量装置包括内置MCU控制器的主点屏系统和通过排线与MCU控制器电连接的电源板，所述电源板集成有电流输出单元、采样单元和ADC转换单元，所述方法应用于所述MCU控制器，包括：获取原始ADC测量值，其中，所述MCU控制器控制所述电流输出单元输出方波脉冲电流，所述采样单元对方波脉冲电流进行采样并转化为电压信号，所述ADC转换单元将所述电压信号进行模数转换，得到原始ADC测量值，并由所述ADC转换单元将所述原始ADC测量值传输给所述MCU控制器；对所述原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据；对所述第一数据进行排序，得到第二数据；从所述第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值；基于所述电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果。2.根据权利要求1所述的应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，其特征在于，对所述原始ADC测量值进行阈值分离，得到第一数据，包括：将所述原始ADC测量值中低于设定阈值的数值剔除，得到剩余数值；将所述剩余数值组合，得到所述第一数据。3.根据权利要求1所述的应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，其特征在于，对所述第一数据进行排序，得到第二数据，包括：对所述第一数据中的所有数值进行升序排序，得到所述第二数据。4.根据权利要求1所述的应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，其特征在于，从所述第二数据中确定出一组待定数据，进行均值计算，得到电压均值，包括：从所述第二数据确定出位于正中央的x个数值，作为所述待定数据，其中，x的数量不超过所述第二数据中数值总量的；计算所述待定数据的均值，得到所述电压均值。5.根据权利要求4所述的应用于显示屏背光电流检测的脉冲式直流电流测量方法，其特征在于，基于所述电压均值和欧姆定律，计算出真实电流值并生成电流检测结果，包括：利用所述电压均值，采用以...

【专利技术属性】
技术研发人员：董斌，李俊龙，马志敏，曾德能，李向丁，
申请(专利权)人：昆山迈致治具科技有限公司，
类型：发明
国别省市：