方棒几何参数检测机及检测方法技术

本申请公开了一种方棒几何参数检测机及检测方法，方棒几何参数检测机包括机座、支撑机构、检测机构、驱动机构和控制器，支撑机构安装在机座上，支撑机构上设有标准块、方棒、激光测距传感器，检测机构包括检测基板、接触式测量传感器，检测基板上设有供方棒与支撑机构通过的通道，接触式测量传感器用于感应方棒的横截面位点信息，驱动机构与检测基板相连以驱动检测基板前后往复移动，控制器用于控制检测机中各电气元件的工作情况，根据激光测距传感器和接触式测量传感器检测到的信息计算方棒的几何参数值，该方棒几何参数检测机根据检测参数需求精准获取方棒对应的几何参数值，参数检测准确度及检测效率高，可检测的方棒几何参数类型多。类型多。类型多。

【技术实现步骤摘要】
方棒几何参数检测机及检测方法


[0001]本专利技术属于的
，尤其涉及方棒几何参数检测机及检测方法。

技术介绍

[0002]在太阳能单晶硅片制造过程中，需要将单晶硅棒磨削切方制成单晶方棒。为了保证单晶方棒的产品质量，需要在出厂及生产工序中对对单晶方棒的几何参数信息如长度、垂直度等进行检测工作。传统的方棒检测工作一般由人工进行，随着技术发展，人们研发了方棒全自动检测机已经行自动化检测，现有的方棒全自动检测机存在检测精度不够高,方棒几何参数可检测项数较少等问题。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的就是解决
技术介绍
中的问题，提出一种方棒几何参数检测机及检测方法。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出了一种方棒几何参数检测机，包括：
[0005]机座；
[0006]支撑机构，所述支撑机构安装在机座上，支撑机构上安装有标准块、检测方棒长度用的激光测距传感器，支撑机构上放置有待检测的方棒，所述标准块中部设有通孔；
[0007]检测机构，所述检测机构包括检测基板、安装在检测基板上的若干接触式测量传感器，所述检测基板上设有供方棒与支撑机构通过的通道，所述接触式测量传感器用于感应方棒和标准块的横截面位点信息；
[0008]驱动机构，所述驱动机构安装在机座上，驱动机构与检测基板相连，用于驱动检测基板前后往复移动；
[0009]控制器，所述控制器用于控制检测机中各电气元件的工作情况，根据激光测距传感器检测到的长度信息和接触式测量传感器检测到的横截面位点信息计算方棒的几何参数值，几何参数值包括方棒的长度、边长、垂直度、锥度、直径、弦长、弦长投影中的至少一种。
[0010]作为优选，所述支撑机构包括支撑立板和支撑横杆，两根支撑横杆相平行设置并形成有与方棒、标准块侧面相适应的V形限位区，支撑横杆的两端分别与两块支撑立板相连，支撑横杆安装有标准块固定板和若干接触块，所述激光测距传感器安装在支撑立板上。
[0011]作为优选，所述标准块固定板上安装有可移动的顶紧块，标准块固定板设有卡口，所述标准块放置在标准块固定板的卡口处并用螺钉使得顶紧块将标准块紧贴固定在标准块固定板上。
[0012]作为优选，所述驱动机构包括主动丝杠滑块模组、从动丝杠滑块模组，所述主动丝杠滑块模组的丝杠与第一伺服电机相连，所述检测基板的两端分别与主动丝杠滑块模组、从动丝杠滑块模组上滑块相连。
[0013]作为优选，其中部分所述接触式测量传感器由线性模组控制其以移动使得该接触
式测量传感器与方棒、标准块感应以获取横截面位点信息。
[0014]作为优选，所述检测基板的正面安装有若干吹气喷嘴、位移传感器，检测基板的反面安装有端面测长传感器，所述吹气喷嘴的喷嘴口朝向所述通道设置。
[0015]作为优选，所述检测基板底部安装有光栅尺。
[0016]作为优选，所述检测基板底部安装有若干防撞杆，所述检测基板底部一侧安装有光电开关挡片，所述机座上设有两个光电开关座，所述检测基板移动至最大限位时光电开关挡片挡住光电开关座。
[0017]本专利技术还提出了一种基于上述方棒几何参数检测机的检测方法，包括以下几个步骤：
[0018]以检测基板的中心位置作为坐标原点，建立坐标系；
[0019]取方棒第一位置的纵截面外侧的若干位点作为第一检测点，确定各位点相应的位置坐标，接触式测量传感器感应测量各位点距离方棒纵截面外沿的距离；
[0020]水平移动检测基板至方棒的第二位置，取方棒第二外置的纵截面外侧的若干位点作为第二检测点，确定各位点相应的位置坐标，接触式测量传感器感应测量各位点距离方棒纵截面外沿的距离；
