一种用于IVD成像检测的线光源装置及检测系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于IVD成像检测的线光源装置及检测系统，其中线光源装置包括检测载物台和线光源，该线光源位于所述检测载物台上方，该线光源的光线出射端朝向所述检测载物台，所述线光源照射到所述检测载物台上形成的光斑亮区各点到所述线光源的距离相等。本实用新型专利技术将线光源作为照射检测载物台的光源形式，能够使被检测的样品成像观测区照度均匀，减小因为点光源照射不均匀导致的系统误差，并使观测区与周围区域明显区分开，减少干扰，从而使基于图像分析的IVD检测结果更精确。而使基于图像分析的IVD检测结果更精确。而使基于图像分析的IVD检测结果更精确。

【技术实现步骤摘要】
一种用于IVD成像检测的线光源装置及检测系统


[0001]本技术属于生物成像检测
，具体涉及一种用于IVD成像检测的线光源装置及检测系统。

技术介绍

[0002]体外诊断(IVD)技术和产业在近年来得到飞速发展，并向着便捷、易用、精准的方向不断进步，因此大量融合生物、医学、化学、光学和电学技术手段，将针对目标物质的检测反应转换为更易于人类识别的信号。例如，基于荧光成像的检测技术就是一类通过检测荧光物质或荧光基团的荧光强弱，来间接定性或定量检测目标物质的量或浓度的手段。由于荧光物质需要在特定的激发光照射下才能发射荧光，因此激发光的照度将影响检测结果，特别是样品被测区域的不同位置光照均匀性非常重要，如需要进行对检测结果进行对比判断或定量分析的检测卡的目标区域。目前常用的检测装置采用多个点光源呈环形排布，以使目标区域各点的激发光照射强度尽可能接近，但实际使用时难以达到预期。在自动化检测分析时，基于显色反应的检测卡也需要在光照下拍摄照片，通过图像分析进行定量判断，也存在光照不均匀导致影响分析结果的问题。从设备的角度提高目标区域光照强度一致性有助于进一步提高光学成像分析结果的精确性。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术的目的之一在于提供一种用于IVD成像检测的线光源装置，通过线光源照射检测载物台，能够使被检测的样品成像观测区照度均匀，检测结果更精确。
[0004]为实现上述目的，本技术技术方案如下：
[0005]一种用于IVD成像检测的线光源装置，其关键在于，包括检测载物台和线光源，该线光源位于所述检测载物台上方，该线光源的光线出射端朝向所述检测载物台，所述线光源照射到所述检测载物台上形成的光斑亮区各点到所述线光源的距离相等。
[0006]作为优选，上述线光源支撑在距离调节机构上，该距离调节机构用于调节所述线光源的光线出射端与所述检测载物台的距离；
[0007]所述线光源为激光光源。
[0008]作为优选，上述距离调节机构为直线滑动机构或直线伸缩机构，所述距离调节机构的活动部的调节方向与所述线光源的光线出射方向平行，所述距离调节机构的活动部上设置有所述线光源，所述线光源的出射光线倾斜向下照射到所述检测载物台上。
[0009]作为优选，上述直线滑动机构为滑轨滑块组件，包括相互配合的滑动导轨和滑块，其中所述滑动导轨通过支架固定设置并与所述线光源的光线出射方向平行，所述滑块上固定设置有所述线光源，所述滑块与所述滑动导轨之间设有锁定机构。
[0010]作为优选，上述直线伸缩机构为滑轨组件，包括相互滑动配合的第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨通过支架固定设置，所述第二滑轨滑动设置在所述第一滑轨上，二者之间设有锁紧机构，所述第二滑轨的前端设置有所述线光源。
[0011]作为优选，上述距离调节机构包括升降机构，该升降机构竖向设置，该升降机构上端通过转动调节机构设置有所述线光源，所述转动调节机构用于调节所述线光源的光线出射角度。
[0012]作为优选，上述转动调节机构包括竖向设置的安装板，该安装板上开设有弧形孔；
[0013]在所述安装板上设置有转轴，该转轴的轴心线经过所述弧形孔对应的圆心；
[0014]所述线光源可转动地安装在所述转轴上，所述线光源的壳体还通过定位螺栓与所述弧形孔连接，所述定位螺栓穿设在所述弧形孔内，通过松解所述定位螺栓使其沿着所述弧形孔滑动，通过紧固所述定位螺栓以使所述线光源的光线出射角度固定。
[0015]作为优选，上述检测载物台上设有至少一个样品定位结构。
[0016]本技术的目的之二在于提供一种检测系统。
[0017]其技术方案如下：
[0018]一种检测系统，包括如上任意一项所述的一种用于IVD成像检测的线光源装置，其关键在于，还包括成像组件，所述成像组件包括镜头和感光模块，所述镜头位于所述检测载物台正上方，所述镜头的光轴与所述检测载物台垂直，从所述检测载物台射出的光线经所述镜头到达所述感光模块；
[0019]在所述镜头光轴外设置有所述线光源。
