一种集成电路测试治具制造技术

本发明专利技术属于测试治具领域，尤其是一种集成电路测试治具，针对现有的检测时若治具形成的压力过大则容易对集尘电路造成损伤，若相抵的压力较小，使得接触不紧密出现缝隙，或者集尘电路上沾染有灰尘杂质等未清理掉，则会直接影响到对集尘电路的电变量测量的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部固定连接有侧板，侧板的一侧开设有两个滑槽，两个滑槽内均滑动安装有滑块，两个滑块的一侧固定连接有同一个升降板，本发明专利技术在使用时可以有效的保证电连接的稳定性，同时具有保护机制，避免对集成电路形成伤害，且可以有效的对集成电路表面的浮尘杂质等清洁，有效的保证测量电变量作业的进行。业的进行。业的进行。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试治具


[0001]本专利技术涉及测试治具
，尤其涉及一种集成电路测试治具。

技术介绍

[0002]集成电路测试治具是一种用来测试集成电路的工具，通过将集成电路板放置在测试治具内部，使得集成电路板的测试接点与测试电路板的弧形凹陷电连接，对集成电路板进行相关的测试工作，例如电变量的测量；
[0003]现有的一些测试治具在使用时，若测试电路板与集成电路接触不紧密则容易出现缝隙导致检测不准，若接相抵的压力过大则容易对集尘电路造成损伤，且集尘电路上若沾染有灰尘杂质等未清理掉，同样也会影响到对集尘电路的电变量测量。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在检测时若治具形成的压力过大则容易对集尘电路造成损伤，若相抵的压力较小，使得接触不紧密出现缝隙，或者集尘电路上沾染有灰尘杂质等未清理掉，则会直接影响到对集尘电路的电变量测量的缺点，而提出的一种集成电路测试治具。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0006]一种集成电路测试治具，包括底座，所述底座的顶部固定连接有侧板，侧板的一侧开设有两个滑槽，两个滑槽内均滑动安装有滑块，两个滑块的一侧固定连接有同一个升降板，升降板的底部连接有测试电路板，测试电路板的底部设置有多个测试柱，升降板内设置有两个限位保护机构，底座的顶部设置有夹持机构，侧板内开设有第一传动腔，第一传动腔内转动安装有旋转杆，旋转杆的一端延伸至侧板的外侧并固定连接有第一手轮，侧板的一侧设置有除尘机构，旋转杆与除尘机构和滑块相配合。
[0007]优选的，所述夹持机构包括开设于底座顶部的两个滑块槽，两个滑块槽内均滑动安装有滑动块，两个滑动块的顶部均固定连接有夹持板，两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠，双向丝杠的一端延伸至底座的外侧并固定连接有第二手轮，两个滑动块上均开设有第一螺纹孔，双向丝杠螺纹安装与两个第一螺纹孔内，双向丝杠可以通过第一螺纹孔带动滑动块位移。
[0008]优选的，两个滑槽内均转动安装有螺纹杆，两个滑块上均开设有第二螺纹孔，两个螺纹杆分别螺纹安装于两个第二螺纹孔内，旋转杆的外侧固定套设有两个第一锥齿轮，两个螺纹杆的顶端均延伸至第一传动腔内并固定连接有第二锥齿轮，两个第二锥齿轮分别与两个第一锥齿轮相啮合，螺纹杆可以通过第二螺纹孔带动滑块位移。
[0009]优选的，所述升降板上开设有两个第一滑孔，两个第一滑孔内均滑动安装有限位滑杆，两个限位滑杆的顶端均固定连接有限位块，两个限位滑杆的底端均与测试电路板的顶部连接，且两个限位滑杆的外侧均套设有复位弹簧，复位弹簧可以通过限位滑杆和限位块将形变反作用力传递至测试电路板上。
[0010]优选的，所述限位保护机构包括开设于升降板内的第二传动腔，升降板的一侧开设有与第二传动腔相接通的第二滑孔，第二滑孔内滑动安装有滑动杆，滑动杆的一端固定连接有卡齿，侧板的一侧固定连接有限位齿条，限位齿条与卡齿相配合，限位齿条可以将水平位移至一定距离的卡齿限制住。
[0011]优选的，所述限位保护机构还包括设置于测试电路板上的连接杆，连接杆的顶端延伸至第二传动腔内并转动连接有第一传动杆，第一传动杆的一端与滑动杆的一端转动连接，连接杆与升降板产生相对位移时可以通过第一传动杆带动滑动杆位移。
[0012]优选的，所述除尘机构包括设置于侧板上的输气筒，输气筒上连接有进气管和排气管，进气管上设置有单向进气阀，排气管上设置有单向排气阀，且排气管的一端连接有多通道喷头，高压气流经过多通道喷头后可以形成高速气流。
[0013]优选的，所述旋转杆的另一端延伸至侧板的外侧并固定连接有旋转板，旋转板上转动安装有第二传动杆，第二传动杆的一端转动连接有伸缩杆，伸缩杆滑动安装于输气筒上，且伸缩杆的底端延伸至输气筒内并连接有活塞，活塞滑动安装于输气筒内，伸缩杆可以带动活塞往复位移。
[0014]优选的，所述侧板的顶部开设有与第一传动腔相接通的连接孔，连接孔内滑动安装有连接滑杆，连接滑杆的顶端固定连接有顶板，连接滑杆的底端固定连接有弧形卡齿板，旋转杆的外侧固定套设有卡齿轮，弧形卡齿板与卡齿轮相配合，顶板上转动安装有活动杆，连接滑杆的外侧套设有形变弹簧，形变弹簧可以带动连接滑杆复位。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0016]1、本方案通过升降板和限位滑杆与测试电路板相配合，限位滑杆与复位弹簧和限位块相配合，当测试电路板通过测试柱与集成电路相抵时，此时升降板可以继续向下位移，使得复位弹簧产生形变，通过复位弹簧的形变力使得限位滑杆带动测试电路板与集成电路相抵，有效的保证其之间不会稳定的连接；
