一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法技术

本发明专利技术提供一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，包括：S1，分别测试出被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值；S2，利用被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值计算射频开关矩阵在不同频点的插损，形成射频开关矩阵的插损表；S3，根据测试频点与插损表中频点的映射关系读取射频开关矩阵在测试频点的插损，并利用读取的插损完成损耗补偿。本发明专利技术利用自动测试软件、现有调试仪器、产品和射频开关矩阵，在不增加诸如矢量网络分析仪的情况下，能够简单、高效、快速完成射频开关矩阵的插入损耗的测试、计算、保存。射频开关矩阵插入损耗标校相比人工，效率能够提升500％，测试数据更准确。测试数据更准确。测试数据更准确。

【技术实现步骤摘要】
一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法


[0001]本专利技术涉及无线电产品调试
，具体而言，涉及一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法。

技术介绍

[0002]在无线通信设备的调试过程中，一套通信设备需要同时接入多套仪器设备，而实验过程中，多套通信共用一套仪器的情况。因此，为了提升调试效率，无线电调试过程中就引入了射频开关矩阵实现被调试的通信设备与仪器间的通讯侨联。
[0003]无线通信设备调试过程中，引入射频开关矩阵解决了调试过程中人员频繁更换测试设备或仪器的问题，但是，射频开关矩阵是由一定数量的开关和电子电路组成，射频开关矩阵存在一定的插入损耗即当一定幅度的射频信号通过开关矩阵后，仪器测试值要小于信号本身的幅度，为了准确测试出产品的真实值，测试过程中需要对每次测试辐度值进行标校与补偿。
[0004]传统的标校与补偿方法是：
[0005](1)人工利用矢量网络信号分析测试并记录射频矩阵各通道的在不同频点的插入损耗值，形成一张射频矩阵的插损补偿表；
[0006](2)调试过程中，调试人员根据插损补偿表中对应频点的插损值加上仪器的测试值得到被测试产品的真实值。
[0007]传统的标校与补偿方法存在两大弊端：
[0008](1)矩阵插损的测试需要熟练掌握矢量网络分析仪的标校与测试，操作过程复杂，对技能要求较高；
[0009](2)测试频点众多，相应的测试补偿就也多，调试效率低下，即射频开关矩解决了频繁接线，但又增加测试补偿工作，测试效率大打折扣。
专利技术内容
[0010]本专利技术旨在提供一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，以解决上述传统的标校与补偿方法存在的问题。
[0011]本专利技术提供的一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，包括：
[0012]S1，分别测试出被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值；
[0013]S2，利用被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值计算射频开关矩阵在不同频点的插损，形成射频开关矩阵的插损表；
[0014]S3，根据测试频点与插损表中频点的映射关系读取射频开关矩阵在测试频点的插损，并利用读取的插损完成损耗补偿。
[0015]进一步的，步骤S1包括如下子步骤：
[0016]S11，调试准备步骤，被测试通信设备与测试仪器和测试自动工装的信息握手，并设置测试需要的仪器参数，完成自动测试前的准备工作；
[0017]S12，测试被测试通信设备接入射频开关矩阵前的信号幅度值：
[0018]被测试通信设备不接入射频开关矩阵而是与测试仪器直接连接，自动测试并保存被测试通信设备对应的频点f1、f3、
……
、fn的信号幅度值组成幅度数组1，幅度数组1＝{f1:Pf1、f2:Pf2、
……
、fn:Pfn}；
[0019]S13，测试被测试通信设备接入射频开关矩阵后的信号幅度值：
[0020]被测试通信设备与测试仪器间接入射频开关矩阵，自动测试并保存被测试通信设备对应的频点f1、f3、
……
、fn的信号幅度值组成幅度数组2，幅度数组2＝{f1:Pf1
’
、f2:Pf2
’
、
……
、fn:Pfn
’
}。
[0021]进一步的，步骤S2包括如下子步骤：
[0022]S21，自动测试软件自动计算射频开关矩阵在不同频点的插损；
