铁芯片测量机构制造技术

本实用新型专利技术公开了铁芯片测量机构，包括固定在工作台上的外支架、被外支架包围的支架组合，支架组合上铰接有一对并列的L形架，L形架倾斜设置，L形架倚靠在外支架上，每一L形架上设有压紧用气缸，压紧用气缸的活塞杆连接有压块。若干硅钢片叠加放置在一对并列的L形架上，压紧用气缸驱动压块，压块压紧叠加的硅钢片。由于一对L形架倾斜设置，因此，叠加在一对L形架上的硅钢片倾斜，如此，在压块压紧硅钢片的情况下，工人能够方便地测量硅钢片的厚度，且利于测量结果的准确。利于测量结果的准确。利于测量结果的准确。

【技术实现步骤摘要】
铁芯片测量机构


[0001]本技术涉及变压器生产设备，具体涉及变压器铁芯片的生产设备。

技术介绍

[0002]变压器的铁芯，由若干硅钢片叠加而成。若干硅钢片叠加的厚度需要经过测量才能确定，按常规，工人用尺对叠加的硅钢片进行测量，测量的地方是工作台，若干硅钢片叠加在工作台上，工人用尺对其测量，不仅操作麻烦，而且测量结果不一定准确。

技术实现思路

[0003]本技术所解决的技术问题：工人利用常规手段测量叠加硅钢片的厚度，不仅操作麻烦，而且测量结果不一定准确。
[0004]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：铁芯片测量机构，包括固定在工作台上的外支架、被外支架包围的支架组合，支架组合上铰接有一对并列的L形架，L形架倾斜设置，L形架倚靠在外支架上，每一L形架上设有压紧用气缸，压紧用气缸的活塞杆连接有压块。
[0005]若干硅钢片叠加放置在一对并列的L形架上，压紧用气缸驱动压块，压块压紧叠加的硅钢片。由于一对L形架倾斜设置，因此，叠加在一对L形架上的硅钢片倾斜，如此，在压块压紧硅钢片的情况下，工人能够方便地测量硅钢片的厚度，且利于测量结果的准确。
附图说明
[0006]下面结合附图对本技术做进一步的说明：
[0007]图1为铁芯片测量机构的示意图；
[0008]图2为图1的俯视图；
[0009]图3为图1的右视图。
[0010]图中符号说明：
[0011]10、外支架；
[0012]20、第一支架；21、压紧用气缸；22、压块；23、第一L形架；24、第二L形架；25、活动块；26、固定在第一L形架旁侧的定位块，用于定位叠加的硅钢片，叠加的硅钢片的一端对齐在该定位块上；
[0013]30、第二支架；31、立式导向条；32、驱动用气缸；33、链轮；34、链条；35、滑块；
[0014]40、第三支架；41、横向导轨。
具体实施方式
[0015]结合图1至图3，铁芯片测量机构，包括固定在工作台上的外支架10、被外支架包围的支架组合，支架组合上铰接有一对并列的L形架，L形架倾斜设置，L形架倚靠在外支架上，每一L形架上设有压紧用气缸21，压紧用气缸的活塞杆连接有压块22。
[0016]若干硅钢片叠加放置在一对并列的L形架上，具体叠加在L形架的直角处，一对L形架支撑在一叠硅钢片的两端处。压紧用气缸21驱动压块22，压块压紧叠加的硅钢片。由于一对L形架倾斜设置，因此，叠加在一对L形架上的硅钢片倾斜，工人在一叠硅钢片的中部位置用尺测量该叠硅钢片的厚度。
[0017]一对L形架包括第一L形架23和第二L形架24，支架组合包括横向设置的第一支架20，第一L形架铰接在第一支架上，第二L形架铰接在活动块25上，活动块配合在第一支架上，第二L形架能够靠拢或远离第一L形架。活动块25能够沿第一支架20横向位移，带动第二L形架24位移，如此，一对L形架的距离得到调整，以支撑不同长度的硅钢片。
[0018]支架组合包括第二支架30，第二支架上设有立式导向条31，第一支架20活动配合在立式导向条上，第二支架上设有驱动用气缸32，驱动用气缸与第一支架之间连接有传动机构。驱动用气缸32驱动传动机构，传动机构驱动第一支架20，第一支架沿立式导向条31升降。一对L形架随第一支架20升降，以适应不同身高的测量者。
[0019]作为一种选择，所述传动机构包括安装在第二支架30上的链轮33、与链轮配合的链条34，链条的一端与第一支架20连接，链条的另一端与驱动用气缸32连接。驱动用气缸32伸展，活塞杆驱动链条34，链条驱动第一支架20，第一支架沿立式导向条31上升。驱动用气缸32收缩，在重力作用下，第一支架20沿立式导向条31下降。
[0020]支架组合包括第三支架40，第三支架固定在工作台上，第二支架30活动配合在第三支架上。第二支架30上设有滑块35，第三支架40上设有横向导轨41，滑块与横向导轨41配合，第二支架30能够相对第三支架40前后位移，带动第一支架20同步位移，而外支架10固定不动，如此，倚靠在外支架10上的一对L形架的倾斜度得到调整，以适应不同的测量者。
[0021]以上内容仅为本技术的较佳实施方式，对于本领域的普通技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.铁芯片测量机构，包括固定在工作台上的外支架(10)、被外支架包围的支架组合，其特征在于：支架组合上铰接有一对并列的L形架，L形架倾斜设置，L形架倚靠在外支架上，每一L形架上设有压紧用气缸(21)，压紧用气缸的活塞杆连接有压块(22)。2.如权利要求1所述的铁芯片测量机构，其特征在于：一对L形架包括第一L形架(23)和第二L形架(24)，支架组合包括横向设置的第一支架(20)，第一L形架铰接在第一支架上，第二L形架铰接在活动块(25)上，活动块配合在第一支架上，第二L形架能够靠拢或远离第一L形架。3.如权利要求2所述的铁芯片测量机构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：王成，
申请(专利权)人：艾柯电器苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：