本发明专利技术提供一种芯片自动化测试方法、系统、终端及计算机存储介质，其中，方法包括：根据待测芯片的测试任务，确定芯片的测试参数和测试频率；获取所述测试参数的初始值和调节步长；基于该初始值和调节步长，确定各测试参数值，以及，基于所述测试频率确定采集频率；基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中，同时基于所述采集频率采集芯片输出的状态信号；所述状态信号与所述测试信号相对应；提取各所述状态信号中的状态信息；基于各所述测试参数值和对应的状态信息，获取芯片测试结果；本发明专利技术提高了芯片测试的效率和准确性。本发明专利技术提高了芯片测试的效率和准确性。本发明专利技术提高了芯片测试的效率和准确性。
【技术实现步骤摘要】
芯片自动化测试方法、系统、终端及计算机存储介质
[0001]本专利技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种芯片自动化测试方法、系统、终端及计算机存储介质。
技术介绍
[0002]为获取芯片的性能信息，通常需要对芯片的进行多项复杂的测试，包括对芯片的同一性能，执行不同参数范围的测试；例如，在测试芯片于1dB压缩点的线性性能时，往往需要信号源发射不同频率和功率的信号，将芯片在不同频率下对应的输出功率绘制为输出功率曲线，并于该输出功率曲线上找到增益压缩为1dB的数据点；而当测试芯片的3dB带宽性能时，需要调整测试装置的测试频率，即以密集的步进调整信号源输入的频率大小，以绘制对应频段范围内的功率曲线，并于曲线上找到增益下降3dB的数据点，从而找到3dB带宽。然而，现有的芯片测试过程往往需要人工进行测试参数的调节，则该调节过程不仅繁琐，而且采用人工手动调节的方式，无法保证测试过程的一致性，进而也无法保证测试结果的客观性和准确性。
技术实现思路
[0003]鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种芯片的自动化测试方法、系统、终端及计算机存储介质，可以解决基于人工调节的芯片测试过程无法保证各芯片测试过程的一致性，和无法保证测试结果的客观性和准确性等问题
[0004]为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术第一方面提供一种芯片自动化测试方法，包括：根据待测芯片的测试任务，确定芯片的测试参数和测试频率；获取所述测试参数的初始值和调节步长；基于该初始值和调节步长，确定各测试参数值，以及，基于所述测试频率确定采集频率；基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中，同时基于所述采集频率采集芯片输出的状态信号；所述状态信号与所述测试信号相对应；提取各所述状态信号中的状态信息；基于各所述测试参数值和对应的状态信息，获取芯片测试结果。
[0005]于本专利技术一实施例中，所述芯片自动化测试方法还包括：根据芯片的功能作用信息、使用场景信息或通信协议信息中一个或多个信息，确定芯片的所述测试任务
[0006]于本专利技术一实施例中，于所述基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中之前，所述测试方法，还包括：检测所述芯片的当前状态是否为，与所述测试任务对应的待检测状态，如是，则执行后续步骤，如否，则使所述芯片进入所述待检测状态。
[0007]于本专利技术一实施例中，所述状态信号的采集包括：获取当前测试参数值，输出与所述当前测试参数值对应的测试信号至芯片中，使芯片根据所述当前测试参数值输出对应的状态信号；同时，基于所述采集频率，采集芯片输出的所述状态信号；更新所述当前测试参数值，以基于更新后的所述当前测试参数值，重复执行该步骤。
[0008]于本专利技术一实施例中，于所述基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中之前，所述芯片自动化测试方法，还包括：获取芯片的标识信息，基于所述标识信息和
所述测试参数类型，获取芯片对应于所述测试参数类型的采集精度；基于该采集精度，确定采集参数，以基于所述采集频率和所述采集参数，采集芯片输出的状态信号。
[0009]于本专利技术一实施例中，所述状态信号的采集，于单次执行时，还包括：获取各所述状态信号的采集状态，检测所述采集状态是否满足预设的采集要求，如否，则根据所述采集状态，调整所述采集频率和/或所述采集参数，以基于调整后的采集频率和/或所述采集参数，重复执行该步骤；其中，所述采集状态包括噪底水平、扫描时间、显示频率范围或显示功率范围中的一种或多种。
[0010]于本专利技术一实施例中，所述基于各所述测试参数值和对应的状态信息，获取芯片测试结果，包括：基于所述状态信息与所述测试参数值之间的对应关系，构建所述状态信息与所述测试参数值的分布曲线；通过比较所述分布曲线与预设的芯片性能分布曲线，获取芯片的测试结果。
[0011]本专利技术于第二方面还提供一种芯片测试系统，包括：信号发送单元，其连接芯片，用于发送各测试信号至芯片中，以使所述芯片根据接收到的测试信号输出对应的状态信号；信号接收单元，其连接芯片，用于采集各所述状态信号；以及，控制单元，其连接所述信号发送单元和所述信号接收单元，用于执行如上所述的芯片自动化测试方法；其中，所述控制单元基于各所述测试参数值发送第一控制信号至所述信号发送单元，使所述信号发送单元根据所述第一控制信号输出对应的所述测试信号至芯片中；同时基于所述采集频率发送第二控制信号至所述信号接收单元，以使所述信号接收单元根据所述第二控制信号采集芯片输出的状态信号；所述状态信号与所述测试信号相对应。
