一种加热雾化芯片制造技术

技术编号:37815949 阅读:11 留言:0更新日期:2023-06-09 09:45
本实用新型专利技术属于雾化芯片领域,提供了一种加热雾化芯片,包括:硅基片,设置在硅基片上的加热层,硅基片上、于加热层两侧的控温电阻和过温电阻,在加热层上阵列排布、且贯通加热层和硅基片的雾化通孔,以及设置在加热层、控温电阻和过温电阻上的防护层;其中,加热层为金属钼层。本实用新型专利技术的加热雾化芯片,通过设置金属钼加热层,使其加热面整面覆盖,发热均匀,不易出现某一区域烟温过高烧焦的问题,且其爆发性强,在0.2秒内可以瞬间达到220℃以上的温度及雾化量,仅需6.1W功率可以达到9.6w的效果。功率上可降低1/3,实际能耗上可以降低30

【技术实现步骤摘要】
一种加热雾化芯片


[0001]本技术涉及雾化芯片领域,尤其涉及一种加热雾化芯片。

技术介绍

[0002]加热雾化芯片主要应用于电子烟雾、医用加热雾化器等相关产品。
[0003]目前,市场上的加热雾化器一般采用发热丝+陶瓷雾化芯的组合。发热丝为金属材质,烧结在陶瓷雾化芯底部。陶瓷雾化芯是由黑陶土添加特殊的发泡材料高温烧制而成,其内外布满了蜂窝孔便于烟雾的通过。这种设计相对于传统的弹簧发热丝来说,具有爆发性强、发热量大、产生烟雾量大的特点。
[0004]但这种设计也存在以下缺陷:
[0005]①
发热丝设计为带状或其他长条状,并没有整面覆盖,发热不均匀,加热丝处出现烟温过高烧焦的问题,另一方面发热丝高温后易出现脱落问题。
[0006]②
发热丝加热陶瓷雾化芯存在热传递且需要时间,冷启动不能做到即开即用。
[0007]③
陶瓷雾化芯的烧制时蜂窝孔的大小、形状、间距等不均匀且不易控制,因此烟雾量控制不稳定
[0008]④
加热时由于发热丝表面氧化导致阻值变化,加热效果逐渐削弱。
[0009]⑤
发热丝烧结在陶瓷雾化芯底部,对烟雾有一定的遮挡,影响烟雾的通过量。
[0010]⑥
产品一般体积较大
[0011]⑦
没有温度监测,加热区域温度不能够精准控制。

技术实现思路

[0012]本技术的一种加热雾化芯片,用于解决
技术介绍
中加热芯片发热不均匀,易出现烟温过高烧焦的技术问题。
[0013]本技术提供的技术方案如下:一种加热雾化芯片,包括:硅基片,设置在硅基片上的加热层,硅基片上、于加热层两侧的控温电阻和过温电阻,在加热层上阵列排布、且贯通加热层和硅基片的雾化通孔,以及设置在加热层、控温电阻和过温电阻上的防护层;其中,加热层为金属钼层。
[0014]进一步的,硅基片上、于加热层一侧,设有与加热层、控温电阻和过温电阻分别对应连接的加热层正极、控温电阻正极和过温电阻正极,硅基片上、于加热层另一侧,设有与加热层、控温电阻和过温电阻连接的公共负电极。
[0015]进一步的,加热层与电源之间连接有保护开关。
[0016]进一步的,加热层的尺寸为2000*6800um,其厚度为0.01

1um。
[0017]进一步的,雾化通孔的孔径为20

100um,孔间距为20

100um。
[0018]与现有技术相比,本技术的有益效果是:
[0019](1)本技术的加热雾化芯片,通过设置金属钼加热层,使其加热面整面覆盖,发热均匀,不易出现某一区域烟温过高烧焦的问题,且其爆发性强,在0.2秒内可以瞬间达
到220℃以上的温度及雾化量,仅需6.1W功率可以达到9.6w的效果。功率上可降低1/3,实际能耗上可以降低30

