本申请涉及一种数字板卡通道电平精度测试装置及测试机，测试装置包括切换输出数字板卡的数字通道的电平信号的切换开关矩阵，和并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度的信号处理模块；切换开关矩阵连接对应数字板卡的数字通道，信号处理模块连接切换开关矩阵。将切换开关矩阵连接对应数字板卡的数字通道，切换输出数字板卡的数字通道的电平信号，并利用信号处理模块并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度，可对多个数字板卡进行并行测试，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。
【技术实现步骤摘要】
数字板卡通道电平精度测试装置及测试机
[0001]本申请涉及数字测试
，特别是涉及一种数字板卡通道电平精度测试装置及测试机。
技术介绍
[0002]在芯片生产过程中，需要使用测试机对芯片进行测试，因此，测试机中各数字板卡的通道需要保证较高的电平精度。传统的数字板卡通道测试方式，是使用万用表测试每个通道的电平精度，效率较低。如何提高数字板卡通道电平精度的测试效率，是一个亟待解决的问题。
技术实现思路
[0003]基于此，有必要针对上述问题，提供一种可提高测试效率的数字板卡通道电平精度测试装置及测试机。
[0004]本申请第一方面提供一种数字板卡通道电平精度测试装置，包括：
[0005]切换输出数字板卡的数字通道的电平信号的切换开关矩阵，所述切换开关矩阵连接对应数字板卡的数字通道；
[0006]并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度的信号处理模块，所述信号处理模块连接所述切换开关矩阵。
[0007]在其中一个实施例中，所述切换开关矩阵的数量与所述数字板卡的数量相同，各所述切换开关矩阵分别连接对应一所述数字板卡的数字通道，且各所述切换开关矩阵连接所述信号处理模块。
[0008]在其中一个实施例中，所述信号处理模块包括ADC，所述ADC的数量与所述切换开关矩阵的数量相同，且各所述ADC分别连接对应一所述切换开关矩阵。
[0009]在其中一个实施例中，所述切换开关矩阵包括多路选择器和两个以上的切换开关，且所述切换开关包括基准开关和自测试循环开关；
[0010]各所述切换开关的动触点分别连接所述数字板卡的数字通道，各所述切换开关的第一静触点相连接；所述基准开关的第二静触点连接所述ADC，所述自测试循环开关的第二静触点连接所述多路选择器，所述多路选择器连接所述ADC。
[0011]在其中一个实施例中，所述切换开关为继电器。
[0012]在其中一个实施例中，所述信号处理模块还包括连接各所述ADC的HADC。
[0013]在其中一个实施例中，数字板卡通道电平精度测试装置还包括控制模块，所述控制模块分别连接所述切换开关矩阵、所述ADC和所述HADC。
[0014]在其中一个实施例中，所述信号处理模块连接万用表。
[0015]本申请第二方面提供一种测试机，包括数字板卡和上述的数字板卡通道电平精度测试装置。
[0016]在其中一个实施例中，测试机还包括上位机、通信板卡和背板，所述上位机连接所
述通信板卡，所述背板连接所述通信板卡和所述数字板卡。
[0017]上述数字板卡通道电平精度测试装置及测试机，将切换开关矩阵连接对应数字板卡的数字通道，切换输出数字板卡的数字通道的电平信号，并利用信号处理模块并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度，可对多数字板卡进行并行测试，提高了测试效率。
附图说明
[0018]图1为一实施例中数字板卡通道电平精度测试装置的结构示意图；
[0019]图2为一实施例中同组数字通道的自测试循环矩阵原理示意图。
[0020]附图标记说明：110、切换开关矩阵；112、切换开关；114、多路选择器；120、信号处理模块；130、控制模块；140、万用表。
具体实施方式
[0021]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0022]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。
