一种微针测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及测试治具技术领域，尤其是一种微针测试治具，包括测试盒和底板，所述测试盒的内部固接有底板，所述底板的上表面固接有四个滑杆，所述滑杆的上方设置有测试机构，所述底板的上表面固接有两个弹簧，所述测试盒的内部固接有锁杆，所述测试盒的右侧通过销轴转动相连有盖板。通过第一通孔、支板、凹槽、针模块、微针之间的配合，针模块安装到凹槽内，微针的位置固定，将支板进行安装，使四个滑杆穿过分别穿过四个第一通孔，测试机构中针模块的数量根据芯片的大小进行安装，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，不需要更换不同的测试治具，大大减小了购买成本，不会造成资源的浪费，且通用性较高。且通用性较高。且通用性较高。

【技术实现步骤摘要】
一种微针测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，具体为一种微针测试治具。

技术介绍

[0002]技术随着人们生活水平的提高，电子产品日益进入人们的日常生活中；在电子产品的生产过程中，检测是必不可少的一道工序，对一些小型且多孔位的电子产品进行测试时，如芯片、电路板等，需要采用微针测试治具对产品进行定位固定。
[0003]例如专利号为CN210142159U的微针测试治具，所述插销插设连接孔及插孔以使所述压块可相对盖板转动，上述的微针测试治具的结构简单，盖板的一端与基板的一端枢接，通过翻转盖板即可取放产品，取放产品方便，有利于提高测试效率，上述文件仍存在不足，通过翻转盖板即可取放产品，取放产品方便，有利于提高测试效率，但是在进行测试时，会有不同种类的芯片需要进行测试，通常一种测试治具只能用于测试同一种产品，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，需要更换不同的测试治具，大大增加了购买成本，一定程度上造成资源的浪费，且通用性低下。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在当需要对其他尺寸的产品进行测试时，需要更换不同的测试治具的问题，而提出的一种微针测试治具。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]设计一种微针测试治具，包括测试盒和底板，所述测试盒的内部固接有底板，所述底板的上表面固接有四个滑杆，所述滑杆的上方设置有测试机构，所述底板的上表面固接有两个弹簧，所述测试盒的内部固接有锁杆，所述测试盒的右侧通过销轴转动相连有盖板。
[0007]优选的，所述测试机构包括第一通孔，所述第一通孔与滑杆的外壁间隙配合，所述第一通孔设置在支板的内部，所述支板的内部设置有凹槽，所述凹槽的内部卡接有针模块，所述针模块的上表面固接有微针。
[0008]优选的，所述支板的上方设置有顶板，所述顶板的内部设置有第二通孔，所述顶板的内部设置有微针孔。
[0009]优选的，所述盖板的内壁固接有按压块，所述按压块的外壁固接有海绵板。
[0010]优选的，所述盖板端部的内壁固接有锁块。
[0011]本技术提出的一种微针测试治具，有益效果在于：通过第一通孔、支板、凹槽、针模块、微针之间的配合，针模块安装到凹槽内，微针的位置固定，将支板进行安装，使四个滑杆穿过分别穿过四个第一通孔，测试机构中针模块的数量根据芯片的大小进行安装，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，不需要更换不同的测试治具，大大减小了购买成本，不会造成资源的浪费，且通用性较高。
附图说明
[0012]图1为本技术的结构示意图；
[0013]图2为本技术中测试盒、底板和第一通孔连接处的结构示意图；
[0014]图3为本技术中海绵板、盖板和锁块连接处的结构示意图；
[0015]图4为本技术中第一通孔、支板和凹槽连接处的结构示意图。
[0016]图中：1、测试盒，2、底板，3、测试机构，301、第一通孔，302、支板，303、凹槽，304、针模块，305、微针，3a1、显示器，4、弹簧，5、滑杆，6、顶板，7、第二通孔，8、锁杆，9、微针孔，10、海绵板，11、盖板，12、锁块，13、按压块。
具体实施方式
[0017]下面结合附图对本技术作进一步说明：
