本申请涉及一种固态硬盘PLP功能的并行测试方法、系统、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：通过测试软件客户端选择批量的待测固态硬盘和PLP测试用例发起测试；获取每片待测固态硬盘对应在扩展卡的物理地址，并依据PLP测试用例对所有待测固态硬盘发起测试；测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制，其中每台测试机可控制多个扩展卡，每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平；控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试。本发明专利技术可实现大批量SSD的同步测试，且支持多进程，可以将PLP功能和其他功能进行交互测试，具有很广阔的应用前景。具有很广阔的应用前景。具有很广阔的应用前景。
【技术实现步骤摘要】
固态硬盘PLP功能的并行测试方法、系统和计算机设备
[0001]本专利技术涉及固态硬盘测试
，特别是涉及一种固态硬盘PLP功能的并行测试方法、系统、计算机设备和存储介质。
技术介绍
[0002]在固态硬盘(Solid State Drive，固态硬盘)的使用过程中，主机的异常断电会导致数据丢失，为了解决这个难题，产生了固态硬盘的掉电保护功能(Power Loss Protection，简称PLP)。企业级固态硬盘通常是通过增加电容硬件的方式来实现该功能，在固态硬盘被断电后，电压检查电路监测到电压低于设定阈值，使用电容进行短期供电，在这期间固态硬盘将缓存中的数据写入到非易失存储器中。消费级固态硬盘因为超薄的外观设计，无法增加电容硬件，对于掉电保护的功能较难实现。
[0003]联想ThinkPad笔记本PLP方案为客制化方案，目前有两种测试方式：1.联想公司自研的测试盒，该测试盒不外售且只支持同时测试1片固态硬盘，无法并行测试。2.U
‑
Link公司的DriveMaster测试环境，该环境只支持同时测试1片固态硬盘，不支持多进程，无法并行测试。显然，上述两种基于现有的测试方案，测试效率极其低下。
技术实现思路
[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种固态硬盘PLP功能的并行测试方法、系统、计算机设备和存储介质。
[0005]一种固态硬盘PLP功能的并行测试方法，所述方法包括：
[0006]通过测试软件客户端选择批量的待测固态硬盘和PLP测试用例发起测试；
[0007]获取每片待测固态硬盘对应在扩展卡的物理地址，并依据PLP测试用例对所有待测固态硬盘发起测试；
[0008]在测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制，其中每台测试机可控制多个扩展卡，每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平；
[0009]控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试。
[0010]在其中一个实施例中，所述在测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制的步骤包括：
[0011]拉低扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉低，拉高扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉高。
[0012]在其中一个实施例中，所述控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试的步骤包括：
[0013]拉低PLN#引脚电平并持续一段时间，待测固态硬盘将进入PLP处理流程，停止当前未完成的工作，不再响应新的读写及其他命令并将缓存中的数据保存到非易失存储器中；
[0014]拉高PLN#引脚电平，待测固态硬盘将恢复到正常工作模式。
[0015]在其中一个实施例中，所述每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平的步骤还包括：
[0016]每片扩展卡可控制4个待测固态硬盘的PLN#引脚电平，整台测试机可同时或单独控制至多160片待测固态硬盘的PLN#引脚电平。
[0017]一种固态硬盘PLP功能的并行测试系统，所述系统包括：
[0018]测试软件客户端，所述测试软件客户端用于批量的待测固态硬盘和PLP测试用例发起测试；
[0019]控制机，所述控制机用于获取每片待测固态硬盘对应在扩展卡的物理地址，并依据PLP测试用例对所有待测固态硬盘发起测试；控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试；
[0020]测试机，在测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制，其中每台测试机可控制多个扩展卡，每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平。
[0021]在其中一个实施例中，所述控制机还用于：
[0022]拉低扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉低，拉高扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉高。
