测控仪表和电磁屏蔽罩制造技术

本实用新型专利技术实施例公开了一种测控仪表和电磁屏蔽罩。所述测控仪表例如包括：测控仪主体，包括测控仪本体和交互面板，所述交互面板设置在所述测控仪本体表面，所述交互面板上设置有显示窗和多个控制按键；以及，屏蔽面板，安装固定在所述测控仪本体上，所述交互面板位于所述测控仪本体和所述屏蔽面板之间，所述屏蔽面板包括第一透光层和金属丝网层，所述金属丝网层固定在所述第一透光层邻近所述交互面板的内侧。本实用新型专利技术实施例通过在测控仪表的交互面板表面设置屏蔽面板，屏蔽面板透明且设置有金属丝网层用于阻隔电磁波，从而有效抑制测控仪表内的测控元件遭受电磁干扰影响。控仪表内的测控元件遭受电磁干扰影响。控仪表内的测控元件遭受电磁干扰影响。

【技术实现步骤摘要】
测控仪表和电磁屏蔽罩


[0001]本技术涉及测控仪表相关
，尤其涉及一种测控仪表和一种电磁屏蔽罩。

技术介绍

[0002]测控仪表通常具有参数测量、监视、分析、记录和报警等功能，测控仪表通常包括测控仪主体和设置在测控仪主体上的交互面板，用户可以通过交互面板上的显示窗进行实时监控，以及通过交互面板上的控制按键对现场设备进行远程控制。但是，现有的测控仪主体内部通常安装有高精度电气元件，且测控仪表常会在充满电磁辐射的和通讯波段环境中运行，因此在使用过程中电磁辐射和通讯波段容易穿过测控仪表的交互面板对测控仪主体内部的电气元件产生电磁干扰，并导致测控仪表产生精度偏差等问题，影响测控仪表的使用。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术实施例提供的一种测控仪表和一种电磁屏蔽罩，通过在测控仪表的交互面板前侧设置屏蔽面板，屏蔽面板透明且设置有金属丝网层用于阻隔电磁波，从而有效抑制测控仪表内的电气元件遭受电磁干扰影响。
[0004]具体地，本技术实施例提供的一种测控仪表，包括：测控仪主体和设置在所述测控仪主体上的交互面板，所述交互面板上设置有显示窗和多个控制按键；屏蔽面板，安装固定在所述测控仪主体上并盖设于所述交互面板，其中所述屏蔽面板包括第一透光层和金属丝网层，所述金属丝网层固定在所述第一透光层邻近所述交互面板的内侧。
[0005]在本技术的一个实施例中，所述测控仪主体上设置有金属框，所述金属框具有中间通孔，所述交互面板对应所述金属框的所述中间通孔位置，所述屏蔽面板安装固定在所述金属框的所述中间通孔内，所述金属丝网层包括主体部和自主体部侧向延伸的边缘部，所述边缘部超出所述第一透光层的边沿部并抵接所述金属框以通过所述金属框接地；或者，所述屏蔽面板包括双面导电层，所述双面导电层位于所述边缘部和所述金属框之间且抵接所述金属框，所述边缘部通过导电涂层抵接在所述双面导电层内。
[0006]在本技术的一个实施例中，所述金属丝网层为铜制金属丝网层或镍制合金金属丝网层。
[0007]在本技术的一个实施例中，所述金属丝网层的金属丝直径为2
‑
60μm，所述金属丝网层的网孔孔径为50
‑
500μm。
[0008]在本技术的一个实施例中，所述屏蔽面板还包括承载基体，所述金属丝网层位于所述第一透光层和所述承载基体之间。
[0009]在本技术的一个实施例中，所述屏蔽面板还包括第二透光层，所述金属丝网层固定在所述第一透光层和所述第二透光层之间。
[0010]在本技术的一个实施例中，所述屏蔽面板上开设有多个让位部，多个所述让
位部的位置一一对应所述交互面板上的多个所述控制按键。
[0011]另外，本技术实施例提供的一种电磁屏蔽罩，包括：金属框和屏蔽面板，所述金属框具有中间通孔，所述屏蔽面板安装固定在所述金属框的所述中间通孔内，所述屏蔽面板包括第一透光层和设置在所述第一透光层一侧的金属丝网层，所述金属丝网层包括主体部和自主体部侧向延伸的边缘部，所述边缘部超出所述第一透光层的边沿部、并抵接所述金属框以与所述金属框形成电连接。
[0012]在本技术的一个实施例中，所述金属丝网层的金属丝直径为2
‑
60μm，所述金属丝网层的网孔孔径为50
‑
500μm；和/或所述第一透光层和金属丝网层上开设有位置相应的多个让位部；和/或所述电磁屏蔽罩还设置有承载基体、且所述金属丝网层位于所述第一透光层和所述承载基体之间。
[0013]在本技术的一个实施例中，所述电磁屏蔽罩还包括第二透光层，所述金属丝网层固定在所述第一透光层和所述第二透光层之间。
