瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置，该方法包括步骤：S1、获取瓷砖的第一图像和第二图像；S2、在第一图像中获取第一瓷砖区域图像，在第二图像中获取第二瓷砖区域图像；S3、分析第一瓷砖区域图像，得到第一瓷砖区域图像中的特征区域；S4、将特征区域映射到第二瓷砖区域图像中，同时膨胀特征区域；S5、判断映射在第二瓷砖区域图像上的特征区域是否满足缺陷条件，若是，则判定特征区域存在釉坑缺陷。该方法结合第一图像和第二图像共同定位瓷砖表面图像难以确认的釉坑缺陷，经过映射的特征区域在第一图像和第二图像中的坐标明确，可以结合两个图像双重定位，实现图像识别釉坑缺陷，克服人眼识别釉坑缺陷时速度慢、不准确等问题。不准确等问题。不准确等问题。

【技术实现步骤摘要】
瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置


[0001]本专利技术涉及瓷砖缺陷检测
，尤其涉及一种瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置。

技术介绍

[0002]在瓷砖生产行业，随着工业技术的进步，瓷砖生产的工业越来越严复杂，市场上客户的要求越来越严苛，传统的人眼检测很难满足瓷砖品质检测时对于速度及准确率的需求。
[0003]釉坑缺陷，是成品釉表面可见到直径不等的圆形凹坑，物理型釉坑缺陷一般过淋釉钟罩后可见，面积较大，数量不多，呈敞口状。化学型釉坑缺陷过淋釉钟罩后不见，但烧成后可见，面积较小，数量较多，呈火山口状。釉坑缺陷在亮面瓷片较为常见，但其他釉面砖都会出现，只是个别哑光砖、仿古砖不明显看到，因此，对釉坑缺陷的检测是必要的质检项目。
[0004]而瓷砖因为表面色彩多样，花纹丰富，且每一种瓷砖的花纹之间差异大且没有固定的规律，例如，釉面瓷砖是砖的表面经过施釉高温高压烧制处理的瓷砖，这种瓷砖是由土胚和表面的釉面两个部分构成的，主体又分陶土和瓷土两种，陶土烧制出来的背面呈红色，瓷土烧制的背面呈灰白色，根据光泽的不同，釉面砖又可以分为光面釉面砖和哑光釉面砖两类。
[0005]所以当瓷砖表面出现釉坑缺陷时，因为釉坑缺陷本身特征不固定，并且釉坑缺陷与其所在的瓷砖的花纹差异程度也不固定，因此凭借单纯的图像，难以对瓷砖表面出现的釉坑等类似缺陷进行准确的定位。