50%,有效提升了电池续航。
[0020](2)本技术的加热雾化芯片,通过设置控温电阻和过温电阻的双电阻模式,使其加热温度得到精准控制的同时更具备安全性。
[0021](3)本技术的加热雾化芯片,通过芯片减薄工艺将芯片厚度进行减薄处理,根据工艺要求一般减薄至200至300um,保证了芯片纤薄的同时还具备了机械强度。
附图说明
[0022]图1是本技术加热雾化芯片的俯视图;
[0023]图2是本技术加热雾化芯片的剖视图;
[0024]图3是本技术加热雾化芯片的电路示意图;
[0025]图4是本技术中加热雾化芯片的温控方法的控制示意图。
[0026]附图标记如下:1、硅基片,2、加热层,3、加热层正极,4、雾化通孔,5、防护层,6、过温电阻正极,7、控温电阻,8、公共负电极,9、过温电阻,10、控温电阻正极,11、保护开关,12、电源。
具体实施方式
[0027]以下结合附图和实施例,对本技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术,并不用于限定本技术。
[0028]如图1

4所示,本技术是一种加热雾化芯片,包括:硅基片1,设置在硅基片1上的加热层2,硅基片1上、于加热层2两侧的控温电阻7和过温电阻9,在加热层2上阵列排布、且贯通加热层2和硅基片1的雾化通孔4,以及设置在加热层2、控温电阻7和过温电阻9上的防护层5;其中,加热层2为金属钼层。
[0029]本实施例的硅基片1选用超高电阻硅片作为芯片基底,用于避免基片电阻影响加热层2的阻值。
[0030]本实施例的硅基片1的尺寸为4000um*9000um。
[0031]本实施例的加热层2的尺寸为2000*6800um,其厚度为0.01

1um,优选的,本实施例的加热层2为0.3um。
[0032]本实施例的加热层2为金属钼层,加热层2阻值可根据镀膜厚度和加热区域尺寸进行调整,本实施例加热层2阻值控制在1Ω以下。
[0033]本实施例的加热层2是全区域覆盖薄膜式的加热方式,具有爆发性强和节能性好的特点,加热区域在0.2秒内可以瞬间达到220℃以上的温度及雾化量,仅需6.1W功率可以达到9.6w的效果;功率上可降低1/3,实际能耗上可以降低30

50%,有效提升了电池续航。
[0034]本实施例的雾化通孔4的形状、孔径、孔间距、深度可根据要求进行设定。
[0035]本实施例的雾化通孔4的孔径为20

100um,孔间距为20

100um;优选的,雾化通孔4的孔径在30um以下,避免其孔径过大增加漏液风险。
[0036]本实施例的防护层5为氧化铝保护层,本实施例的防护层5的厚度为0.05

10um,优选的,本实施例的防护层5为0.05um。
[0037]本实施例的防护层5在加热层2、控温电阻7和过温电阻9上、且不遮蔽雾化通孔4,
同时,防护层5还沉积在雾化通孔4孔内的表面上。
[0038]本实施例的采用薄膜沉积技术沉积一层氧化铝绝缘防护层5,用于隔绝加热层与氧气/源液接触,避免发生化学反应,固定、且防止加热层2脱落的同时还可增加芯片的使用寿命。
[0039]本实施例的控温电阻7和过温电阻9线宽5

20um,线长660

56800um。
[0040]进一步的,硅基片1上、于加热层2一侧,设有与加热层2、控温电阻7和过温电阻9分别对应连接的加热层正极3、控温电阻正极10和过温电阻正极6,硅基片1上、于加热层2另一侧,设有与加热层2、控温电阻7和过温电阻9连接的公共负电极8。
[0041]本实施例的加热层正极3、公共负电极8、控温电阻正极10和过温电阻正极6为金属钛和铜铝合金等材料制成,厚度为1.5um。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种加热雾化芯片,其特征在于,包括:硅基片(1),设置在所述硅基片(1)上的加热层(2),所述硅基片(1)上、于所述加热层(2)两侧的控温电阻(7)和过温电阻(9),在所述加热层(2)上阵列排布、且贯通所述加热层(2)和所述硅基片(1)的雾化通孔(4),以及设置在所述加热层(2)、所述控温电阻(7)和所述过温电阻(9)上的防护层(5);其中,所述加热层(2)为金属钼层。2.如权利要求1所述的一种加热雾化芯片,其特征在于,所述硅基片(1)上、于所述加热层(2)一侧,设有与所述加热层(2)、所述控温电阻(7)和所述过温电阻(9)分别对应连接的加热层正极(3)、控温电阻正极(10)和过温电...

【专利技术属性】
技术研发人员:余维嘉
申请(专利权)人:晶上电子科技江苏有限公司
类型:新型
国别省市:

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