显示模块的老化测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种显示模块的老化测试装置。根据本发明专利技术的显示模块老化测试装置包括：两个或多个框架，彼此按照恒定距离布置；旋转支撑单元，可旋转地安装在框架上；测试单元，被旋转支撑单元支撑并且测试模块，所述模块的每个结合有一个显示模块；功率传输单元，将旋转功率传输到旋转支撑单元；功率供应单元，将功率供应到功率传输单元和测试单元；第一连接单元，被设置在旋转支撑单元的中空轴上，并且电连接到功率供应单元和测试单元；控制器，控制功率传输单元和功率供应单元，并分析测试单元测量的数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于显示模块的老化测试装置(aging test device)。更具体地 说，本专利技术涉及一种能够同时执行显示模块的老化和测试的显示模块老化测试装置。
技术介绍
在显示模块的制造过程中，使用一种用于通过将电压和信号施加到模块并持续预 定时间段以测试每个模块的操作状态和耐久性(durability)的工艺，该工艺被称作老化 领lj试。 对于显示模块，老化测试是在母基底单元上执行的，其中，每个模块在彼此切分之 前被安装在母基底单元上。由于具有方便地执行测试并且可通过映射缺陷(defect)出现 的位置来容易地检测缺陷的优点，因此这种母基底单元老化测试被频繁使用。但是，由于测 试在串联并互相平行地结合的许多模块上执行，因此在布线中存在串联或平行的回路。这 种回路在信号中产生噪声，并且产生影响周围模块的漏电流。因此，不能执行准确的测试。 此外，当在母基底的一些模块中发生问题时，周围的模块和布线会受到问题的影响，从而不 能顺利地执行整个母基底的老化测试。 同时，模块的尺寸随着显示器的尺寸增加而增加。但是，当每个模块的尺寸增加 时，测试整个母基底的传统方法变得不好。例如，每个模块的尺寸增加使得在一个母基底中 包括的模块的数量减少。因此，生产率降低。此外，随着模块的尺寸增加，测试装置应该根 据模块的改变而改变。但是，在传统的母基底单元测试方法中，难以根据模块的改变来改变 测试装置。 以上在
技术介绍
部分中公开的信息只是用于提高对本专利技术的背景的理解，因此， 其可包括没有形成作为已经被该国家的普通技术人员公知的现有技术的信息。
技术实现思路
努力提出本专利技术以提供一种具有对每个显示模块单元同时执行老化测试的优点 的装置。 根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置包括两个或多个框架，彼此按照恒定距离布置；旋转支撑单元，可旋转地安装在框架上；测试单元，被旋转支撑单元支撑并且测试模块，所述测试单元的每个与一个显示模块结合；功率传输单元，将旋转功率传输到旋转支撑单元；功率供应单元，将功率供应到功率传输单元和测试单元；第一连接单元，被设置在旋转支撑单元的中空轴上，并且电连接到功率供应单元和测试单元；控制器，控制功率传输单元和功率供应单元，并分析测试单元测量的数据。 所述显示模块老化测试装置还可包括包围显示模块老化测试装置的室腔。 所述室腔可包括将显示模块安装到测试单元和从测试单元拆下显示模块的开口 。 测试单元可包括在其中心的中空轴，用于相对于旋转支撑单元进行相对旋转运动。 所述显示模块老化测试装置还可包括第二连接单元，第二连接单元电连接到第一 连接单元，并且设置在旋转支撑单元上，以对应于测试单元的中空轴。 所述显示模块老化测试装置还可包括辅助功率传输单元，该辅助功率传输单元传输功率，以保持测试单元的水平姿态。 旋转支撑单元具有圆形或椭圆形形状。 所述模块被电连接到功率传输单元或第一连接单元。 所述测试单元可包括结合单元，显示模块被放置在所述结合单元中；功率供应 单元，将功率供应到显示模块；信号供应单元，将信号提供给显示模块；信号传输单元，将 显示模块产生的数据传输到控制器。 测试单元可被设置在旋转支撑单元的预定大小的旋转半径上。 测试单元可与旋转支撑单元隔开恒定距离地设置。 第一连接单元被设置在旋转支撑单元的旋转中心上，并且可包括电信号的输入单 元和输出单元，以通过旋转轴传输电信号。 控制器产生的电信号和功率供应单元供应的功率通过第一连接单元被传输到测 试单元，并且显示模块产生的数据通过第一连接单元被传输到控制器。 —种根据本专利技术的示例性实施例的老化测试系统可包括两个或多个上述显示模 块老化测试装置。 由于测试在设置有测试单元的旋转支撑单元旋转的同时被执行，因此根据本专利技术 的示例性实施例的显示模块老化测试装置可连续执行测试。