[0012]本专利技术于第三方面还提供一种终端，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以执行如上任意所述的芯片自动化测试方法。
[0013]本专利技术于第四方面还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任意所述的芯片自动化测试方法。
[0014]如上所述，本专利技术提供的所述芯片自动化测试方法、系统、终端及计算机存储介质，可以对待测芯片进行自动化地测试和流程化地数据处理测试参数值；通过在输出对应测试信号至芯片的同时，基于所述采集频率采集芯片输出的状态信号，从而可以采集芯片输出的状态信号；以基于各所述测试参数值和对应状态信号中的状态信息，获取芯片测试结果，从而可以提高芯片测试的自动化水平，并有效地提升芯片测试的效率和准确性。
附图说明
[0015]图1显示为本专利技术所述芯片自动化测试方法所基于的芯片测试系统于一实施例
[0016]中的结构示意图；
[0017]图2显示为本专利技术所述芯片自动化测试方法于一实施例中的流程示意图；
[0018]图3显示为本专利技术所述芯片自动化测试方法中的步骤S600于一实施例中的流程
[0019]示意图；
[0020]图4显示为本专利技术所述芯片自动化测试方法于另一实施例中的流程示意图；
[0021]图5显示为本专利技术所述终端于一实施例中的结构示意图；
[0022]元件标号说明
[0023]100
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芯片测试系统
[0024]101
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信号输出单元
[0025]102
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信号输入单元
[0026]103
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控制单元
[0027]40
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终端
[0028]41
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存储器
[0029]42
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处理器
具体实施方式
[0030]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片自动化测试方法，其特征在于，包括：根据待测芯片的测试任务，确定芯片的测试参数和测试频率；获取所述测试参数的初始值和调节步长；基于该初始值和调节步长，确定各测试参数值，以及，基于所述测试频率确定采集频率；基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中，同时基于所述采集频率采集芯片输出的状态信号；所述状态信号与所述测试信号相对应；提取各所述状态信号中的状态信息；基于各所述测试参数值和对应的状态信息，获取芯片测试结果。2.根据权利要求1所述的芯片自动化测试方法，其特征在于，还包括：根据芯片的功能作用信息、使用场景信息或通信协议信息中一个或多个信息，确定芯片的所述测试任务。3.根据权利要求1所述的芯片自动化测试方法，其特征在于，于所述基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中之前，所述测试方法，还包括：检测所述芯片的当前状态是否为与所述测试任务对应的待检测状态，如是，则执行后续步骤，如否，则使所述芯片进入所述待检测状态。4.根据权利要求1所述的芯片自动化测试方法，其特征在于，所述状态信号的采集包括：获取当前测试参数值，输出与所述当前测试参数值对应的测试信号至芯片中，使芯片根据所述当前测试参数值输出对应的状态信号；同时，基于所述采集频率，采集芯片输出的所述状态信号；更新所述当前测试参数值，以基于更新后的所述当前测试参数值，重复执行该步骤。5.根据权利要求4所述的芯片自动化测试方法，其特征在于，于所述基于各所述测试参数值，输出对应的测试信号至芯片中之前，所述芯片自动化测试方法，还包括：获取芯片的标识信息，基于所述标识信息和所述测试参数类型，获取芯片对应于所述测试参数类型的采集精度；基于该采集精度，确定采集参数，以基于所述采集频率和所述采集参数，采集芯片输出的状态信号。6.根据权利要求5所述的芯片自动化测试方法，其特征在于，所述状态信号的采集，于单次...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁灿然，杨泽华，王胜磊，曾毅，
申请(专利权)人：芯原微电子成都有限公司芯原微电子南京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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