技术实现思路

[0006]本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置。
[0007]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，应用于待检测的瓷砖，包括以下步骤：
[0008]S1、获取包含所述瓷砖的第一图像和第二图像；
[0009]S2、在所述第一图像中获取第一瓷砖区域图像，在所述第二图像中获取第二瓷砖区域图像；
[0010]S3、分析所述第一瓷砖区域图像，得到所述第一瓷砖区域图像中的特征区域；
[0011]S4、将所述特征区域映射到所述第二瓷砖区域图像中，同时扩大所述特征区域的范围；
[0012]S5、判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域是否满足缺陷条件，若是，则判定所述特征区域存在釉坑缺陷。
[0013]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，所述第一图像为黑白图像，所述第二图像为彩色图像。
[0014]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，步骤S1包括：
[0015]在待检测的所述瓷砖随着运输装置匀速经过拍摄点时，黑白线阵相机配合第一光源对所述瓷砖进行分时拍摄，获取所述第一图像，彩色线阵相机配合第二光源对所述瓷砖进行分时拍摄，获取所述第二图像。
[0016]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，在步骤S2中，对所述第一图像中获取的所述第一瓷砖区域图像和所述第二图像区域中获取的所述第二瓷砖区域图像进行图像矫正。
[0017]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，步骤S3包括：
[0018]分析所述第一瓷砖区域图像，获得所述第一瓷砖区域图像中灰度低于第一预设值的区域作为所述特征区域。
[0019]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，步骤S5包括：
[0020]判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域的灰度是否高于第二预设值，若是，则判定所述特征区域存在釉坑缺陷。
[0021]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，步骤S5包括以下步骤：
[0022]S51、判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域的灰度是否高于第三预设值，若是，则判定所述特征区域为可疑区域；
[0023]S52、判断所述可疑区域的区域特征是否满足特征条件，若是，则判定所述可疑区域存在釉坑缺陷。
[0024]优选地，在本专利技术所构造的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法中，步骤S52包括：
[0025]判断所述可疑区域的面积、宽度、高度、最大直径和圆度中的至少一项是否超过对应的预设阈值和/或所述可疑区域的矩形度是否低于对应的预设阈值，若是，则判定所述可疑区域存在釉坑缺陷。
[0026]本专利技术还构造了一种瓷砖表面釉坑缺陷检测系统，应用于待检测的瓷砖，包括：
[0027]图像获取模块，用于获取包含所述瓷砖的第一图像和第二图像；
[0028]瓷砖区域图像获取模块，用于在所述第一图像中获取第一瓷砖区域图像，在所述第二图像中获取第二瓷砖区域图像；
[0029]特征区域提取模块，用于分析所述第一瓷砖区域图像，得到所述第一瓷砖区域图像中的特征区域；
[0030]特征区域处理模块，用于将所述特征区域映射到所述第二瓷砖区域图像中，同时扩大所述特征区域的范围；
[0031]釉坑缺陷判断模块，用于判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域是否满足缺陷条件，若是，则判定所述特征区域存在釉坑缺陷。
[0032]本专利技术还构造了一种瓷砖表面釉坑缺陷检测装置，用于获取待检测瓷砖的第一图像和第二图像并对所述瓷砖进行表面釉坑缺陷检测，包括：
[0033]传送装置，用于将所述瓷砖按预设方向运输到拍摄点；
[0034]低角度光源，设于所述传送装置上方，使到达所述拍摄点的所述瓷砖表面形成全反射现象；
[0035]高角度光源，设于所述传送装置上方，使到达所述拍摄点的所述瓷砖表面形成漫反射现象；
[0036]频闪光源控制器，与所述低角度光源和所述高角度光源连接，用于控制所述低角度光源和所述高角度光源按预设频率开启；
[0037]黑白线阵相机，设于所述低角度光源和所述高角度光源上方，用于在所述低角度光源开启时拍摄包含经过所述拍摄点的所述瓷砖的所述第一图像；
[0038]彩色线阵相机，设于所述低角度光源额所述高角度光源上方，用于在所述高角度光源开启时拍摄包含经过所述拍摄点的所述瓷砖的所述第二图像；
[0039]控制器，连接所述频闪光源控制器、所述黑白线阵相机和所述彩色线阵相机，用于控制所述频闪光源控制器所发出的频率信号，还用于获取所述第一图像和所述第二图像并应用上述任意一项所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法进行所述瓷砖的表面釉坑缺陷检测。
[0040]通过实施本专利技术，具有以下有益效果：
[0041]本专利技术所提供的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法、系统及装置，该方法包括步骤：S1、获取瓷砖的第一图像和第二图像；S2、在第一图像中获取第一瓷砖区域图像，在第二图像中获取第二瓷砖区域图像；S3、分析第一瓷砖区域图像，得到第一瓷砖区域图像中的特征区域；S4、将特征区域映射到第二瓷砖区域图像中，同时膨胀特征区域；S5、判断映射在第二瓷砖区域图像上的特征区域是否满足缺陷条件，若是，则判定特征区域存在釉坑缺陷。该方法结合第一图像和第二图像共同定位瓷砖表面图像难以确认的釉坑缺陷，经过映射的特征区域在第一图像和第二图像中的坐标明确，可以结合两个图像双重定位，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，应用于待检测的瓷砖，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、获取包含所述瓷砖的第一图像和第二图像；步骤S2、在所述第一图像中获取第一瓷砖区域图像，在所述第二图像中获取第二瓷砖区域图像；步骤S3、分析所述第一瓷砖区域图像，得到所述第一瓷砖区域图像中的特征区域；步骤S4、将所述特征区域映射到所述第二瓷砖区域图像中，同时扩大所述特征区域的范围；步骤S5、判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域是否满足缺陷条件，若是，则判定所述特征区域存在釉坑缺陷。2.根据权利要求1所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，所述第一图像为黑白图像，所述第二图像为彩色图像。3.根据权利要求2所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S1包括：在待检测的所述瓷砖随着运输装置匀速经过拍摄点时，黑白线阵相机配合第一光源对所述瓷砖进行分时拍摄，获取所述第一图像，彩色线阵相机配合第二光源对所述瓷砖进行分时拍摄，获取所述第二图像。4.根据权利要求1所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，在所述步骤S2中，对所述第一图像中获取的所述第一瓷砖区域图像和所述第二图像区域中获取的所述第二瓷砖区域图像进行图像矫正。5.根据权利要求1所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S3包括：分析所述第一瓷砖区域图像，获得所述第一瓷砖区域图像中灰度低于第一预设值的区域作为所述特征区域。6.根据权利要求1所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S5包括：判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域的灰度是否高于第二预设值，若是，则判定所述特征区域存在釉坑缺陷。7.根据权利要求1所述的瓷砖表面釉坑缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S5包括以下步骤：步骤S51、判断映射在所述第二瓷砖区域图像上的所述特征区域的灰度是否高于第三预设值，若是，则判定所述特征区域为可疑区域；步骤S52、判断所述可疑区域的区域特征是否满足特征条件，若是，则判定所述可疑区域存在釉坑缺陷。8.根据权利要求7所述的瓷砖表面釉坑缺陷检...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹植，麦浩晃，刘立峰，
申请(专利权)人：昂视智能深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：