一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法技术

本发明专利技术公开了一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法及系统，属于合金检测分析技术领域。首先分别制作两份校准溶液，然后利用得到的两份校准溶液制作电感耦合等离子体原子发射光谱仪的测试校准曲线，即可对待测样品进行检测，得到12Cr1MoVG合金元素含量。该方法减少了现有标准中配制校准溶液的步骤，降低了因配制校准溶液多而引入影响测试结果的风险因素，提高了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属元素含量的效率和准确率。定金属元素含量的效率和准确率。定金属元素含量的效率和准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法


[0001]本专利技术属于合金检测分析
，具体涉及一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法。

技术介绍

[0002]合金材料是两种或两种以上化学物质混合而成具有金属特性的物质，一般由各组分熔合成均匀的液体，再经冷凝而得。合金材料的成分可以利用大型分析检测仪器进行分析检测，按照相应标准的要求对合金材料中各元素的含量进行定量分析，判断其是否符合相应标准的要求。
[0003]目前电感耦合等离子体原子发射光谱法广泛应用于金属材料元素分析领域，但相应分析标准较少。在现有标准中，检测前制作校准曲线较为麻烦，需要配制7份甚至更多校准曲线溶液，步骤繁琐、工作量大；而且在配制校准溶液过程中，引入影响测试结果的不确定性增大。

