DRC测试版图库的自动构造方法及DRC方法、系统、可读存储介质技术方案

本发明专利技术提供一种DRC测试版图库的自动构造方法及DRC方法、系统、可读存储介质，能够基于python的工具包，自动、全面、准确、高效地产生测试参数列表，并进一步基于测试参数列表自动产生DRC测试版图库，可有效节约人力及EDA等工具许可成本。进一步地，还可以多进程自动对DRC测试版图库进行DRC检查，且自动读取DRC检查结果，准确快速，可以覆盖所有的DRC项目。可以覆盖所有的DRC项目。可以覆盖所有的DRC项目。

【技术实现步骤摘要】
DRC测试版图库的自动构造方法及DRC方法、系统、可读存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片版图验证
，特别涉及一种DRC测试版图库的自动构造方法及DRC方法、系统、可读存储介质。

技术介绍

[0002]集成电路芯片在批量制造前，都需要对芯片版图进行设计规则检查(Design Rule Check)，只有通过设计规则的验证才能保证流片的成功，这一步也叫做版图验证(Layout Verification)。设计规则是版图中width(宽度)、space(间距)、length(长度)等各种几何参数的规范。设计规则检查是检查版图中各相关层上图形的各种尺寸保证无一违法预订的设计规则。
[0003]然而现有的DRC方法需要依赖EDA等版图工具且工作量大、耗时长、容易出现遗漏。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种DRC测试版图库的自动构造方法及DRC方法、系统、可读存储介质，能够全面、准确、高效地产生DRC测试版图库，有效节约人力及版图设计工具许可成本。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供一种DRC测试版图库的自动构造方法，其包括：
[0006]基于python工具包，结合版图验证工具用于版图识别的关键字解析各条设计规则，以提取关键数据，来自动创建与相应的版图设计有关的所有设计规则的测试参数列表；以及，
[0007]基于所述python工具包，并根据所述测试参数列表，自动产生DRC测试版图库。
[0008]可选地，所述关键字包括所述版图设计中同一层图形的相关几何参数和不同层图形之间相关的几何参数。
[0009]可选地，所述测试参数列表中含有以下信息：设计规则名称、后续会创建的测试版图标号、所述版图设计中的图层名称、后续是否需要创建特殊版图(例如overlap/singlepoint/diffnet等)、对所述版图设计中某图层特别设置的约束条件(constraint)、各个几何参数及其对应的关键数据。
[0010]可选地，基于所述python工具包为每条所述设计规则构造的DRC测试版图被分为两类：一类是正例及伪错测试向量，一个所述正例及伪错测试向量由一组具有符合设计规则要求的正确特征的DRC测试版图组成；另一类是反例测试向量，一个所述反例测试向量由一组具有不满足设计规则要求的错误特征的DRC测试版图组成。
[0011]可选地，所述版图设计所需要满足的所有设计规则被划分为至少一种设计规则类型，所述自动构造方法还包括：先在相应的用户GUI界面上选择一种或多种所述设计规则类型，再基于所述python工具包自动解析所选择的设计规则类型下的各条设计规则，生成不同设计规则类型的测试参数列表，后基于所述python工具包并根据所选择的相应所述设计
规则类型的测试参数列表自动生成所述设计规则类型的DRC测试版图库。
[0012]基于同一专利技术构思，本专利技术还提供一种DRC方法，其包括：
[0013]利用版图验证工具对权利要求1
‑
6中任一项所述的DRC测试版图库的自动构造方法所构造的DRC测试版图库中的各个DRC测试版图进行DRC检查；
[0014]自动化分析所述DRC检查的结果，并给出总结报告。
[0015]可选地，基于所述DRC测试版图库的自动构造方法中使用的python工具包，自动化分析所有DRC检查结果并给出总结报告。
[0016]基于同一专利技术构思，本专利技术还提供一种系统，其包括python工具包和版图验证工具，其中：
[0017]所述python工具包用于结合所述版图验证工具用于版图识别的关键字解析各条设计规则，以提取关键数据，来自动创建与相应的版图设计有关的所有设计规则的测试参数列表，并进一步根据所述测试参数列表，自动产生DRC测试版图库；
[0018]所述版图验证工具用于对所述python工具包产生的DRC测试版图库中的各个DRC测试版图进行DRC检查。
[0019]可选地，所述python工具包还用于自动化分析所述版图验证工具产生的DRC检查结果，并给出总结报告。