[0014]上述技术方案可以具有如下一个或多个优点：本技术实施例提供的一种测控仪表通过在测控仪本体上设置屏蔽面板，所述屏蔽面板在透明材质的第一透光层上设置金属丝网层，通过所述金属丝网层对电磁波的吸收和反射以屏蔽电磁干扰，从而防止外部电磁波辐射对所述测控仪表内部的元件产生干扰，且由于所述屏蔽面板具有透光性，使用户可以透过所述屏蔽面板查看所述显示窗，进而通过所述测控仪表进行实时监控，方便用户使用；此外，所述屏蔽面板上开设多个所述让位部并分别与所述交互面板上的多个所述控制按键相对应，从而使用户在无需取下所述屏蔽面板的情况下对所述测控仪表进行控制；另外，所述屏蔽面板例如还设置有第二透光层，并通过所述第一透光层和所述第二透光层构成夹层结构，保护所述金属丝网层的使用。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本技术第一实施例提供的一种测控仪表的分解结构示意图。
[0017]图2为图1所示测控仪表的另一视角的结构示意图。
[0018]图3为图1所示测控仪表的屏蔽面板的分解结构示意图。
[0019]图4为图1所示测控仪表的屏蔽面板的一种剖视图。
[0020]图5为图1所示测控仪表的屏蔽面板的另一实施方式的分解结构示意图。
[0021]图6为图1所示测控仪表的屏蔽面板的又一实施方式的分解结构示意图。
[0022]图7为图1所示测控仪表的屏蔽面板的又一实施方式的剖视图。
[0023]图8为图1所示测控仪表的又一实施方式的分解结构示意图。
[0024]图9为图8所示测控仪表的屏蔽面板的分解结构示意图。
[0025]图10为本技术第二实施例提供的一种电磁屏蔽罩的分解结构示意图。
具体实施方式
[0026]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0027]在本技术实施例的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“坚直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0028]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测控仪表(1)，其特征在于，包括：测控仪主体(10)和设置在所述测控仪主体(10)上的交互面板(12)，所述交互面板(12)上设置有显示窗(121)和多个控制按键(122)；屏蔽面板(20)，安装固定在所述测控仪主体(10)上并盖设于所述交互面板(12)，其中所述屏蔽面板(20)包括第一透光层(21)和金属丝网层(22)，所述金属丝网层(22)固定在所述第一透光层(21)邻近所述交互面板(12)的内侧(211)。2.根据权利要求1所述的测控仪表(1)，其特征在于，所述测控仪主体(10)上设置有金属框(13)，所述金属框(13)具有中间通孔，所述交互面板(12)对应所述金属框(13)的所述中间通孔位置，所述屏蔽面板(20)安装固定在所述金属框(13)的所述中间通孔内，所述金属丝网层(22)包括主体部(221)和自主体部(221)侧向延伸的边缘部(223)，所述边缘部(223)超出所述第一透光层(21)的边沿部(210)并抵接所述金属框(13)以通过所述金属框(13)接地；或者，所述屏蔽面板(20)包括双面导电层(25)，所述双面导电层(25)位于所述边缘部(223)和所述金属框(13)之间且抵接所述金属框(13)，所述边缘部(223)通过导电涂层抵接在所述双面导电层(25)内。3.根据权利要求2所述的测控仪表(1)，其特征在于，所述金属丝网层(22)为铜制金属丝网层或镍制合金金属丝网层。4.根据权利要求2所述的测控仪表(1)，其特征在于，所述金属丝网层(22)的金属丝直径为2
‑
60μm，所述金属丝网层(22)的网孔孔径为50
‑
500μm。5.根据权利要求2所述的测控仪表(1)，其特征在于，所述屏蔽面板(20)还包括承载基体(23)，所述金属丝网层(22...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖新华，
申请(专利权)人：廖新华，
类型：新型
国别省市：