[0021]根据各第一检测点位置的距离值、位置坐标以及各第二检测点位置的距离值、位置坐标，计算方棒的几何参数值，几何参数值包括方棒的长度、边长、垂直度、锥度、直径、弦长、弦长投影中的至少一种。
[0022]作为优选，所述方棒为长方体形状且长方体四周拐角位置经过倒角处理，选取所述方棒端面外沿的位点数为10且分别位于方棒端面外沿相邻的两条边上。
[0023]本专利技术的有益效果：本专利技术通过将方棒、标准块放置在支撑机构上，通过驱动检测机构移动，检测机构的多个接触式测量传感器能够检测方棒与标准块的横截面多个位点信息计算方棒的多个几何参数值，并将方棒的几何参数值与标准块的对应几何参数值进行对比，判断方棒质量是否合格，方棒几何参数检测机根据检测参数需求精准获取方棒对应的几何参数值，参数检测准确度及检测效率高。
[0024]本专利技术的特征及优点将通过实施例结合附图进行详细说明。
附图说明
[0025]图1是本专利技术实施例的结构示意图。
[0026]图2是本专利技术实施例的支撑机构示意图。
[0027]图3是本专利技术实施例的机座示意图。
[0028]图4是本专利技术实施例的检测机构示意图。
[0029]图5是本专利技术实施例的检测机构示意图。
[0030]图6是本专利技术实施例的检测机构局部示意图。
[0031]图7是本专利技术实施例的检测机构局部示意图。
[0032]图8是本专利技术实施例的方棒坐标系示意图。
[0033]图9是本专利技术实施例的方棒平面与弦长位置关系示意图。
[0034]图10是本专利技术实施例的方棒测量截面外切圆弦长关系图。
[0035]图中：1
‑
机座、2
‑
支撑机构、3
‑
检测机构、4
‑
标准块、5
‑
方棒、6
‑
接触式测量传感器、
7
‑
线性模组、11
‑
驱动机构、21
‑
标准块固定板、22
‑
接触块、23
‑
、24
‑
顶紧块、31
‑
喷气喷嘴、32
‑
位移传感器、33
‑
端面测长传感器、34
‑
防撞杆、35
‑
光栅尺。
具体实施方式
[0036]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。在本申请的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0037]在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方棒几何参数检测机，其特征在于,包括：机座；支撑机构，所述支撑机构安装在机座上，支撑机构上安装有标准块、检测方棒长度用的激光测距传感器，支撑机构上放置有待检测的方棒，所述标准块中部设有通孔；检测机构，所述检测机构包括检测基板、安装在检测基板上的若干接触式测量传感器，所述检测基板上设有供方棒与支撑机构通过的通道，所述接触式测量传感器用于感应方棒和标准块的横截面位点信息；驱动机构，所述驱动机构安装在机座上，驱动机构与检测基板相连，用于驱动检测基板前后往复移动；控制器，所述控制器用于控制检测机中各电气元件的工作情况，根据激光测距传感器检测到的长度信息和接触式测量传感器检测到的横截面位点信息计算方棒的几何参数值，几何参数值包括方棒的长度、边长、垂直度、锥度、直径、弦长、弦长投影中的至少一种。2.如权利要求1所述的方棒几何参数检测机，其特征在于：所述支撑机构包括支撑立板和支撑横杆，两根支撑横杆相平行设置并形成有与方棒、标准块侧面相适应的V形限位区，支撑横杆的两端分别与两块支撑立板相连，支撑横杆安装有标准块固定板和若干接触块，所述激光测距传感器安装在支撑立板上。3.如权利要求2所述的方棒几何参数检测机，其特征在于：所述标准块固定板上安装有可移动的顶紧块，标准块固定板设有卡口，所述标准块放置在标准块固定板的卡口处并用螺钉使得顶紧块将标准块紧贴固定在标准块固定板上。4.如权利要求1所述的方棒几何参数检测机，其特征在于：所述驱动机构包括主动丝杠滑块模组、从动丝杠滑块模组，所述主动丝杠滑块模组的丝杠与第一伺服电机相连，所述检测基板的两端分别与主动丝杠滑块模组、从动丝杠滑块模组上滑块相连。5.如权利要求1所述的方棒几何参...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈浩，
申请(专利权)人：杭州固方机电有限公司，
类型：发明
国别省市：