[0023]在其中一个实施例中，所述控制机还用于：
[0024]拉低PLN#引脚电平并持续一段时间，待测固态硬盘将进入PLP处理流程，停止当前未完成的工作，不再响应新的读写及其他命令并将缓存中的数据保存到非易失存储器中；
[0025]拉高PLN#引脚电平，待测固态硬盘将恢复到正常工作模式。
[0026]在其中一个实施例中，每片扩展卡可控制4个待测固态硬盘的PLN#引脚电平，整台测试机可同时或单独控制至多160片待测固态硬盘的PLN#引脚电平。
[0027]一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意一项方法的步骤。
[0028]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任意一项方法的步骤。
[0029]上述固态硬盘PLP功能的并行测试方法、系统、计算机设备和存储介质，通过测试软件客户端选择批量的待测固态硬盘和PLP测试用例发起测试；获取每片待测固态硬盘对应在扩展卡的物理地址，并依据PLP测试用例对所有待测固态硬盘发起测试；测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制，其中每台测试机可控制多个扩展卡，每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平；控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试。本专利技术提出的并行测试固态硬盘PLP功能的方法，可实现大批量SSD的同步测试，且支持多进程，可以将PLP功能和其他功能进行交互测试，具有很广阔的应用前景。
附图说明
[0030]图1为一个实施例中固态硬盘PLP功能的并行测试方法的构架图；
[0031]图2为一个实施例中固态硬盘PLP功能的并行测试方法的流程示意图；
[0032]图3为另一个实施例中固态硬盘PLP功能的并行测试方法的流程示意图；
[0033]图4为一个实施例中固态硬盘PLP功能的并行测试系统的结构框图；
[0034]图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0035]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0036]目前，联想公司ThinkPad笔记本电脑提供了一种掉电保护的设计方案，误触笔记本电源按键后立即松手不会导致笔记本关机，在按住笔记本电源键50毫秒后，触发SSD的PLP功能，SSD不再接收新的I/O任务，SSD将缓存中的数据写入到非易失存储器中，在按住电源键4秒后笔记本关机。在PLP功能被启用后，SSD在4秒内完成数据刷新，表示数据已经安全存储，在自定义的日志中记录PLP已完成；SSD在4秒内未完成数据刷新的，不能保证数据安全，在自定义本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘PLP功能的并行测试方法，所述方法包括：通过测试软件客户端选择批量的待测固态硬盘和PLP测试用例发起测试；获取每片待测固态硬盘对应在扩展卡的物理地址，并依据PLP测试用例对所有待测固态硬盘发起测试；在测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制，其中每台测试机可控制多个扩展卡，每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平；控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试。2.根据权利要求1所述的固态硬盘PLP功能的并行测试方法，其特征在于，所述在测试机通过控制扩展卡和PLN#引脚相连电路的电平高低以实现对待测固态硬盘的PLN#引脚的电平控制的步骤包括：拉低扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉低，拉高扩展卡和PLN#相连电路的电平则PLN#电平被拉高。3.根据权利要求2所述的固态硬盘PLP功能的并行测试方法，其特征在于，所述控制待测固态硬盘的PLN#引脚电平以实现固态硬盘PLP功能测试的步骤包括：拉低PLN#引脚电平并持续一段时间，待测固态硬盘将进入PLP处理流程，停止当前未完成的工作，不再响应新的读写及其他命令并将缓存中的数据保存到非易失存储器中；拉高PLN#引脚电平，待测固态硬盘将恢复到正常工作模式。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的固态硬盘PLP功能的并行测试方法，其特征在于，所述每片扩展卡可控制多个待测固态硬盘的PLN#引脚电平的步骤还包括：每片扩展卡可控制4个待测固态硬盘的PLN#引脚电平，整台测试机可同时或单独控制至多160片待测固态硬盘的PLN#引脚电平。5.一种固态硬盘PLP功能的并行测试系统，其特征在于，所述系统包括：测试软件客户端，...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴斌，石骁，孙克庆，
申请(专利权)人：苏州忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。