本实用新型专利技术提供一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪，属于体外诊断设备技术领域，包括第一反射光耦及第二反射光耦，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦之间设置有待检测区，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦均朝向所述待检测区进行照射；所述第一反射光耦包括第一发光器及第一受光器，所述第二反射光耦包括第二发光器及第二受光器，所述第一受光器设置在所述第二发光器的照射范围外，所述第二受光器设置在所述第一发光器的照射范围外。通过对第一反射光耦和第二反射光耦的照射范围与受光器之间互相避让，避免两个光耦光信号相互干涉情况的出现，提高了位置检测系统检测的精准度，提升位置检测系统工作流程的顺畅性。性。性。
【技术实现步骤摘要】
一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪
[0001]本技术属于体外诊断设备
，特别是涉及一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪。
技术介绍
[0002]现有的样本分析仪的检测装置一般包含槽型光耦和激光反射光耦两款检测装置，现有分析仪有仅使用激光反射光耦检测有无样本架和托盘的，也有样本分析仪同时使用槽型光耦和激光反射光耦配合进行检测，利用槽型光耦检测有无托盘，利用激光反射光耦检测有无样本架。
[0003]如果仅使用激光反射光耦检测有无样本架和托盘，检测托盘的光耦和检测样本架的光耦容易产生干涉，如果使用槽型光耦检测托盘的有无，同时使用反射光耦检测样本架的有无，可以避免光耦和光耦之间干涉的问题，但是会引入新的问题，因槽型光耦需要放置在托盘的底部检测有无托盘，由于托盘常需拿取更换，且槽型光耦特别容易受有机尘土的影响导致光耦镜头被污染，导致槽型光耦发光器发生光散射或者被尘土遮蔽光信号，从而造成光耦的损坏或者信号的误判。
技术实现思路
[0004]鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪，用于解决现有技术检测光耦之间的光信号相互干涉的问题。
[0005]为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种位置检测系统，包括第一反射光耦及第二反射光耦，第一反射光耦及第二反射光耦之间设置有待检测区，第一反射光耦及第二反射光耦均朝向待检测区进行照射；第一反射光耦包括第一发光器及第一受光器，第二反射光耦包括第二发光器及第二受光器，第一受光器设置在第二发光器的照射范围外，第二受光器设置在第一发光器的照射范围外。
[0006]进一步地，第一反射光耦至少为两个，各个第一反射光耦沿第一方向依次设置且各个第一反射光耦的照射方向之间互相平行；第二反射光耦沿第一方向移动，第二反射光耦的照射范围在移动过程中形成扫掠范围，第一受光器在扫掠范围之外，第二受光器的移动轨迹在第一反射光耦的照射范围之外。
[0007]进一步地，第一反射光耦的照射方向在第一方向上的投影与第二反射光耦的照射方向在第一方向上的投影之间存在夹角。
[0008]进一步地，第一反射光耦的照射方向在第一方向上的投影与第二反射光耦的照射方向在第一方向上的投影之间的夹角为15
°
。
[0009]进一步地，在第一方向上，第一发光器投影与第二发光器投影之间的连线为发光器连线，第一受光器在第一方向上的投影及第二受光器在第一方向上的投影分别设置在发光器连线的两侧；或者，在第一方向上，第一受光器投影与第二受光器投影之间的连线为受光器连线，第一发光器在第一方向上的投影及第二发光器在第一方向上的投影分别位于受
光器连线的两侧。
[0010]本技术还提供一种样本输送系统，包括样本存放区、接口单元区及转运单元，还包括上述的位置检测装置，样本存放区为待检测区；样本存放区内设置有存放模块，存放模块用于存放样本架，转运单元用于在存放模块及接口单元区之间转运样本架，第一反射光耦检测存放模块的位置，第二反射光耦设置在转运单元上，用于检测存放模块中的样本架。
[0011]进一步地，样本存放区内对应于存放模块设置有用于锁止存放模块的锁止单元，锁止单元包括锁紧状态及开启状态，当锁止单元为锁紧状态时，锁止单元将存放模块锁止在样本存放区，当锁止单元为开启状态时，存放模块与样本存放区之间的连接分离。
[0012]进一步地，锁止单元包括驱动部、限位部，以及用于对限位部的位置进行检测的检测光耦，驱动部驱动限位部运动，存放模块上设置有与限位部配合的卡槽，卡槽设置在限位部的运动轨迹上，当限位部进入卡槽时，锁止单元为锁紧状态，当限位部离开卡槽时，锁止单元为开启状态。