[0023]S22，射频开关矩阵在不同频点的插损以插损数组的形式保存为插损表；插损数组为：
[0024]{f1:10*log(Pf1
’
/Pf1)dB,f2:10*log(Pf2
’
/Pf2)dB,
……
,fn:10*log(Pfn
’
/Pfn)dB}。
[0025]进一步的，步骤S21中，计算射频开关矩阵在不同频点的插损的公式为：
[0026]插损＝10*log(P
’
/P)；
[0027]其中，P和P
’
分别表示幅度数组1和幅度数组2中某个频点对应的信号幅度值。
[0028]进一步的，步骤S3包括如下子步骤：
[0029]S31，调试测试，自动测试被测试通信设备接入射频开关矩阵后对应频点的信号幅度值：Pf1”、Pf2”、
……
、Pfn”；
[0030]S32，插损值补偿：
[0031]自动测试软件调用插损表；
[0032]自动测试软件读取插损表中射频矩阵开关在频点fn的插损Pfn”；
[0033]自动测试软件利用频点fn在幅度数组1、幅度数组2和插损数值中对应的信号幅度值，自动计算被测试通信设备在频点fn的实际输出幅度值P。
[0034]进一步的，步骤S32中，计算被测试通信设备在频点fn的实际输出幅度值P的公式为：P＝[Pfn”*10
(log(Pfn
’
/Pfn)
]。
[0035]综上所述，由于采用了上述技术方案，本专利技术的有益效果是：
[0036]本专利技术利用自动测试软件、现有调试仪器、产品和射频开关矩阵，在不增加诸如矢量网络分析仪的情况下，能够简单、高效、快速完成射频开关矩阵的插入损耗的测试、计算、保存。射频开关矩阵插入损耗标校相比人工，效率能够提升500％，测试数据更准确。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0038]图1为本专利技术实施例中射频开关矩阵的自动标校与补偿方法的流程图。
[0039]图2为本专利技术实施例中接入射频开关矩阵前调试测试框图。
[0040]图3为本专利技术实施例中接入射频开关矩阵后调试测试框图。
具体实施方式
[0041]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
[0042]因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0043]实施例
[0044]如图1所示，本实施例提出一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，包括：
[0045]S1，分别测试出被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值；具体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，其特征在于，包括：S1，分别测试出被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值；S2，利用被测试通信设备接入射频开关矩阵前、后的信号幅度值计算射频开关矩阵在不同频点的插损，形成射频开关矩阵的插损表；S3，根据测试频点与插损表中频点的映射关系读取射频开关矩阵在测试频点的插损，并利用读取的插损完成损耗补偿。2.根据权利要求1所述的射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，其特征在于，步骤S1包括如下子步骤：S11，调试准备步骤，被测试通信设备与测试仪器和测试自动工装的信息握手，并设置测试需要的仪器参数，完成自动测试前的准备工作；S12，测试被测试通信设备接入射频开关矩阵前的信号幅度值：被测试通信设备不接入射频开关矩阵而是与测试仪器直接连接，自动测试并保存被测试通信设备对应的频点f1、f3、
……
、fn的信号幅度值组成幅度数组1，幅度数组1＝{f1:Pf1、f2:Pf2、
……
、fn:Pfn}；S13，测试被测试通信设备接入射频开关矩阵后的信号幅度值：被测试通信设备与测试仪器间接入射频开关矩阵，自动测试并保存被测试通信设备对应的频点f1、f3、
……
、fn的信号幅度值组成幅度数组2，幅度数组2＝{f1:Pf1
’
、f2:Pf2
’
、
……
、fn:Pfn
’
}。3.根据权利要求2所述的射频开关矩阵的自动标校与补偿方法，其特征在于，步骤S2包括如下子步骤：S21，自动测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭晓明，周阳明，肖华，饶振东，唐圣敏，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第十研究所，
类型：发明
国别省市：