[0017]2、本方案通过连接杆和第一传动杆与滑动杆相配合，滑动杆通过卡齿与限位齿条相配合，使得测试电路板与升降板之间相互靠近之后，可以使得滑动杆带动卡齿水平位移，当卡齿位移至移动距离后会与限位齿条相抵，从而使得升降板被锁止住，避免升降板传递至测试电路板上的压力过大，致使测试电路板对集成电路过大的压力导致其受损；
[0018]3、本方案通过旋转板和第二传动杆与伸缩杆相配合，活塞和输气筒与单向进气阀和单向出气阀相配合，使得活塞可以实现往往的位移，从而使得输气筒可以源源不断的通过排气管向多通道喷头内输送气体，使得气体在高压力下从小管道内喷出，形成较大的风压，通过该气流风压对集成电路表面进行清洁，避免灰尘和杂质影响对电变量的测量。
[0019]本专利技术在使用时可以有效的保证电连接的稳定性，同时具有保护机制，避免对集成电路形成伤害，且可以有效的对集成电路表面的浮尘杂质等清洁，有效的保证测量电变量作业的进行。
附图说明
[0020]图1为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的结构示意图；
[0021]图2为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的侧板结构示意图；
[0022]图3为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的升降板与测试电路板连接的结构示
意图；
[0023]图4为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的除尘机构结构示意图；
[0024]图5为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的多通道喷头的立体结构示意图；
[0025]图6为本专利技术提出的一种集成电路测试治具的图2中A处放大结构示意图。
[0026]图中：1底座、2侧板、3滑块、4升降板、5测试电路板、6测试柱、7旋转杆、8第一手轮、9滑动块、10夹持板、11双向丝杠、12第二手轮、13螺纹杆、14第一锥齿轮、15第二锥齿轮、16限位滑杆、17限位块、18复位弹簧、19滑动杆、20卡齿、21限位齿条、22连接杆、23第一传动杆、24输气筒、26排气管、27多通道喷头、28旋转板、29第二传动杆、30伸缩杆、31活塞、32连接滑杆、33顶板、34弧形卡齿板、35卡齿轮、36活动杆、37形变弹簧。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试治具，包括底座(1)，其特征在于，所述底座(1)的顶部固定连接有侧板(2)，侧板(2)的一侧开设有两个滑槽，两个滑槽内均滑动安装有滑块(3)，两个滑块(3)的一侧固定连接有同一个升降板(4)，升降板(4)的底部连接有测试电路板(5)，测试电路板(5)的底部设置有多个测试柱(6)，升降板(4)内设置有两个限位保护机构，底座(1)的顶部设置有夹持机构，侧板(2)内开设有第一传动腔，第一传动腔内转动安装有旋转杆(7)，旋转杆(7)的一端延伸至侧板(2)的外侧并固定连接有第一手轮(8)，侧板(2)的一侧设置有除尘机构，旋转杆(7)与除尘机构和滑块(3)相配合。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于，所述夹持机构包括开设于底座(1)顶部的两个滑块槽，两个滑块槽内均滑动安装有滑动块(9)，两个滑动块(9)的顶部均固定连接有夹持板(10)，两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠(11)，双向丝杠(11)的一端延伸至底座(1)的外侧并固定连接有第二手轮(12)，两个滑动块(9)上均开设有第一螺纹孔，双向丝杠(11)螺纹安装与两个第一螺纹孔内。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于，两个滑槽内均转动安装有螺纹杆(13)，两个滑块(3)上均开设有第二螺纹孔，两个螺纹杆(13)分别螺纹安装于两个第二螺纹孔内，旋转杆(7)的外侧固定套设有两个第一锥齿轮(14)，两个螺纹杆(13)的顶端均延伸至第一传动腔内并固定连接有第二锥齿轮(15)，两个第二锥齿轮(15)分别与两个第一锥齿轮(14)相啮合。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于，所述升降板(4)上开设有两个第一滑孔，两个第一滑孔内均滑动安装有限位滑杆(16)，两个限位滑杆(16)的顶端均固定连接有限位块(17)，两个限位滑杆(16)的底端均与测试电路板(5)的顶部连接，且两个限位滑杆(16)的外侧均套设有复位弹簧(18)。5.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：石华平，肖佑，陆欣辰，范荣荣，吴亦然，
申请(专利权)人：江苏友润微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：