[0020]作为优选，上述检测系统还包括滤光元件，该滤光元件或位于所述检测载物台与所述镜头之间的光路上，或位于所述镜头与所述感光模块之间的光路上。
[0021]有益效果：本技术将线光源作为照射检测载物台的光源形式，能够使被检测的样品成像观测区照度均匀，减小因为点光源照射不均匀导致的系统误差，并使观测区与周围区域明显区分开，减少干扰，从而使基于图像分析的IVD检测结果更精确。
附图说明
[0022]图1为本技术的检测系统的第一种实施方式的结构示意图；
[0023]图2为本技术的检测系统的第二种实施方式的结构示意图；
[0024]图3为本技术的检测系统的第三种实施方式的结构示意图；
[0025]图4为本技术的线光源发出的光束照射到检测载物台的示意图；
[0026]图5为设有滤光元件的检测系统的示意图。
具体实施方式
[0027]以下结合实施例和附图对本技术作进一步说明。
[0028]实施例一
[0029]一种用于IVD成像检测的线光源装置，包括检测载物台1和线光源2，该线光源2位于所述检测载物台1上方，该线光源2的光线出射端朝向所述检测载物台1，所述线光源2照射到所述检测载物台1上形成的光斑亮区各点到所述线光源2的距离相等，也即，线光源2的出射光束中心线位于与检测载物台1表面相平行的平面内。由于线光源2照射到检测载物台1上形成的光斑亮区是一条光斑线段，因此这种照射角度使光斑线段上各点的光照强度基本一致。
[0030]所述线光源2可以是激光光源，由激光点光源和线激光元件组成，线激光元件可以
是线形激光发生器，也即鲍威尔棱镜。线光源2也可以是LED灯。
[0031]所述线光源2支撑在距离调节机构上，该距离调节机构用于调节所述线光源2的光线出射端与所述检测载物台1的距离。
[0032]所述距离调节机构可以是直线滑动机构3或直线伸缩机构4，所述距离调节机构的活动部的调节方向与所述线光源2的光线出射方向平行，所述距离调节机构的活动部上设置有所述线光源2，所述线光源2的出射光线倾斜向下照射到所述检测载物台1上。
[0033]图1示意直线滑动机构3为滑轨滑块32组件，包括相互配合的滑动导轨31和滑块32，其中所述滑动导轨31通过支架5固定设置并与所述线光源2的光线出射方向平行，所述滑块32上固定设置有所述线光源2，所述滑块32与所述滑动导轨31之间设有锁定机构，如锁定螺母。
[0034]图2示意直线伸缩机构4为滑轨组件，包括相互滑动配合的第一滑轨41和第二滑轨42，所述第一滑轨41通过支架5固定设置，所述第二滑轨42滑动设置在所述第一滑轨41上，二者之间设有锁紧机构，所述第二滑轨42的前端设置有所述线光源2。
[0035]在另一种实施方式中，如图3，距离调节机构包括升降机构6，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于IVD成像检测的线光源装置，其特征在于：包括检测载物台(1)和线光源(2)，该线光源(2)位于所述检测载物台(1)上方，该线光源(2)的光线出射端朝向所述检测载物台(1)，所述线光源(2)照射到所述检测载物台(1)上形成的光斑亮区各点到所述线光源(2)的距离相等。2.根据权利要求1所述的一种用于IVD成像检测的线光源装置，其特征在于：所述线光源(2)支撑在距离调节机构上，该距离调节机构用于调节所述线光源(2)的光线出射端与所述检测载物台(1)的距离；所述线光源(2)为激光光源。3.根据权利要求2所述的一种用于IVD成像检测的线光源装置，其特征在于：所述距离调节机构为直线滑动机构(3)或直线伸缩机构(4)，所述距离调节机构的活动部的调节方向与所述线光源(2)的光线出射方向平行，所述距离调节机构的活动部上设置有所述线光源(2)，所述线光源(2)的出射光线倾斜向下照射到所述检测载物台(1)上。4.根据权利要求3所述的一种用于IVD成像检测的线光源装置，其特征在于：所述直线滑动机构(3)为滑轨滑块(32)组件，包括相互配合的滑动导轨(31)和滑块(32)，其中所述滑动导轨(31)通过支架(5)固定设置并与所述线光源(2)的光线出射方向平行，所述滑块(32)上固定设置有所述线光源(2)，所述滑块(32)与所述滑动导轨(31)之间设有锁定机构。5.根据权利要求3所述的一种用于IVD成像检测的线光源装置，其特征在于：所述直线伸缩机构(4)为滑轨组件，包括相互滑动配合的第一滑轨(41)和第二滑轨(42)，所述第一滑轨(41)通过支架(5)固定设置，所述第二滑轨(42)滑动设置在所述第一滑轨(41)上，二者之间设有锁紧机构，所述第二滑轨(42)的前端设置有所述线光源(2)。6.根据权利要求2所述的一种用于IVD成像检测的线...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志芳，周平，
申请(专利权)人：王志芳，
类型：新型
国别省市：