技术实现思路

[0004]为了解决上述现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，降低了因为配制校准溶液较多而引入影响测试结果的风险，提高了检测效率和准确率。
[0005]本专利技术是通过以下技术方案来实现：
[0006]一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，使用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定12Cr1MoVG合金中的元素含量，包括：
[0007]S1：称取等重的若干份待测样品和两份高纯铁粉置于容器内；
[0008]S2：在各容器内均加入水和酸后进行加热，使待测样品和高纯铁粉完全溶解后冷却，分别得到第一高纯铁粉溶液、第二高纯铁粉溶液和若干份待测样品溶液；
[0009]S3：向第二高纯铁粉溶液中加入12Cr1MoVG合金的各主要元素的标准溶液和残余元素的标准溶液，充分搅拌均匀后得到第二校准前驱溶液；
[0010]S4：将第一高纯铁粉溶液、第二校准前驱溶液和若干份待测样品溶液分别定容至相同体积，得到第一校准溶液、第二校准溶液和若干份定容待测样品溶液；
[0011]S5：利用第一校准溶液和第二校准溶液制作电感耦合等离子体原子发射光谱仪的测试校准曲线；
[0012]S6：利用S5制作的测试校准曲线对若干份定容待测样品溶液进行检测，计算各元素检测结果的平均值，得到12Cr1MoVG合金元素含量。
[0013]优选地，S1中，所述待测样品的份数为3～5份。
[0014]优选地，S1中，所述高纯铁粉的纯度高于99.98％。
[0015]优选地，S1中，所述待测样品和所述高纯铁粉的重量均为0.5g。
[0016]优选地，S2中，所述水和酸均为分析纯。
[0017]优选地，S3中，所述主要元素为Si、Mn、Cr、Mo、V和P，残余元素为Cu、Ni、Ti和Zr。
[0018]优选地，S3中，所述主要元素的标准溶液中主要元素的含量为12Cr1MoVG合金产品标准中规定的含量范围上限的1.2倍。
[0019]优选地，S3中，所述残余元素的标准溶液中残余元素的含量为12Cr1MoVG合金产品标准中规定的含量范围上限。
[0020]优选地，S4中，定容后的体积为50～200ml。
[0021]优选地，S5中，所述测试校准曲线的纵坐标为元素分析线强度，横坐标为元素百分含量。
[0022]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益的技术效果：
[0023]本专利技术公开的12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，首先分别制作两份校准溶液，然后利用得到的两份校准溶液制作电感耦合等离子体原子发射光谱仪的测试校准曲线，即可对待测样品进行检测，得到12Cr1MoVG合金元素含量。电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定元素含量的本质原理在于通过已知元素含量的溶液对设备进行标定，再利用内插法求出待测溶液元素含量的方法，使用内插法时待测点的确定只关系到与待测点两端位置最近的两个已知点，因此可选择合适的两个已知点对设备进行校准。由于配置校准溶液使用的标准液及配置过程与现有标准中的方法一致，因此测量精度亦可以满足。该方法减少了现有标准中配制校准溶液的步骤，降低了因配制校准溶液多而引入影响测试结果的风险因素，提高了使用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定金属元素含量的效率和准确率。
[0024]进一步地，待测样品的份数为3～5份，最后通过平均值计算结果，能够提高结果的准确率。
[0025]进一步地，采用的水和酸均为分析纯，避免引入其它杂质影响检测结果。
[0026]进一步地，主要元素的标准溶液中主要元素的含量为12Cr1MoVG合金产品标准中规定的含量范围上限的1.2倍，既能够覆盖待测元素的含量范围，又能够保证预期测试结果在已知校准点附近。
[0027]进一步地，残余元素的标准溶液中残余元素的含量为12Cr1MoVG合金产品标准中规定的含量范围上限，能够保证校准溶液元素种类与待测样品元素种类接近，以减少基体差异对分析结果的影响。
[0028]进一步地，定容后的体积为50～200ml，能够保证电感耦合等离子体原子发射光谱仪具有较高的检测精度。
附图说明
[0029]图1为本专利技术实施例制作的校准曲线示意图。
具体实施方式
[0030]下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步的详细说明，所述是对本专利技术的解释而不是限定。
[0031]本专利技术的12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，使用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定12Cr1MoVG合金中的元素含量，其特征在于，包括：
[0032]S1：称取等重的若干份待测样品和两份高纯铁粉置于容器内；
[0033]S2：在各容器内均加入水和酸后进行加热，使待测样品和高纯铁粉完全溶解后冷却，分别得到第一高纯铁粉溶液、第二高纯铁粉溶液和若干份待测样品溶液；
[0034]S3：向第二高纯铁粉溶液中加入12Cr1MoVG合金的各主要元素的标准溶液和残余元素的标准溶液，充分搅拌均匀后得到第二校准前驱溶液；
[0035]S4：将第一高纯铁粉溶液、第二校准前驱溶液和若干份待测样品溶液分别定容至相同体积，得到第一校准溶液、第二校准溶液和若干份定容待测样品溶液；
[0036]S5：利用第一校准溶液和第二校准溶液制作电感耦合等离子体原子发射光谱仪的测试校准曲线；
[0037]S6：利用S5制作的测试校准曲线对若干份定容待测样品溶液进行检测，计算各元素检测结果的平均值，得到12Cr1MoVG合金元素含量。
[0038]在本专利技术的一个较优的实施例中，S1中，所述待测样品的份数为3～5份。
[0039]在本专利技术的一个较优的实施例中，S1中，所述高纯铁粉的纯度高于99.98％。
[0040]在本专利技术的一个较优的实施例中，S1中，所述待测样品和所述高纯铁粉的重量均为0.5g。
[0041]在本专利技术的一个较优的实施例中，S2中，所述水和酸均为分析纯。酸包括盐酸、硝酸等，以能够将所有元素溶解为准。
[0042]在本专利技术的一个较优的实施例中，S3中，所述主要元素为Si、Mn、Cr、Mo、V和P本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，使用电感耦合等离子体原子发射光谱仪测定12Cr1MoVG合金中的元素含量，其特征在于，包括：S1：称取等重的若干份待测样品和两份高纯铁粉置于容器内；S2：在各容器内均加入水和酸后进行加热，使待测样品和高纯铁粉完全溶解后冷却，分别得到第一高纯铁粉溶液、第二高纯铁粉溶液和若干份待测样品溶液；S3：向第二高纯铁粉溶液中加入12Cr1MoVG合金的各主要元素的标准溶液和残余元素的标准溶液，充分搅拌均匀后得到第二校准前驱溶液；S4：将第一高纯铁粉溶液、第二校准前驱溶液和若干份待测样品溶液分别定容至相同体积，得到第一校准溶液、第二校准溶液和若干份定容待测样品溶液；S5：利用第一校准溶液和第二校准溶液制作电感耦合等离子体原子发射光谱仪的测试校准曲线；S6：利用S5制作的测试校准曲线对若干份定容待测样品溶液进行检测，计算各元素检测结果的平均值，得到12Cr1MoVG合金元素含量。2.如权利要求1所述的12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，其特征在于，S1中，所述待测样品的份数为3～5份。3.如权利要求1所述的12Cr1MoVG合金元素含量测定方法，其特征在于，S1中，所述高纯铁粉的纯度高于9...

【专利技术属性】
技术研发人员：何晓东，史志刚，刘雪峰，李青，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：