一种半导体外观检查治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体外观检查治具，包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。所述盖板和主板通过合页连接。所述盖板和主板采用A5052铝合金制成。本实用新型专利技术的半导体外观检查治具，提高了外观检查人员的工作效率，检查速度更快，操作起来更方便，同时也提高了检查效果，更容易发现不良品，避免不良品流动出去，降低质量事故的出现。通过轨道为U型结构，避开了引脚的位置，使产品可以顺利沿着轨道滑动，尾端安装挡块挡住产品，可微形调整位置。置。置。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体外观检查治具


[0001]本技术涉及半导体
，特别是一种半导体外观检查治具。

技术介绍

[0002]在半导体封装设计中，切测完的产品并不能做到百分百都是良品，会有少量的不良品混入其中，例如：引脚歪斜、引脚搭接、缺少印字等等，这些不良品一旦流动出去很容易造成质量事故，因此，在出库前，需要对产品进行外观检查，普通的人工检查非常困难，因为产品已经放进了料管中，如果料管中存在不良品，想要取出来就必须将不良品连带正常品一起倒出来，产品修好后再一颗一颗地装进料管，检查速度慢，效率低，易出错，操作员必须小心翼翼的检查，因为一不注意就会把正常品的引脚碰变形，增加工作量。
[0003]因此，需要设计一种半导体外观检查治具来协助操作员更快、更有效的检查产品。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的上述缺点，本技术提供一种半导体外观检查治具，旨在解决普通人工检查速度慢、效率低和易出错的问题。
[0005]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体外观检查治具，其特征在于：包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。
[0006]作为本技术的进一步改进：所述盖板和主板通过合页连接。
[0007]作为本技术的进一步改进：所述盖板和主板采用铝合金制成。
[0008]作为本技术的进一步改进：所述盖板采用A5052铝合金制成。通过盖板采用A5052铝合金制成，A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品模封体的摩擦。
[0009]作为本技术的进一步改进：所述主板采用A5052铝合金制成。通过主板采用A5052铝合金制成，A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品模封体的摩擦。
[0010]作为本技术的进一步改进：所述导向块和导向嘴采用不锈钢制成。
[0011]作为本技术的进一步改进：所述导向块和导向嘴采用SUS304制成。通过导向块和导向嘴采用SUS304制成，表面光滑，硬度大，耐磨性好，不易生锈。
[0012]作为本技术的进一步改进：所述盖板开设有若干个方形孔，若干个方形孔均匀分布于盖板上。通过盖板开设有方形孔便于观察产品模封体上印字内容是否正确，有无漏印错印。
[0013]作为本技术的进一步改进：所述主板的侧面开设有长条形槽。通过主板侧面开设有长条形槽，便于观察引脚有无变形。
[0014]作为本技术的进一步改进：所述主板的轨道上开设有若干个条形孔，若干个
条形孔均匀分布于轨道上。通过主板的轨道上开设有若干个条形孔，条形孔可减少产品模封体与轨道的接触面积，减小摩擦力，使产品在轨道上滑动更顺畅。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]1.本技术的半导体外观检查治具，提高了外观检查人员的工作效率，检查速度更快，操作起来更方便，同时也提高了检查效果，更容易发现不良品，避免不良品流动出去，降低质量事故的出现。
[0017]2.本技术通过轨道为U型结构，避开了引脚的位置，使产品可以顺利沿着轨道滑动，尾端安装挡块挡住产品，可微形调整位置。
[0018]3.本技术通过盖板和主板采用A5052铝合金制成，A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品模封体的摩擦。
[0019]4.本技术通过导向块和导向嘴采用SUS304制成，表面光滑，硬度大，耐磨性好，不易生锈。
[0020]5.本技术通过盖板开设有方形孔便于观察产品模封体上印字内容是否正确，有无漏印错印。通过主板侧面开设有长条形槽，便于观察引脚有无变形。通过主板的轨道上开设有若干个条形孔，条形孔可减少产品模封体与轨道的接触面积，减小摩擦力，使产品在轨道上滑动更顺畅。
[0021]6.本技术的治具通过设有方形孔、长条形槽和条形孔，可减轻治具的重量，减轻外观检查人员的劳动强度。
附图说明
[0022]图1为本技术的结构示意图。
[0023]图2为图1中A处的局部结构放大示意图。
[0024]图3为本技术的倒料状态的结构示意图。
[0025]图4为本技术的收料状态的结构示意图。
[0026]附图标记：10、治具；20、产品；30、料管；1、盖板；2、主板；3、导向块；4、导向嘴；5、合页；6、挡块；7、轨道；8、方形孔；91、长条形槽；92、条形孔。
具体实施方式
[0027]在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，有关术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。现结合附图说明与实施例对本技术进一步说明：
[0028]请参阅图1
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4，一种半导体外观检查治具，包括盖板1和主板2，所述盖板1和所述主板2铰接，所述主板2的开口端设有导向块3，所述主板2的尾端设有挡块6，所述盖板1的开口端安装有导向嘴4。
[0029]通过在治具10的开口位置安装导向嘴4，方便固定料管30。
[0030]所述盖板1和所述主板2通过合页5连接。盖板1和主板2通过合页5可以打开和关
闭，便于取出不合格的产品20。
[0031]所述盖板1和所述主板2采用铝合金制成。
[0032]优选的，所述盖板1采用A5052铝合金制成。
[0033]优选的，所述主板2采用A5052铝合金制成。
[0034]A5052的质量较轻，方便使用，而且强度高、塑性好，不易磨损，可以抵抗产品20模封体的摩擦。
[0035]所述导向块3和所述导向嘴4采用不锈钢制成。
[0036]优选的，所述导向块3和所述导向嘴4采用SUS304制成，表面光滑，硬度大，耐磨性好，不易生锈。
[0037]所述盖板1开设有若干个方形孔8，若干个方形孔8均匀分布于盖板1上。所述方形孔8与产品20适配。
[0038]通过盖板1开设有方形孔8便于观察产品20模封体上印字内容是否正确，有无漏印错印。若观察到产品20模封体上的印字内容有漏印或错印，则打开盖板1将不良品取出。
[0039]优选的，所述盖板1开设有15个方形孔8。
[0040]所述主板2设有轨道7，所述轨道7的一端与挡块6连接，轨道7的另一端与导向嘴4连接。所述轨道7与产品20适配。
[0041]所述轨道7的截本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体外观检查治具，其特征在于：包括盖板和主板，所述盖板和主板铰接，所述主板的开口端设有导向块，所述主板的尾端设有挡块，所述盖板的开口端安装有导向嘴；所述主板设有轨道，所述轨道的一端与挡块连接，轨道的另一端与导向嘴连接，所述轨道的截面为U型。2.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板和主板通过合页连接。3.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板和主板采用铝合金制成。4.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：所述盖板采用A5052铝合金制成。5.根据权利要求1所述的一种半导体外观检查治具，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：鄢坤，廖伟强，袁伟刚，范庆庆，徐世明，
申请(专利权)人：珠海格力新元电子有限公司，
类型：新型
国别省市：