一种电阻阵列辐射特性测试装置制造方法及图纸

一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统；在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。本实用新型专利技术一方面将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。另一方面，物方冷光阑遮挡了外围热部件所产生的热辐射光束，避免非均匀性冷反图像的产生。像的产生。像的产生。

【技术实现步骤摘要】
一种电阻阵列辐射特性测试装置


[0001]本技术涉及热成像领域，尤其是涉及一种电阻阵列辐射特性测试装置。

技术介绍

[0002]MOS电阻阵列因其具有将数字图像转换成红外图像的功能，而被广泛应用于红外制导武器半实物仿真复杂光电对抗目标环境特性的模拟中。目前，由于MOS电阻阵列内部结构的特殊性，其表面具有反射率高达80％以上的镜面反光特性。
[0003]如图1
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2所示，现有热像仪100的镜头为一次成像光学系统，为了遮挡红外探测器102周围环境产生的热噪声，在杜瓦瓶101内、红外探测器102的前方设置有像方冷光阑104，像方冷光阑104经镜头向物方空间成像称为入瞳。由于像方冷光阑104位于红外探测器102与镜头之间，像方冷光阑的中间像400成像于红外探测器102的后方，未起到遮挡电阻阵列301和红外探测器102之间环境热散辐射的作用，热散辐射被红外探测器102敏感，产生热噪声。另一方面，像方冷光阑104向物方空间成像光束被某一镜面(譬如MOS电阻阵列表面)反射后，再次经镜头成像在红外探测器102附近，红外探测器102敏感这一现象，被称为红外探测系统的冷反现象。由于像方冷光阑的温度(
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196℃)比其周围环境低，且冷反图像与红外探测器并不重合，因此冷反图像呈边缘模糊的黑斑图样，造成了测试图像的非均匀性。上述两种情况的叠加使得测试结果产生较大的偏差，严重影响了电阻阵列辐射特性测试的精准度。
[0004]上述问题一直困扰着电阻阵列辐射特性的测试。截止目前，尚未见到有关电阻阵列辐射特性测试方面的研究文献。

技术实现思路

[0005]为了克服
技术介绍
中的不足，本技术公开了一种电阻阵列辐射特性测试装置，其目的在于：消除冷光阑产生的热噪声和冷反现象。
[0006]为实现上述技术目的，本技术采用如下技术方案：
[0007]一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统；在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。
[0008]进一步地改进技术方案，物方冷光阑和电阻阵列安装在真空环境箱内，在真空环境箱朝向镜筒的一端安装有球面窗口板，球面窗口板用于将电阻阵列产生的、未能透射球面窗口板的热辐射散光向四周扩散反射，防止该热辐射散光被电阻阵列表面反射，形成背景热散辐射。
[0009]进一步地改进技术方案，物方冷光阑呈套筒形，电阻阵列位于物方冷光阑的内孔
中。
[0010]进一步地改进技术方案，在测试镜头上安装有红外波段滤光镜。
[0011]由于采用上述技术方案，相比
技术介绍
，本技术具有如下有益效果：
[0012]本技术一方面将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，使像方冷光阑真正起到了遮挡电阻阵列和红外探测器之间环境热散辐射的作用，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。另一方面，物方冷光阑遮挡了像方冷光阑之外的热部件所产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。
附图说明
[0013]图1为现有电阻阵列辐射特性测试装置的结构示意图。
[0014]图2为图1的光路图。
[0015]图3为本电阻阵列辐射特性测试装置的结构示意图。
[0016]图4为图3的光路图。
[0017]图5为球面窗口板的光路图。
[0018]图中：100、热像仪本体；101、杜瓦瓶；102、红外探测器；103、滤光镜；104、像方冷光阑；105、滤光轮；200、测试镜头；201、镜筒；202、后置成像镜组；203、前置成像镜组；204、红外波段滤光镜；300、真空环境箱；301、电阻阵列；302、衬底板；303、制冷器；304、物方冷光阑；305、球面窗口板；400、像方冷光阑的中间像；500、电阻阵列的热成像；600、电阻阵列的中间像。
具体实施方式
[0019]下面参照附图来描述本技术的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本技术的技术原理，并非旨在限制本技术的保护范围。需要说明的是，在本技术的描述中，术语“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。还需要说明的是，在本技术的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0020]一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体100、测试镜头200和电阻阵列301，下面具体说明其结构及作用。
[0021]如图3所示，热像仪本体100具有杜瓦瓶101和冷却系统，在杜瓦瓶101的内部依次设置有红外探测器102、滤光镜103和像方冷光阑104，在杜瓦瓶101窗口板的前方设置有滤光轮105。
[0022]测试镜头200连接在热像仪本体100的前端。不同于现有热像仪自带的单组成像镜头，在本测试镜头200的镜筒201内设置有一组前置成像镜组203和一组后置成像镜组202，
前置成像镜组203和后置成像镜组202能够前后移动，以调节电阻阵列301在红外探测器102上的成像。为了增加红外波段的滤光效果，在镜筒201的前端安装有红外波段滤光镜204。
[0023]测试镜头200的前方设置有真空环境箱300，在真空环境箱300朝向镜筒201的一端安装有球面窗口板305。在真空环境箱300内设置有物方冷光阑304、电阻阵列301、衬底板302和制冷器303。其中，电阻阵列301呈方形，安装在衬底板302上，物方冷光阑304位于测试镜头200与电阻阵列301之间。物方冷光阑304大致呈套筒形，具有向外延伸的盘面和方形的内孔，物方冷光阑304将电阻阵列301套入其方形内孔之内。衬底板302的背面紧贴着制冷器303，制冷器303能够通过衬底板302冷却电阻阵列301。
[0024]如图4所示，经过重新设计的前置成像镜组203和后置成像镜组202，能够将电阻阵列的中间像600成像于前置成像镜组203与后置成像镜组202之间，并将电阻阵列的热成像500成像在红外探测器102上。尤为重要的是，前置成像镜组203和后置成像镜组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电阻阵列辐射特性测试装置，包括热像仪本体、测试镜头和电阻阵列，热像仪本体具有红外探测器、像方冷光阑和冷却系统，其特征是：在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；所述测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组及镜筒构成，其中，前置成像镜组和后置成像镜组能够将像方冷光阑成像于物方冷光阑上，物方冷光阑能够遮挡像方冷光阑之外热部件产生的热辐射光束，防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。2.如权利要求1所述的一种电阻阵列辐射特性...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵松庆，张帆，李睿，郝燕云，姜东红，
申请(专利权)人：中国空空导弹研究院，
类型：新型
国别省市：