一种阻抗匹配调试夹具制造技术

本申请实施例涉及电子设备阻抗调试技术领域，特别涉及一种阻抗匹配调试夹具，包括：夹持装置，具有用于夹持元器件的夹持结构以及与所述夹持结构固定的固定结构；放大装置，与所述固定结构固定连接，其中，所述放大装置具有入光侧，所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及位于所述夹持结构处的元器件。本申请实施例提供的阻抗匹配调试夹具，可避免调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。力夹取阻容感器件。力夹取阻容感器件。

【技术实现步骤摘要】
一种阻抗匹配调试夹具


[0001]本申请实施例涉及电子设备阻抗调试
，特别涉及一种阻抗匹配调试夹具。

技术介绍

[0002]目前，受限于仿真技术的仿真效果偏差、电路板制造过程中产生的工艺误差、乃至于电子元器件在制造过程中产生的工艺误差，实际生产出的电子设备的阻抗还需利用阻容感器件进行调试。在对电子设备进行阻抗调试时，均是依靠调试人员裸眼观察并手工夹取阻容感器件。
[0003]然而，随着人们对产品小型化的需求越来越大，用于调试电子设备阻抗的阻容感器件的封装尺寸随之越来越小，继而致使调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种阻抗匹配调试夹具，以避免调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。
[0005]为解决上述问题，本申请实施例提供一种阻抗匹配调试夹具，包括：夹持装置，具有用于夹持元器件的夹持结构以及与所述夹持结构固定的固定结构；放大装置，与所述固定结构固定连接，其中，所述放大装置具有入光侧，所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及位于所述夹持结构处的元器件。
[0006]在调试人员对电子设备进行阻挡匹配调试时，调试人员可利用本申请实施例提供的阻抗匹配调试夹具的夹持结构夹持阻容感器件。具体的，在利用夹持结构夹持阻容感器件时，由于所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及所述夹持结构夹持的元器件，故调试人员通过放大装置观察放大后的夹持结构并使得放大后的夹持结构正对元器件以同步放大元器件，以使得调试人员可通过观察放大后的夹持结构夹持元器件，以避免调试人员裸眼观察并手工夹取阻容感器件，继而避免调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。
[0007]在一些实施方式中，所述夹持结构具有相对设置的第一柔性夹持件以及第二柔性夹持件，所述第一柔性夹持件与所述第二柔性夹持件之间具有间隔，其中，所述间隔的尺寸配置为小于所述夹持结构用于夹持的元器件在所述第一柔性夹持件指向所述第二柔性夹持件的方向上的尺寸。
[0008]在一些实施方式中，在所述夹持结构远离所述固定结构的方向上，所述第一柔性夹持件与所述第二柔性夹持件之间间距逐渐减小。
[0009]在一些实施方式中，所述第一柔性夹持件朝向所述第二柔性夹持件的一侧设有多个第一凸起；和/或，所述第二柔性夹持件朝向所述第一柔性夹持件的一侧设有多个第二凸起。
[0010]在一些实施方式中，所述固定结构具有抵接面，所述第一柔性夹持件以及所述第二柔性夹持件均固定于所述抵接面，其中，所述抵接面用于抵接所述第一柔性夹持件以及所述第二柔性夹持件共同夹持的元器件。
[0011]在一些实施方式中，所述夹持装置的数量为多个，不同的所述夹持装置的所述间隔的尺寸不同；所述放大装置选择性地与多个所述夹持装置中一者的所述固定结构可拆卸地固定连接。
[0012]在一些实施方式中，在所述第一柔性夹持件指向所述第二柔性夹持件的方向上，所述第一柔性夹持件与所述第二柔性夹持件相互远离的边缘之间的间距配置为大于所述夹持结构用于夹持的元器件的1倍尺寸、且小于或等于所述夹持结构用于夹持的元器件的2倍尺寸。
[0013]在一些实施方式中，所述夹持结构与所述固定结构沿预设方向依次设置；在垂直于所述第一柔性夹持件指向所述第二柔性夹持件的方向、且垂直于所述预设方向的方向上，所述第一柔性夹持件和所述第二柔性夹持件任一者的尺寸配置为大于所述夹持结构用于夹持的元器件的1倍尺寸、且小于或等于所述夹持结构用于夹持的元器件的2倍尺寸。
[0014]在一些实施方式中，所述夹持结构、所述固定结构以及所述放大装置沿预设方向依次设置，其中，所述夹持结构以及所述固定结构均被配置为透明状。
[0015]在一些实施方式中，阻抗匹配调试夹具还包括：握持结构，所述握持结构与所述固定结构固定，所述握持结构用于供调试人员握持。
