一种调节系统及方法技术方案

本申请实施例提供了一种调节系统及方法，其中，该调节系统包括样品存放库、送风装置、多个采集点、多个采集装置以及调节装置。具体地，样品存放库用于存放样品；送风装置用于将样品存放库中的样品吹向上述多个采集点；多个采集装置用于采集能够表征多个采集点上样品的量的多个参数；调节装置用于基于上述多个参数获得调节信息，其中，调节信息用于对影响上述多个采集点上样品的量的变量进行调节，直至上述多个采集点上样品的量满足样品量要求。利用上述调节系统获得的调节信息能够调节多个采集点上样品的量，相当于多个采集点所处环境中的样品浓度是可以调节的。当上述可以调节的环境用于测试电子设备的性能时，可以提高测试结果的准确性。的准确性。的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种调节系统及方法


[0001]本申请涉及电子设备测试领域，尤其涉及一种调节系统及方法。

技术介绍

[0002]电子设备在运行过程中，运行环境中的灰尘会随着设备的系统风向被不断地带入到该设备中，这不仅会影响设备的散热，还会影响设备的使用寿命，从而导致设备无法正常运行。因此，对电子设备进行积尘测试，以此来确定电子设备适用的运行环境是极其重要的。
[0003]目前，主要使用积尘箱对电子设备进行积尘测试，测试原理如图1所示：在压缩机的作用下，灰尘库中的灰尘通过管道吹向正在运行待测设备。一段时间后，打开积尘箱的测试箱门并将待测设备取出，然后对附着有灰尘的待测设备进行性能检测，以确定上述灰尘量对该设备的性能产生的影响。但是，通过上述积尘测试的测试结果并不准确，这是因为：
①
在积尘箱的使用过程中，管道中残留的灰尘越来越多，灰尘库中剩余的灰尘也越来越少，当管道中残留的积尘过多，或灰尘库中剩余的灰尘过少时，积尘箱模拟的灰尘环境与真实的灰尘环境出现偏差，从而导致待测设备上的灰尘量无法达到真实环境中应附着在该设备上的灰尘量。
②
在一些情况下，可能需要多次开箱取出待测设备，从而确定不同灰尘量对该设备的影响。或者，在对上述待测设备进行积尘测试的过程中，还将其他的设备放入了积尘箱中进行测试。由于多次打开积尘箱或者打开积尘箱的时间过长时，相当于引入了外部条件，因此上述两种情况也会使得积尘箱模拟的灰尘环境与真实的灰尘环境出现偏差，从而导致测试结果不准确。
[0004]因此，如何减少模拟的灰尘环境与真实的灰尘环境之间的差异，以此来提高积尘测试的准确性仍然是当前急需解决的问题。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种调节系统及方法，即：通过调节采集点上样品的量来调节环境中的样品浓度，可以模拟出目标测试环境，目标测试环境与电子设备所处的真实运行环境的差异较小，也就是说，利用上述目标测试环境来测试电子设备的性能时，可以提高测试结果的准确率。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种调节系统，该调节系统包括样品存放库、送风装置、多个采集点、多个采集装置以及调节装置。其中，样品存放库用于存放样品；送风装置用于将样品存放库中的样品吹向上述多个采集点；多个采集装置用于采集能够表征多个采集点上样品的量的多个参数；调节装置用于基于上述多个参数获得调节信息，调节信息用于对影响上述多个采集点上样品的量的变量进行调节，直至上述多个采集点上样品的量满足样品量要求。利用上述调节系统获得的调节信息能够调节多个采集点上样品的量，相当于多个采集点所处环境中的样品浓度是可以调节的。当上述可以调节的环境用于测试电子设备的性能时，可以提高测试结果的准确性。
[0007]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述样品存放库、送风装置、多个采集点以及多个采集装置部署在封闭空间内，并且，上述封闭空间还用于放置处于运行状态的待测设备。上述送风装置还用于将样品存放库中的样品吹向上述待测设备；上述调节装置还用于基于上述调节信息模拟目标测试环境，确定上述待测设备在目标测试环境下的性能，其中，在目标测试环境下，上述多个采集点上样品的量满足样品量要求。应理解，封闭空间可以使得电子设备的性能测试更加准确，从而提高电子设备的性能测试的准确性。
[0008]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述影响多个采集点上样品的量的变量包括：送风装置向多个采集点鼓吹样品的时长、送风装置向多个采集点鼓吹样品的力度(如送风装置工作时的功率)、以及样品存放库中样品的量中的至少一个。不难理解，送风装置向多个采集点鼓吹样品的时间越长、或鼓吹样品的力度越大，多个采集点上样品的量越多，相反地，送风装置向多个采集点鼓吹样品的时间越短、或鼓吹样品的力度越小、或样品存放库中样品的量不足时，多个采集点上样品的量越少。
[0009]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述样品存放库中的样品通过管道吹向上述多个采集点，那么，上述影响多个采集点上样品的量的变量还包括管道内残留的样品的量。应理解，当样品存放库中的样品通过管道吹向多个采集点时，管道中残留的样品也会随之吹向多个采集点，这会导致多个采集点上样品的量变多。