[0020]基于同一专利技术构思，本专利技术还提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在被一处理器执行时，实现本专利技术所述的DRC测试版图库的自动构造方法，或者，实现本专利技术所述的DRC方法。
[0021]与现有技术相比，本专利技术的技术方案，能够基于python的工具包，自动、全面、准确、高效地产生测试参数列表，并进一步基于测试参数列表自动产生DRC测试版图库，可有效节约人力及EDA等工具许可成本。进一步地，还可以多进程自动对DRC测试版图库进行DRC检查，且自动读取DRC检查结果，准确快速，可以覆盖所有的DRC项目。
附图说明
[0022]本领域的普通技术人员将会理解，提供的附图用于更好地理解本专利技术，而不对本专利技术的范围构成任何限定。其中：
[0023]图1是现有的一种DRC方法的流程示意图及各步骤的耗时情况。
[0024]图2是一条设计规则所需的图形模板的结构示意图。
[0025]图3是本专利技术具体实施例的DRC方法的流程示意图及各步骤的耗时情况。
[0026]图4是本专利技术具体实施例的DRC方法中解析设计规则而提取的关键数据示意图。
[0027]图5是本专利技术具体实施例的DRC方法中解析参数列表生成的几何版图库示意图。
[0028]图6是本专利技术具体实施例的DRC方法中生成的总结报告示意图。
具体实施方式
[0029]在下文的描述中，给出了大量具体的细节以便提供对本专利技术更为彻底的理解。然而，对于本领域技术人员而言显而易见的是，本专利技术可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中，为了避免与本专利技术发生混淆，对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。应当理解的是，本专利技术能够以不同形式实施，而不应当解释为局限于这里提出的实
施例。相反地，提供这些实施例将使公开彻底和完全，并且将本专利技术的范围完全地传递给本领域技术人员。自始至终相同附图标记表示相同的元件。应当明白，当元件被称为"连接到"、“耦接”其它元件时，其可以直接地连接其它元件，或者可以存在居间的元件。相反，当元件被称为"直接连接到"其它元件时，则不存在居间的元件。在此使用时，单数形式的"一"、"一个"和"所述/该"也意图包括复数形式，除非上下文清楚的指出另外的方式。还应明白术语“包括”用于确定可以特征、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时，术语"和/或"包括相关所列项目的任何及所有组合。
[0030]请参考图1，现有的DRC方法一般包括以下步骤:
[0031]S1.1，依赖现有的EDA等版图工具，根据规则文件的描述，人工手动创建每种类型的设计规则(Design Rule)的图形模板，该步骤耗时7左右；
[0032]S1.2，根据设计规则，手动创建测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DRC测试版图库的自动构造方法，其特征在于，包括：基于python工具包，结合版图验证工具用于版图识别的关键字解析各条设计规则，以提取关键数据，来自动创建与相应的版图设计有关的所有设计规则的测试参数列表；以及，基于所述python工具包，并根据所述测试参数列表，自动产生DRC测试版图库。2.如权利要求1所述的自动构造方法，其特征在于，所述关键字包括所述版图设计中同一层图形的相关几何参数和不同层图形之间相关的几何参数。3.如权利要求1所述的自动构造方法，其特征在于，所述测试参数列表中含有以下信息：设计规则名称、后续会创建的测试版图标号、后续是否需要创建特殊版图、所述版图设计中的图层名称、对所述版图设计中某图层特别设置的约束条件、各个几何参数及其对应的关键数据。4.如权利要求2所述的自动构造方法，其特征在于，基于所述python工具包为每条所述设计规则构造的DRC测试版图被分为两类：一类是正例及伪错测试向量，一个所述正例及伪错测试向量由一组具有符合设计规则要求的正确特征的DRC测试版图组成；另一类是反例测试向量，一个所述反例测试向量由一组具有不满足设计规则要求的错误特征的DRC测试版图组成。5.如权利要求1
‑
4中任一项所述的自动构造方法，其特征在于，所述版图设计所需要满足的所有设计规则被划分为至少一种设计规则类型，所述自动构造方法还包括：先在相应的用户GUI界面上选择一种或多种所述设计规则类型，再基于所述python工具包自动解析所选择的设计规则类型下的各条设计规则，生...

【专利技术属性】
技术研发人员：周朱琴，刘坤，
申请(专利权)人：绍兴中芯集成电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：