一种适用于SSD的湿热偏置试验装置及其工作方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种适用于SSD的湿热偏置试验装置及其工作方法，所述装置包括：供电电源、继电器模块、老化板、温湿度试验箱、电压监控装置以及温度监控装置；所述老化板上连接有SSD基座，所述SSD基座与所述电压监控装置连接；所述老化板放置在所述温湿度试验箱内，所述老化板与所述继电器模块连接；所述继电器模块与所述供电电源连接；还包括温感线，所述温感线连接在SSD的发热器件上，所述温感线与所述温度监控装置连接。通过实施本发明专利技术实施例的装置可实现既提供了偏置电压又避免了连续通电的持续发热现象，而且保证了试验的精确性及数据的完整性。及数据的完整性。及数据的完整性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于SSD的湿热偏置试验装置及其工作方法


[0001]本专利技术涉及固态硬盘
，尤其涉及一种适用于SSD的湿热偏置试验装置及其工作方法。

技术介绍

[0002]SSD(固态硬盘，Solid State Disk)在研发过程中或出厂前都需要进行湿热偏置试验检测SSD产品的环境可靠性，检验SSD焊接工艺的清洁度是否足够，以至于在高温高湿和电应力的综合作用下不会发生化学腐蚀、电化学迁移导致的枝晶等失效。
[0003]现有的恒定湿热试验或者湿热偏置试验装置，一般采取不通电的方式或者采取连续通电的方式，不通电方式没有提供电化学迁移的偏置电压而与现实情况或者试验目的不符合；而连续通电时，SSD中的控制器或者闪存介质等高发热器件会对湿气产生排挤效应，也违背了试验的初衷。而且现有的湿热偏置试验装置只在试验开始的时候，用手工测量电压的方式对输出电压进行确认，在长时间的试验过程中及试验结束后没有对电压进行再次确认。
[0004]因此，有必要设计一种新的装置，实现既提供了偏置电压又避免了连续通电的持续发热现象，而且保证了试验的精确性及数据的完整性。

技术实现思路

[0005]本专利技术要解决的技术问题是提供一种适用于SSD的湿热偏置试验装置及其工作方法。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：提供一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，包括：供电电源、继电器模块、老化板、温湿度试验箱、电压监控装置以及温度监控装置；所述老化板上连接有SSD基座，所述SSD基座与所述电压监控装置连接；所述老化板放置在所述温湿度试验箱内，所述老化板与所述继电器模块连接；所述继电器模块与所述供电电源连接；
[0007]还包括温感线，所述温感线连接在SSD的发热器件上，所述温感线与所述温度监控装置连接。
[0008]其进一步技术方案为：所述SSD插入在所述SSD基座上。
[0009]其进一步技术方案为：所述老化板上设有正极以及负极，所述老化板的正极以及负极分别通过导线连接所述继电器模块。
[0010]其进一步技术方案为：所述继电器模块设有电源模块及开关模块；所述电源模块设有DC+端以及DC
‑
端，DC
‑
端与所述老化板的负极连接；所述开关模块设有公共端、常闭端以及常开端；所述公共端与所述老化板的正极连接。
[0011]另外，本专利技术要解决的技术问题是还在于提供一种适用于SSD的湿热偏置试验装置的工作方法，所述工作方法使用上述的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，包括：
[0012]设定温湿度试验箱的目标温度和目标湿度；
[0013]调节供电电源的输出电压至指定电压；
[0014]在继电器模块处于闭合模式下记录SSD的最高稳定温度，且在继电器模块断开模式下记录SSD降温至温湿度试验箱设定温度值加上指定温度值的降温时间；
[0015]通过调节继电器模块的断开时间，以使继电器模块闭合时间加上降温时间的和与继电器模块断开时间减去降温时间的差的比值符合设定要求。
[0016]其进一步技术方案为：所述指定电压为3.3V。
[0017]其进一步技术方案为：所述指定温度值为5℃。
[0018]其进一步技术方案为：所述设定要求为1:2。
[0019]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：本专利技术通过设置供电电源、继电器模块、老化板、温湿度试验箱、电压监控装置以及温度监控装置，利用时间继电器实现断续通电，利用电压监控装置以及温度监控装置进行实时监控，实现既提供了偏置电压又避免了连续通电的持续发热现象，而且保证了试验的精确性及数据的完整性。
[0020]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本专利技术实施例提供的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置的示意性框图；
[0023]图2为本专利技术实施例提供的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置的工作方法的流程示意图；
[0024]图3为本专利技术实施例提供的继电器模块处于闭合模式的示意图；
[0025]图4为本专利技术实施例提供的继电器模块处于断开模式的示意图；
[0026]图中标识说明：
[0027]10、供电电源；20、继电器模块；30、老化板；40、SSD基座；50、温湿度试验箱；60、电压监控装置；70、温度监控装置。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0030]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0031]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是
指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0032]请参阅图1，图1为本专利技术实施例提供的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置的示意性框图，适用于带有SSD的设备中，实现了SSD湿热偏置试验中电偏置应力的自动断续功能，使可靠性试验模拟的场景更接近个人电脑的使用场景；同时实现了对老化板30供电电压的持续监控，保证了试验装置的稳定性；第三实现了待测品的温度监控，保证继电器断开时间足够使SSD的温度恢复至试验箱温度。
[0033]请参阅图1，一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，包括：供电电源10、继电器模块20、老化板30、温湿度试验箱50、电压监控装置60以及温度监控装置70；老化板30上连接有SSD基座40，SSD基座40与电压监控装置60连接；老化板30放置在温湿度试验箱50内，老化板30与继电器模块20连接；继电器模块20与供电电源10连接；
[0034]还包括温感线，温感线连接在SSD的发热器件上，温感线与温度监控装置70连接。
[0035]在本实施例中，将温感线粘贴在SSD的最高温度器件上，并设定温度监控模块的测试量程及采样间隔；将待测SSD安装在老化板30的基座40上，其中老化板30本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，其特征在于，包括：供电电源、继电器模块、老化板、温湿度试验箱、电压监控装置以及温度监控装置；所述老化板上连接有SSD基座，所述SSD基座与所述电压监控装置连接；所述老化板放置在所述温湿度试验箱内，所述老化板与所述继电器模块连接；所述继电器模块与所述供电电源连接；还包括温感线，所述温感线连接在SSD的发热器件上，所述温感线与所述温度监控装置连接。2.根据权利要求1所述的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，其特征在于，所述SSD插入在所述SSD基座上。3.根据权利要求2所述的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，其特征在于，所述老化板上设有正极以及负极，所述老化板的正极以及负极分别通过导线连接所述继电器模块。4.根据权利要求3所述的一种适用于SSD的湿热偏置试验装置，其特征在于，所述继电器模块设有电源模块及开关模块；所述电源模块设有DC+端以及DC
‑
端，所述DC
‑
端与所述老化板的负极连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢奉洋，张远超，王向阳，孙克庆，
申请(专利权)人：东莞忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：