本申请公开一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括通过获取原始图像；对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。如此，无需人工参与，解决了人工检测方法存在效率低下以及人在长时间观测后会出现疲劳从而导致漏检的问题。导致漏检的问题。导致漏检的问题。
【技术实现步骤摘要】
检测方法、检测装置、检测设备和计算机可读存储介质
[0001]本申请涉及检测
，更具体而言，涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]现有的对铝塑膜的间隔方法主要用在人工检测，现有的铝塑膜缺陷主要有漏涂，凹凸点，黑点，漏涂等缺陷，使用人工检测方法存在效率低下，且人在长时间观测后会出现疲劳从而导致漏检的风险。
技术实现思路
[0003]本申请实施方式提供一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，从而解决人工检测方法存在效率低下及人在长时间观测后会出现疲劳从而导致漏检的问题。
[0004]本申请实施方式的检测方法包括获取原始图像；对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。
[0005]本申请实施方式的检测装置包括第一获取模块、第二获取模块和第一输入模块。所述第一获取模块用于获取原始图像；所述第二获取模块用于对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；所述第一输入模块用于输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。
[0006]本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于获取原始图像；对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。
[0007]本申请实施方式的非易失性计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括获取原始图像；对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。
[0008]本申请实施方式的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，通过获取原始图像，并对原始图像进行图像预处理，从而获取原始图像中的多个缺陷区域分别对应的待测图像，并将待测图像输入到预设的检测模型进行检测，以输出每个待测图像的缺陷信息。如此，无需人工参与，解决了人工检测方法存在效率低下以及人在长时间观测后会出现疲劳从而导致漏检的问题。且通过原始图像进行预处理，提取出原始图像中的每个缺陷区域的待测图像，一个缺陷区域一般为一个缺陷，然后再输入每个缺陷区域的待测图像到检测模型，实现每个待测图像的缺陷检测，相较于直接检测原始图像中的所有缺陷的检测模型而言，检测准确性显然更高。
[0009]本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面
的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。
附图说明
[0010]本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0011]图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0012]图2是本申请某些实施方式的检测方法的场景示意图；
[0013]图3是本申请某些实施方式的检测方法的场景示意图；
[0014]图4是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0015]图5是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0016]图6是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0017]图7是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0018]图8是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0019]图9是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0020]图10是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0021]图11是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0022]图12是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0023]图13是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；
[0024]图14是本申请某些实施方式的检测方法的检测模型的结构示意图；
[0025]图15是本申请某些实施方式的检测装置的模块示意图；
[0026]图16是本申请某些实施方式的非易失性计算机可读存储介质和处理器的连接状态示意图。
具体实施方式
[0027]下面详细描述本申请的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中，相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的实施方式的限制。
[0028]请参阅图1至图3，本申请实施方式提供一种检测方法，检测方法包括：
[0029]步骤011：获取原始图像。
[0030]可选地，原始图像可通过线扫相机30拍摄待测件200得到。
[0031]具体地，检测设备100包括线扫相机30和处理器40。线扫相机30可用于采集原始图像。在需要检测时，通过处理器40控制线扫相机30拍摄待测件200，从而获取原始图像。需要说明的，技术人员可以通过设置通过电子设备(手机或者平板)向处理器40发送控制信息，通过处理器40控制线扫相机30拍摄待测件200的原始图像。
[0032]可选地，原始图像中可包括待测件200的部分缺陷(如漏涂缺陷、凹凸缺陷和墨点缺陷)。
[0033]步骤012：对原始图像进行图像预处理，以获取原始图像中的多个缺陷区域的待测图像。
[0034]可选地，图像预处理可包括通过提取满足对比度阈值的缺陷像素以确定缺陷区域(如抽取凹凸点缺陷)。
[0035]具体地，在将待测图像输入到预设的检测模型之前，对获取的原始图像进行图像预处理，从而获取原始图像中的多个缺陷区域，并基于多个缺陷区域分别确定每个缺陷区域对应的待测图像。如通过对原始图像进行图像预处理，分别获取了缺陷区域A1对应的待测图像B1，缺陷区域A2对应的待测图像B2，缺陷区域A3对应的待测图像B3，缺陷区域A4对应的待测图像B4。
[0036]可选地，待测图像中可包括待测件200中的一个缺陷。
[0037]步骤013：输入待测图像到预设的检测模型，以输出每个待测图像的缺陷信息。
[0038]其中，预设的检测模型为在检测设备100出厂之前提前训练好的检测模型。
[0039]具体地，在获取到多个缺陷区域的待测图像的情况下，将待测图像输入到预设的检测模型中，通过检测模型检测每个待测图像的缺陷信息，以将每个待测图像的缺陷信息输出。如分别将待测图像B1、待测图像B2、待测图像B3和待测图像B4输入到检测模型，从而获取待测图像B1的缺陷信息、待测图像B2的缺陷信息、待测图像B3的缺陷信息和待测图像B4的缺陷信息。
[0040]可选地，缺陷信息可包括缺陷类型(如漏涂缺陷)、缺陷的置信度(如漏涂缺陷的置信度为95％)和缺陷面积(如漏涂缺陷的面积为本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测方法，其特征在于，包括：获取原始图像；对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像；输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述获取原始图像包括：通过线扫相机拍摄传送带上移动的待测件，以获取所述待测件的多个局部的所述原始图像。3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像，包括：计算所述原始图像中每一列像素的像素值均值；分别根据每一列像素的像素值均值和预设像素值确定每一列像素对应的校正系数；及分别根据每一列像素对应的校正系数校正每一列像素的像素值。4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述对所述原始图像进行图像预处理，以获取所述原始图像中的多个缺陷区域的待测图像，还包括：基于预设阈值，确定校正后的所述原始图像中的目标像素；将相邻的所述目标像素连通，以获取连通区域；根据所述连通区域确定所述缺陷区域，并将所述缺陷区域的图像裁切出来以作为所述待测图像。5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，还包括：根据待测件的类型确定一个或多个预设缺陷；及根据所述预设缺陷确定所述预设阈值。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述缺陷信息包括缺陷类型和置信度，所述输入所述待测图像到预设的检测模型，以输出每个所述待测图像的缺陷信息，包括：输出所述待测图像中的缺陷为每个所述缺陷类型的所述置信度；或者，输出所述置信度最大的所述缺陷类型；或者，输出所述置信度大于预设置信度的所述缺陷类型。7...
【专利技术属性】
技术研发人员：陆佳磊，李宝同，周正清，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。