[0013]进一步地，还包括用于存放急诊样本的急诊模块，急诊模块设置在样本存放区，位置检测系统还包括第三反射光耦，第三反射光耦包括第三发光器及第三受光器，第三受光器设置在第二发光器的照射范围外，第二受光器设置在第三发光器的照射范围外。
[0014]本技术还提供一种样本分析仪，包括分析系统及上述样本输送系统，分析系统用于对样本输送系统中的样本进行分析检测。
[0015]如上所述，本技术的一种位置检测系统、样本输送系统及样本分析仪，具有以下有益效果：
[0016]通过对第一反射光耦和第二反射光耦的照射范围与受光器之间互相避让，避免两个光耦光信号相互干涉情况的出现，提高了位置检测系统检测的精准度，提升位置检测系统工作流程的顺畅性。因此，两个光耦之间也无需采用不同的波段和种类，解决了安装不同波段和种类光耦增大物料及人力维护成本的问题，在一定程度上也降低反射光耦安装及维护的成本。
附图说明
[0017]图1为本技术实施例样本分析仪的剖视图。
[0018]图2为本技术实施例转运架的结构示意图。
[0019]图3为本技术实施例样本分析仪的俯视图。
[0020]图4为本技术实施例中模拟光束的示意图其一。
[0021]图5为本技术实施例中模拟光束的示意图其二。
[0022]图6为本技术实施例中模拟光束的示意图其三。
[0023]图7为本技术实施例样本分析仪无托盘时的光束模拟图。
[0024]图8为本技术实施例第一反射光耦的结构示意图。
[0025]图9为本技术实施例第二反射光耦的结构示意图。
[0026]图10为本技术实施例急诊样本放置区的正视图。
[0027]图11为本技术实施例急诊样本放置区感应器的结构示意图。
[0028]图12为本技术实施例锁止单元的结构示意图。
[0029]附图标记说明：1、固定板；2、第二反射光耦；3、急诊样本放置区；4、模拟光束；5、常规样本放置区；6、转运架；7、第一反射光耦；8、第三反射光耦；9、第一发光器；10、第一受光器；11、样本架；12、第三受光器；13、底板；14、接口单元区；15、锁止单元；16、限位部；17、挡光片；18、转动电机；19、电机支架；20、卡槽；21、托盘；22、转运通道；23、检测光耦；24、第二发光器；25、第二受光器；26、第三发光器。
具体实施方式
[0030]以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效。
[0031]请参阅图1至图12。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种位置检测系统，其特征在于：包括第一反射光耦及第二反射光耦，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦之间设置有待检测区，所述第一反射光耦及所述第二反射光耦均朝向所述待检测区进行照射；所述第一反射光耦包括第一发光器及第一受光器，所述第二反射光耦包括第二发光器及第二受光器，所述第一受光器设置在所述第二发光器的照射范围外，所述第二受光器设置在所述第一发光器的照射范围外。2.根据权利要求1所述的位置检测系统，其特征在于：所述第一反射光耦至少为两个，各个所述第一反射光耦沿第一方向依次设置且各个所述第一反射光耦的照射方向之间互相平行；所述第二反射光耦沿所述第一方向移动，所述第二反射光耦的照射范围在移动过程中形成扫掠范围，所述第一受光器在所述扫掠范围之外，所述第二受光器的移动轨迹在所述第一反射光耦的照射范围之外。3.根据权利要求2所述的位置检测系统，其特征在于：所述第一反射光耦的照射方向在所述第一方向上的投影与所述第二反射光耦的照射方向在所述第一方向上的投影之间存在夹角。4.根据权利要求3所述的位置检测系统，其特征在于：所述第一反射光耦的照射方向在所述第一方向上的投影与所述第二反射光耦的照射方向在所述第一方向上的投影之间的夹角为15
°
。5.根据权利要求2～4任一项所述的位置检测系统，其特征在于：在所述第一方向上，所述第一发光器投影与所述第二发光器投影之间的连线为发光器连线，所述第一受光器在所述第一方向上的投影及所述第二受光器在所述第一方向上的投影分别设置在所述发光器连线的两侧；或者，在所述第一方向上，所述第一受光器投影与所述第二受光器投影之间的连线为受光器连线，所述第一发光器在所述第一方向上的投影及所述第二发光器在所述第一方向上的投影分别位于所述受光器连线的两侧。6.一种样本输送系统，其特征在于，包括样本存放区、接口单元区及转运单元，还包括如权利要求1～5任一项所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈章维，刘希凡，
申请(专利权)人：中元汇吉生物技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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