单板的电路测试方法和单板技术

本发明专利技术提供单板的电路测试方法和单板，应用于芯片测试技术。在本发明专利技术的单板进行电路测试时，扣板扩展模块将扣板在位或不在位的状态信号输出到选择模块的控制选择端，来控制选择模块进行电路测试链的选择，本发明专利技术中在扣板扩展模块中的扣板模块不在位时，可以形成电路测试链，当在位时也可以形成电路测试链，简化了现有技术中对电子器件进行测试的过程中单板和扣板扩展模块需要进行单独成链测试的流程；且本发明专利技术的方案比较简单，不需要对底板和扣板做很大的改变即可实现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片测试技术，特别涉及单板的电路测试方法和单板。
技术介绍
随着电路技术进入超大规模集成时代，电路的测试更加复杂，而联合测试行动组(Joint Test Action Group, JTAG)技术的发展促进了现代单板测试 技术的发展。JTAG是一种国际标准测试协议，主要用于芯片的内部测试，基 本原理是在电子器件内部定义一个测试访问口 ，在这个测试访问口连4^专用 的JTAG测试工具进行内部节点的测试，允许多个器件通过JTAG接口串联在一 起形成一个JTAG链来测试，现在许多集成电路(IC)器件都能通过JTAG进行 测试，这些器件称为JTAG器件。在许多单板即印制电路板(PCB )设计中，将多个JTAG器件串联成一条 链，这样在进行测试时，可以将所述多个串联的JTAG器件与JTAG测试工具串 联成JTAG链进行测试，方便生产调试。由于结构或者扩展功能等需求，通过 连接器或连接接口在较大PCB上扩展一块或者多块小的PCB板，所述大的PCB 板即为底板，而所述一块或多块小的PCB板即为扣板(子卡)。若扩展的扣板 上存在JTAG器件，由于生产、调试以及通itJTAG链在线升级软件等需求存在， 在设计底板和扣板时会将底板上的JTAG器件串联成一条IC链，而扣板上的 JTAG器件串联成另 一条IC链，这样可以对底板上和扣板上的JTAG器件单独进 行JTAG成链测试；或将扣板上的JTAG器件和底板上的JTAG器件串联成一条 IC链，这样在进行JTAG测试时，在所述IC链中串耳关入JTAG测试工具形成JTAG 链即可进4于方i"更的测试。以底板上有两个JTAG器件ICO和ICn，且该底板能扩展一个扣板，在扣板 上有两个JTAG器件ICxl和ICxl为例，参阅图la,为底板和扣板处在JTAG测试 状态的结构示意图，扣板上的IC器件和底板上的IC器件通过连接器连接，且 在进行JTAG测试时，JTAG测试设备、IC0、连接器、扣板上的ICxl、 ICx2、 连接器、ICn及JTAG接口串联成一条JTAG链进行测试；参阅图lb,为底板处 在JTAG测试状态的结构示意图，扣板上的IC器件通过连接器和底板连接，且底板在进行JTAG测试时，JTAG接口、 IC0、 ICn及JTAG接口串联成一条JTAG链进4于测试。对上述现有技术中扩展的单板进行JTAG测试的实践和研究过程中，本发 明的专利技术人发现对于现有技术中底板和扣板上的JTAG器件单独形成不同的JTAG链进行 测试时，需要对底板和扣板上的器件分别测试，如果底板能扩展三个以上甚 至更多扣板时，需要进行多次测试，这样测试程序比较繁瑣；且并不能测试 扣板上的JTAG器件连接到底板后的性能。对于底板和扣板上的JTAG链能串联成一条IC链来说，由于PCB产品功能 需求的不同，扣板存在需要接入底板的应用场景，也存在不需要接入底板的 应用场景，即扣板存在不在位或者在位的应用情况。现有技术中，若扣板在 不在位的应用情况下，扣板上所有电子器件与底板断开连接，则扣板上的JTAG 器件不能串联入底板的IC链中，这样在进行JTAG测试时，底板上的JTAG器件 和JTAG测试设备则不能形成JTAG链，使得底板上的IC器件的测试需要通过其 它方法进行测试，增加了测试的复杂程度。总之，现有技术中，单板进行JTAG测试时，比较繁瑣，效率较低。
技术实现思路