[0016]在一些实施方式中，所述夹持结构、所述固定结构、所述握持结构以及所述放大装置沿预设方向依次设置，其中，所述夹持结构、所述固定结构以及所述握持结构均被配置为透明状。
[0017]在一些实施方式中，所述放大装置为凸透镜或摄像装置。
附图说明
[0018]图1为本申请一些实施方式提供的阻抗匹配调试夹具的结构示意图；
[0019]图2为本申请一些实施方式提供的阻抗匹配调试夹具的另一视角的结构示意图；
[0020]图3为本申请一些实施方式提供的阻抗匹配调试夹具的结构示意图。
[0021]在附图中，附图标记如下：
[0022]夹持装置110，夹持结构111，固定结构112，第一柔性夹持件113，第二柔性夹持件114，抵接面115；放大装置120；握持结构130；元器件200。
具体实施方式
[0023]由
技术介绍
可知，目前在对电子设备进行阻抗调试时，均是依靠调试人员裸眼观察并手工夹取阻容感器件。随着人们对产品小型化的需求越来越大，用于调试电子设备阻抗的阻容感器件的封装尺寸随之越来越小，继而致使调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。
[0024]本申请专利技术人经过深入研究发现，致使调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件的原因在于，由于阻容感器件的封装尺寸较小，所以在仅凭调试人员裸眼观察阻容感器件并夹取阻容感器件时，常常出现夹持位置无法对准阻容感器
件的现象，继而致使调试人员在进行夹取阻容感器件时常需夹取多次才能成功夹住阻容感器件，导致调试人员所需消耗的精力过多。
[0025]对此，本申请专利技术人设计了一种阻抗匹配调试夹具，包括：夹持装置，具有用于夹持元器件的夹持结构以及与所述夹持结构固定的固定结构；放大装置，与所述固定结构固定连接，其中，所述放大装置具有入光侧，所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及位于所述夹持结构处的元器件。
[0026]在调试人员对电子设备进行阻挡匹配调试时，调试人员可利用本申请实施例提供的阻抗匹配调试夹具的夹持结构夹持阻容感器件。具体的，在利用夹持结构夹持阻容感器件时，由于所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及所述夹持结构夹持的元器件，故调试人员通过放大装置观察放大后的夹持结构并使得放大后的夹持结构正对元器件以同步放大元器件，以使得调试人员可通过观察放大后的夹持结构夹持元器件，提升调试人员在进行夹取阻容感器件时成功夹住阻容感器件的机率，继而避免调试人员在对电子设备进行阻抗调试时需消耗大量精力夹取阻容感器件。
[0027]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本申请各实施方式中，为了使读者更好地理解本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗匹配调试夹具，其特征在于，包括：夹持装置，具有用于夹持元器件的夹持结构以及与所述夹持结构固定的固定结构；放大装置，与所述固定结构固定连接，其中，所述放大装置具有入光侧，所述放大装置的所述入光侧朝向所述夹持结构设置，且所述放大装置用于放大所述夹持结构以及位于所述夹持结构处的元器件。2.根据权利要求1所述的阻抗匹配调试夹具，其特征在于，所述夹持结构具有相对设置的第一柔性夹持件以及第二柔性夹持件，所述第一柔性夹持件与所述第二柔性夹持件之间具有间隔，其中，所述间隔的尺寸配置为小于所述夹持结构用于夹持的元器件在所述第一柔性夹持件指向所述第二柔性夹持件的方向上的尺寸。3.根据权利要求2所述的阻抗匹配调试夹具，其特征在于，在所述夹持结构远离所述固定结构的方向上，所述第一柔性夹持件与所述第二柔性夹持件之间间距逐渐减小。4.根据权利要求2所述的阻抗匹配调试夹具，其特征在于，所述第一柔性夹持件朝向所述第二柔性夹持件的一侧设有多个第一凸起；和/或，所述第二柔性夹持件朝向所述第一柔性夹持件的一侧设有多个第二凸起。5.根据权利要求2所述的阻抗匹配调试夹具，其特征在于，所述固定结构具有抵接面，所述第一柔性夹持件以及所述第二柔性夹持件均固定于所述抵接面，其中，所述抵接面用于抵接所述第一柔性夹持件以及所述第二柔性夹持件共同夹持的元器件。6.根据权利要求2所述的阻抗匹配调试夹具，其特征在于，所述夹持装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙夏夏，陈玉丹，
申请(专利权)人：合肥移瑞通信技术有限公司，
类型：新型
国别省市：