[0023]可以理解，本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。举例来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一电阻称为第二电阻，且类似地，可将第二电阻称为第一电阻。第一电阻和第二电阻两者都是电阻，但其不是同一电阻。
[0024]可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
[0025]在一个实施例中，如图1所示，提供了一种数字板卡通道电平精度测试装置，包括：切换开关矩阵110和信号处理模块120，其中：
[0026]切换开关矩阵110连接对应数字板卡的数字通道，切换输出数字板卡的数字通道的电平信号；信号处理模块120连接切换开关矩阵110，并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度。
[0027]其中，数字板卡的数量可以是两个，也可以是两个以上。如图1所示，数字板卡包括数字板卡1、数字板卡2和数字板卡3。切换开关矩阵110的数量可以与数字板卡的数量相同，也可以与数字板卡的数量不同。若切换开关矩阵110的数量与数字板卡的数量相同，则每个切换开关矩阵110与对应一个数字板卡的每个数字通道连接；若切换开关矩阵110的数量与数字板卡的数量不同，则可以是部分切换开关矩阵110与多个数字板卡的每个数字通道连接，也可以是一个数字板卡的每个数字通道与多个切换开关矩阵110连接。具体地，将切换开关矩阵110连接对应数字板卡上的每个数字通道，通过调节切换开关矩阵110中的切换开关，可分别切换到同一数字板卡内各数字通道的电平信号输出至信号处理模块120进行电平精度并行测试。本实施例中，切换开关矩阵110的数量与数字板卡的数量相同，且每个切换开关矩阵110与对应一个数字板卡的所有数字通道连接，方便进行通道输出切换。
[0028]进一步地，切换开关矩阵110中的切换开关，可以是采用手动开关，也可以是采用电控开关，电控开关可以是继电器或其他控制开关，本实施例中，切换开关矩阵110中的切换开关为继电器，切换控制简便可靠。
[0029]上述数字板卡通道电平精度测试装置，将切换开关矩阵110连接对应数字板卡的数字通道，切换输出数字板卡的数字通道的电平信号，并利用信号处理模块120并行测试各数字板卡的多个数字通道的电平精度，可对多个数字板卡进行并行测试，提高了测试效率。
[0030]信号处理模块120的具体结构并不唯一，在一个实施例中，如图1所示，信号处理模块120包括ADC(Analog to Digital Converter，模数转换器)，ADC的数量与切换开关矩阵110的数量相同，且各ADC分别连接对应一切换开关矩阵110。切换开关矩阵110输出的电平信号发送至ADC，由ADC并行测试数字板卡的输出值。
[0031]进一步地，如图2所示，切换开关矩阵110包括切换开关112和多路选择器114，切换开关112的数量为两个以上，且切换开关112包括基准开关和自测试循环开关。各切换开关112的动触点分别连接数字板卡的数字通道，各切换开关112的第一静触点相连接；基准开关的第二静触点连接ADC，自测试本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种数字板卡通道电平精度测试装置，其特征在于，包括：切换输出数字板卡的数字通道的电平信号的切换开关矩阵，所述切换开关矩阵连接对应数字板卡的数字通道；并行测试各数字板卡的数字通道的电平精度的信号处理模块，所述信号处理模块连接所述切换开关矩阵。2.根据权利要求1所述的数字板卡通道电平精度测试装置，其特征在于，所述切换开关矩阵的数量与所述数字板卡的数量相同，各所述切换开关矩阵分别连接对应一所述数字板卡的数字通道，且各所述切换开关矩阵连接所述信号处理模块。3.根据权利要求2所述的数字板卡通道电平精度测试装置，其特征在于，所述信号处理模块包括ADC，所述ADC的数量与所述切换开关矩阵的数量相同，且各所述ADC分别连接对应一所述切换开关矩阵。4.根据权利要求3所述的数字板卡通道电平精度测试装置，其特征在于，所述切换开关矩阵包括多路选择器和两个以上的切换开关，且所述切换开关包括基准开关和自测试循环开关；各所述切换开关的动触点分别连接所述数字板卡的数字通道，各所述切换开关的第一静触点相连接...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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