本专利技术提供单板的电路测试方法和单板，使得对扣板和底板上IC器件的测试得到简化。本专利技术提供的一种单板，包括选择才莫块，所述选择模块包括至少一个控制选择端；扣板扩展模块，所述扣板扩展才莫块包括至少 一个指示状态的状态控制端；所述选择模块与所述单板上的电子器件串联连接成第一 串联链；所述扣板扩展模块的状态控制端和所述选择模块的控制选择端相连接；所述选择模块，用于在所述控制选择端接收到所述扣板扩展模块的状态控制端输出的信号指示所述扣板扩展模块的状态为不在位时，使所述第一串联链处于连通状态。一种单板的电路测试方法，包括 获取扣板是否在位的状态信号；冲艮据所述状态信号的值，使所述单板上的第 一 串联链处于连通或者断开 状态，所述第一串联链由所述单板上的电子器件串联形成。可见，本专利技术的单板进行电路测试时，扣板扩展才莫块将扣板在位或不在 位的状态信号输出到选择模块的控制选择端，来控制选择模块进行电路测试 链的选择，本专利技术中在扣板扩展模块中的扣板模块不在位时，可以形成电路 测试链，当在位时也可以形成电路测试链，简化了现有技术中对电子器件进行测试的过程中单板和扣板扩展模块需要进行单独成链测试的流程；且本发 明的方案比较简单，不需要对底板和扣板做很大的改变即可实现。附图说明为了更清楚地说明本J^明实施例或现有技术中的4支术方案，下面将对实 施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面 描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲， 在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 图la是现有技术中一种扩展的PCB板的结构示意图； 图lb是现有技术中另 一种扩展的PCB板的结构示意图； 图2是本专利技术实施例一提供的一种单板的逻辑结构示意图； 图3a是本专利技术实施例一的单板中的选择模块的逻辑结构示意图； 图3b是本专利技术实施例一的单板中的另 一中选择才莫块的逻辑结构示意图； 图4是本专利技术实施例一的单板中的扣板扩展模块的逻辑结构示意图； 图5是本专利技术实施例一在实际应用中一种具体的单板的电路图； 图6是本专利技术实施例二提供的一种单板的逻辑结构示意图； 图7是本专利技术实施例三提供的一种测试单板电路的方法。具体实施例方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作 出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。 实施例一请参阅图2, —种单板IO,图2为单板10处在JTAG测试状态的结构示意图， 所述单板10包括扣板扩展模块11 、选择模块12和至少一个支持JTAG协议的电 子器件(图2以ICyl、 ICy2和ICyn为例，但不限于此)。其中扣板扩展模块11包括至少一个指示状态的状态控制端4，可以理解，扣板 扩展模块11是单板10上可以扩展扣板的模块，用来挂载扣板，从状态控制端4 输出的信号用以指示扣板扩展模块ll是否在位的状态，即指示挂载的扣板是 否运作的状态信号或指示扣板扩展模块ll是否挂载了扣板。选捧模块12包括至少一个控制选择端0，扣板扩展模块11的状态控制端4 和选择模块12的控制选择端0相连接。本实施例以两个串联链为例说明，即扩版扩展模块ll可以扩展一个扣板， 但是不限于此。所述选择模块12的端口 l及端口 2与所述单板10上支持JTAG协 议的电子器件ICyl、 ICy2和ICyn串联连接成第一串联链；所述选择模块12的 端口 i及端口3、扣板扩展模块11及单板10上支持JTAG协议的电子器件ICyl、 ICy2和ICyn串联连4娄成一个子串联链。所述选择模块12的端口1可以是输入端，也可以是输出端；端口2和3可以 同时是输入端，也本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单板，其特征在于，所述单板包括：　选择模块，所述选择模块包括至少一个控制选择端；　扣板扩展模块，所述扣板扩展模块包括至少一个指示状态的状态控制端；所述选择模块与所述单板上的电子器件串联连接成第一串联链；　所述扣板扩展模 块的状态控制端和所述选择模块的控制选择端相连接；　所述选择模块，用于在所述控制选择端接收到所述扣板扩展模块的状态控制端输出的信号指示所述扣板扩展模块的状态为不在位时，使所述第一串联链处于连通状态。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘海新，叶小龙，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]