[0018]实施例1：
[0019]参照附图1
‑
4：本实施例中，一种微针测试治具，包括测试盒1和底板2，测试盒1的内部固接有底板2，底板2的上表面固接有四个滑杆5，滑杆5的上方设置有测试机构3，测试机构3能够对不同尺寸的产品进行测试，底板2的上表面固接有两个弹簧4，弹簧4的型号根据实际使用需求进行选择，满足工作需要即可，测试盒1的内部固接有锁杆8，测试盒1的右侧通过销轴转动相连有盖板11，盖板11的内壁固接有按压块13，按压块13的外壁固接有海绵板10，海绵板10防止按压块13对芯片造成损坏，盖板11端部的内壁固接有锁块12，锁块12与锁杆8卡接。
[0020]测试机构3包括第一通孔301、支板302、凹槽303、针模块304、微针305，第一通孔301与滑杆5的外壁间隙配合，滑杆5能够穿过第一通孔301，第一通孔301设置在支板302的内部，支板302的内部设置有凹槽303，凹槽303的内部卡接有针模块304，针模块304的数量根据实际使用需求进行安装，针模块304的上表面固接有微针305，微针305对芯片进行测试，支板302的上方设置有顶板6，顶板6的内部设置有第二通孔7，第二筒7与滑杆5的外壁间隙配合，顶板6的内部设置有微针孔9，微针孔9便于微针305穿过；
[0021]针模块304安装到凹槽303内，微针305的位置固定，将支板302进行安装，使四个滑杆5穿过分别穿过四个第一通孔301，测试机构3中针模块304的数量根据芯片的大小进行安装，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，不需要更换不同的测试治具，大大减小了购买成本，不会造成资源的浪费，且通用性较高。
[0022]工作原理：
[0023]该微针测试治具在使用时，根据需要测试芯片的大小，在凹槽303内安装与芯片大小相匹配对应数量的针模块304，针模块304安装到凹槽303内，微针305的位置固定，将支板302进行安装，使四个滑杆5穿过分别穿过四个第一通孔301，弹簧4在弹性作用下使得支板302有向上运动的力，安装顶板6，使四个第二通孔7与四个滑杆5的位置对应，滑杆5深入到第二通孔7中，微针305由微针孔9中伸出，将需要测试的芯片放置到微针孔9的上方，转动盖板11，盖板11带动按压块13和海绵板10运动，锁块12与锁杆8锁盒将盖板11的位置固定，按压块13通过海绵板10对芯片进行按压，微针305对芯片进行压迫，打开盖板，取下芯片，观察测试结果，测试机构3中针模块304的数量根据芯片的大小进行安装，当需要对其他尺寸的产品进行测试时，不需要更换不同的测试治具，大大减小了购买成本，不会造成资源的浪
费，且通用性较高。
[0024]实施例2：
[0025]参照附图1
‑
4：本实施例中，一种微针测试治具，测试机构3还包括显示器3a1，显示器3a1固接在测试盒1的外壁，显示器3a1与针模块304电性相连；
[0026]通过显示器3a1的作用，微针305在对芯片进行压迫时，微针305与芯片之间的力通过针模块304传输给显示器3a1，显示器3a1显示器微针305对芯片压迫的力大小。
[0027]工作原理：
[0028]微针305在对芯片进行压迫时，微针305与芯片之间的力通过针模块304传输给显示器3a1，显示器3a1显示器微针305对芯片压迫的力大小。
[0029]虽然本技术已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微针测试治具，包括测试盒(1)和底板(2)，所述测试盒(1)的内部固接有底板(2)，其特征在于：所述底板(2)的上表面固接有四个滑杆(5)，所述滑杆(5)的上方设置有测试机构(3)，所述底板(2)的上表面固接有两个弹簧(4)，所述测试盒(1)的内部固接有锁杆(8)，所述测试盒(1)的右侧通过销轴转动相连有盖板(11)。2.根据权利要求1所述的一种微针测试治具，其特征在于：所述测试机构(3)包括第一通孔(301)，所述第一通孔(301)与滑杆(5)的外壁间隙配合，所述第一通孔(301)设置在支板(302)的内部，所述支板(302)的内部设置...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶品岳，陶柳，杨镇武，
申请(专利权)人：苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：