[0010]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述调节装置用于基于上述采集装置采集到的多个参数确定上述多个采集点上样品的量与样品量要求之间的差异，当多个采集点上样品的量大于样品量要求时，上述调节信息包括缩短送风装置向多个采集点鼓吹样品的时长、减小送风装置向多个采集点鼓吹样品的力度、以及清理管道中的一个或多个；当多个采集点上样品的量小于样品量要求时，上述调节信息包括增加送风装置向多个采集点鼓吹样品的时长、增大送风装置向多个采集点鼓吹样品的力度、以及向样品存放库中添加样品中的一个或多个。
[0011]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述多个参数包括多个采集点的图像、多个采集点的图像特征、多个采集点的重量、多个采集点的反射率、以及所述多个采集点的透射率中的一个或多个。
[0012]在第一方面的一种可能的实现方式中，上述样品包括灰尘和腐蚀性物质(如盐、硫化物质等)中的一种或多种。也就是说，上述调节系统能够模拟多种自然环境(如盐雾环境、硫化环境等)，从而测试电子设备在多种自然环境下的性能。
[0013]第二方面，本申请实施例提供了一种调节方法，该方法可以应用于调节系统，该调节系统包括样品存放库、送风装置、多个采集点、多个采集装置以及调节装置。其中，样品存放库存放有样品，样品存放库中的样品在送风装置的作用下吹向上述多个采集点。上述方法包括：调节装置获取上述多个采集装置采集的多个参数，上述多个参数用于表征上述多个采集点上样品的量，之后，基于多个参数获得调节信息，其中，调节信息用于对影响上述多个采集点上样品的量的变量进行调节，直至上述多个采集点上样品的量满足样品量要求。
[0014]在第二方面的一种可能的实现方式中，上述样品存放库、送风装置、多个采集点、多个采集装置以及处于运行状态的待测设备部署在封闭空间内，上述方法还包括：调节装置基于上述调节信息模拟目标测试环境，以确定待测设备在目标测试环境下的性能，其中，
在目标测试环境下，上述多个采集点上样品的量满足样品量要求。
[0015]在第二方面的一种可能的实现方式中，上述影响多个采集点上样品的量的变量包括：送风装置向多个采集点鼓吹样品的时长、送风装置向多个采集点鼓吹样品的力度、以及样品存放库中样品的量中的一个或多个。
[0016]在第二方面的一种可能的实现方式中，上述样品存放库中的样品通过管道吹向上述多个采集点，那么，上述影响多个采集点上样品的量的变量还包括管道内残留的样品的量。
[0017]在第二方面的一种可能的实现方式中，上述调节装置基于多个采集参数获得调节信息，包括：基于多个参数确定上述多个采集点上样品的量与样品量要求之间的差异，当多个采集点上样品的量大于样品量要求时，上述调节信息包括缩短送风装置向多个采集点鼓吹样品的时长、减小送风装置向多个采集点鼓吹样品本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种调节系统，其特征在于，所述调节系统包括样品存放库、送风装置、多个采集点、多个采集装置以及调节装置，所述样品存放库，用于存放样品；所述送风装置，用于将所述样品吹向所述多个采集点；所述多个采集装置，用于采集多个参数，其中，所述多个参数用于表征所述多个采集点上所述样品的量；所述调节装置，用于基于所述多个参数获得调节信息，其中，所述调节信息用于对影响所述多个采集点上所述样品的量的变量进行调节，直至所述多个采集点上所述样品的量满足样品量要求。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述样品存放库、所述送风装置、所述多个采集点以及所述多个采集装置部署在封闭空间内，所述封闭空间，还用于放置处于运行状态的待测设备；所述送风装置，还用于将所述样品吹向所述待测设备，所述调节装置，还用于基于所述调节信息模拟目标测试环境，确定所述待测设备在所述目标测试环境下的性能，其中，在所述目标测试环境下，所述多个采集点上所述样品的量满足所述样品量要求。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述影响所述多个采集点上样品的量的变量包括：所述送风装置向所述多个采集点鼓吹所述样品的时长、所述送风装置向所述多个采集点鼓吹所述样品的力度、以及所述样品存放库中所述样品的量中的一个或多个。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述样品存放库中的所述样品通过管道吹向所述多个采集点，所述影响所述多个采集点上样品的量的变量还包括所述管道内残留的样品的量。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述调节装置，用于基于所述多个参数确定所述多个采集点上所述样品的量与所述样品量要求之间的差异，当所述多个采集点上所述样品的量大于所述样品量要求时，所述调节信息包括缩短所述时长、减小所述力度、以及清理所述管道中的一个或多个；当所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫以建，翟厚明，郭志刚，郭江，张明华，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：