因此，测试效率可被提高。 此外，不需要布线，因此由于布线产生的噪声和干扰可被减小，并且信号延迟可被 减小。因此，可准确地执行测试。 此外，由于针对每个模块执行测试，因此，具有缺陷的模块不影响其它模块。因此， 可更快速和有效地执行测试。 由于测试装置不需要夹具，因此，装置可被简化。因此，容易自动进行测试处理，并 且装置的维护可被简化。 尤其是，当提供多个测试单元时，通过自动地装载安装有模块的测试单元，整个测 试装置可容易地自动操作。附图说明 图1是根据本专利技术的示例性实施例的用于显示模块的显示模块老化测试装置的 示意性透视图； 图2是根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置的示意性主视图； 图3是根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置的示意性侧视图； 图4是测试单元的示意性透视图； 图5是根据本专利技术的示例性实施例的老化测试系统的示意性透视图。 具体实施例方式以下将参照附图更加完全地描述本专利技术，图中显示了本专利技术的示例性实施例。本 领域技术人员应该理解，在完全不脱离本专利技术的精神或范围的情况下，可按照多种不同的方式对所描述的实施例进行修改。 因此，附图和描述实质上被认为是阐述性而不是限制性的。相同的标号在说明书 中始终指代相同的元件。 在整个说明书和权利要求书中，当描述到一个元件"结合到"另一个元件时，所述元件可"直接结合到"所述另一元件或通过第三元件"电结合到"所述另一元件。另外，除非明确地进行了相反的描述，否则，词语"包括"将被理解为意味着包含所陈列的元件，但是 不排除任何其它元件。 将参照图1至图5描述根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置的详 细构造。 图1至图3显示了根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置。图1是 显示模块老化测试装置的示意性透视图，图2是除了室腔190之外的部分的示意性主视图。 在图1中，室腔190被显示为透明的，以描述内部的装置。图3是用于描述第一连接单元 160和第二连接单元180的结构的示意性侧视图。 参照图l，根据本专利技术的示例性实施例的显示模块老化测试装置包括框架110、 多个测试单元120、旋转支撑单元130、功率传输单元140、功率供应单元150、第一连接单元 160 (见图3)、控制器170、第二连接单元180 (见图3)和室腔190。 框架110固定并支撑安装在其中的组成元件。两个或多个框架IIO可彼此隔开恒 定距离地设置，以同时执行模块的老化和测试。由于框架110应该承受每个组成元件的重量，所以优选地，框架iio通过使用金属类材料或刚性聚合物材料制成。此外，优选地，框架110具有实心六面体形状，以稳定地支撑每个组成元件。但是，只要没有功能性问题，框架 110可具有锥体形状或四棱六面体形状，并且框架110不必要是实心的。 旋转支撑单元130是一种在支撑多个测试单元120的同时旋转的结构，并且其通 过第一连接单元160连接到框架110。虽然不必要这样，但是旋转支撑单元130可按照框 架110通过(例如)在链条和链轮之间的连接包围旋转支撑单元130的中心突起的方式被 连接到框架IIO，并且它们之间的连接方式不限于此。旋转支撑单元130是用于测试单元 120的旋转运动的组成元件，因此，优选地，旋转支撑单元130具有中心突起，并且是圆形或 椭圆形的，中心突起的形状与第一连接单元160的中空轴的形状相同。但是，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示模块老化测试装置，包括：两个或多个框架，彼此按照恒定距离布置；旋转支撑单元，可旋转地安装在框架上；测试单元，被旋转支撑单元支撑并且测试模块，所述测试单元的每个与一个显示模块结合；功率传输单元，将旋转功率传输到旋转支撑单元；功率供应单元，将功率供应到功率传输单元和测试单元；第一连接单元，被设置在旋转支撑单元的中空轴上，并且电连接到功率供应单元和测试单元；控制器，控制功率传输单元和功率供应单元，并分析测试单元测量的数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：金成国，
申请(专利权)人：三星移动显示器株式会社，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]