本实用新型专利技术为一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，属于分析检测领域；可以方便快捷的对样片进行脱模，操作简单，样片破损率低。技术方案包括压力机和压片模具。其中，所述压片模具包括：模具本体和脱模底板，模具本体整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽。脱模底板为板状结构，所述脱模底板活动设置于所述凹槽内，且所述脱模底板具有在所述凹槽内上下往复运行的趋势。所述压力机至少包括一个加压端头，所述加压端头外形与所述凹槽形状相适应。所述凹槽形状相适应。所述凹槽形状相适应。
【技术实现步骤摘要】
一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置
[0001]本技术为一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，属于分析检测领域。
技术介绍
[0002]对于采用X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的实验，针对氢氧化铝提出了一种直接压片的方法。
[0003]所谓的直接压片法是指将氢氧化铝试样研磨后，放置于模具内，通过压片机加压至35t，保持30S，形成样片，可以直接将样品置于X荧光机上进行测量。
[0004]氢氧化铝粉末制备样片需要自模具内取出，为避免污染样品，要求只能接触样片边缘。但是氢氧化铝粉末制备的样片稳定性差，脱模困难，接触样片的过程中还易导致样片破碎，检测难度较大。
技术实现思路
[0005]为解决上述技术问题，本技术提出一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，可以方便快捷的对样片进行脱模，操作简单，样片破损率低。
[0006]为实现上述技术目的，本技术提供一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，所述的X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置的技术方案包括压力机和压片模具。其中，所述压片模具包括：模具本体和脱模底板，模具本体整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽。脱模底板为板状结构，所述脱模底板活动设置于所述凹槽内，且所述脱模底板具有在所述凹槽内上下往复运行的趋势。所述压力机至少包括一个加压端头，所述加压端头外形与所述凹槽形状相适应。
[0007]优选地，所述模具本体包括位于所述凹槽下方的凹槽底板；所述凹槽底板上至少包括一个通孔，所述通孔内活动设置有推杆，所述推杆具有在上下往复运行的趋势，所述推杆被配置为驱动所述脱模底板在所述凹槽内上下往复运行。
[0008]优选地，所述通孔为螺纹孔，所述推杆为螺纹杆，所述推杆靠近所述凹槽底板的下侧面一端设置有一字形槽或者十字形槽，且所述推杆长度小于所述通孔长度。
[0009]优选地，所述凹槽底板上设置有开口向下的安装槽，所述安装槽的底面上设置有多个通孔。
[0010]所述安装槽内至少包括：主动齿轮和从动齿轮。其中，所述主动齿轮的中心线经过所述脱模底板的中心点，多个所述从动齿轮与所述主动齿轮啮合，所述从动齿轮中部设置有动力螺纹孔，每个所述从动齿轮的正上方设置一个通孔，且所述动力螺纹孔的中心线与所述通孔的中心线共线，所述推杆为螺纹杆，每个动力螺纹孔和对应的所述通孔内活动设置一个推杆。
[0011]优选地，所述凹槽的侧面从上至下向内倾斜。所述加压端头包括端头侧面，所述加压端头下压至所述凹槽内时，所述端头侧面具有与所述凹槽的侧面贴合的趋势。
[0012]优选地，所述脱模底板的外形与所述凹槽的结构相适应。所述脱模底板包括底板下端面和底板侧面，所述底板下端面与所述凹槽的底面一致，所述底板侧面具有与所述凹槽的侧面贴合的趋势。
[0013]本技术与现有技术相比具有如下有益效果：
[0014]本技术采用的脱模底板，完成氢氧化铝试样加压后，通过驱动脱模底板可以将氢氧化铝样片推出凹槽，可以减少检测人员触碰，避免污染样片同时减少因触碰造成的样片破碎的概率。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本技术的一种结构图；
[0017]图2为本技术的压片模具的一种结构图；
[0018]图3为本技术的模具本体的一种俯视图；
[0019]图4为本技术的压片模具的另一种结构图；
[0020]图5为本技术的模具本体的另一种俯视图；
[0021]图6为本技术的主动齿轮和从动齿轮布置的位置图；
[0022]图7为本技术的另一种结构图；
[0023]图8为本技术的压片模具的又一种结构图。
[0024]图中：1、压力机；2、压片模具；11、加压端头；21、模具本体；22、脱模底板；23、通孔；24、推杆；25、安装槽；211、凹槽；251、主动齿轮；252、从动齿轮。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0027]在当前对氢氧化铝快速测定—X射线荧光光谱分析法中，对氢氧化铝的样品提出
一种直接压片法的制备方法。
[0028]直接压片法的过程为：
[0029]S1、混合与研磨：称取约1og干燥试样放入碳化铐磨盘中，并用振动磨研磨至45μm以下。
[0030]S2、压片：将适量的试样倒入模具，以硼酸镶边，用压片机加压至35t，并保持30s，取出样片进行修边后，用吸耳球吹去附着粉样，然后在X荧光仪上进行测量。测量时，只能拿样片边缘，以避免测量面的玷污。
[0031]上述直接压片法存在样片在模具内难以脱模的问题，基于此，本技术提出一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，以下结合附图和实施例详细阐述：
[0032]实施例1
[0033]本实施例提供一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，如图1至图3所示，所述的X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置包括：压力机1和压片模具2。其中，所述压片模具2包括：模具本体21和脱模底板22，模具本体21整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽211。脱模底板22为板状结构，所述脱模底板22活动设置于所述凹槽211内，且所述脱模底板22具有在所述凹槽211内上下往复运行的趋势。所述压力机1至少包括一个加压端头11，所述加压端头11外形与所述凹槽211形状相适应。...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，包括：压力机和压片模具；所述压片模具包括：模具本体，整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽；脱模底板，为板状结构，所述脱模底板活动设置于所述凹槽内，且所述脱模底板具有在所述凹槽内上下往复运行的趋势；所述压力机至少包括一个加压端头，所述加压端头外形与所述凹槽形状相适应。2.根据权利要求1所述的一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，所述模具本体包括位于所述凹槽下方的凹槽底板，所述凹槽底板上至少包括一个通孔，所述通孔内活动设置有推杆，所述推杆具有在上下往复运行的趋势，所述推杆被配置为驱动所述脱模底板在所述凹槽内上下往复运行；所述通孔为螺纹孔，所述推杆为螺纹杆，所述推杆靠近所述凹槽底板的下侧面一端设置有一字形槽或者十字形槽，且所述推杆长度小于所述通孔长度。3.根据权利要求2所述的一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑中华，岳丽华，陈雅彬，
申请(专利权)人：内蒙古大唐国际呼和浩特铝电有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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