显示装置的检查方法可以包括：在显示面板上粘接覆盖窗的步骤；设定第一原点坐标和第二原点坐标的步骤；拍摄显示面板的步骤；判断在第一像素组和第二像素组拍摄到的像素的总数量是否为预先设定的数量的步骤；在拍摄到的像素的总数量不为预先设定的数量的情况下，运算出补正坐标的步骤；设定经补正的第一原点坐标和经补正的第二原点坐标的步骤；拍摄显示面板的步骤；以及判断在经补正的第一像素组和经补正的第二像素组拍摄到的像素和虚设像素的总数量是否为预先设定的数量的步骤。数量是否为预先设定的数量的步骤。数量是否为预先设定的数量的步骤。
【技术实现步骤摘要】
显示装置的检查方法
[0001]本专利技术涉及显示装置的检查方法。更详细地，本专利技术涉及包括覆盖窗和显示面板的显示装置的检查方法。
技术介绍
[0002]平板显示装置因重量轻和薄型等特性而被用作替代阴极射线管显示装置的显示装置。作为这种平板显示装置的代表性例，具有液晶显示装置、有机发光显示装置、量子点显示装置等。
[0003]在显示装置的制造过程中，可以制造包括显示区域和包围显示区域的周边区域的显示面板。例如，在显示区域可以配置像素，通过像素可以显示图像。此外，在周边区域可以配置布线、驱动器等，周边区域可以相当于不显示图像的非显示区域。在制造显示面板之后，可以在显示面板上附着覆盖窗。覆盖窗可以保护显示面板，可以在显示面板上通过粘接层来固定覆盖窗。覆盖窗可以包括透明区域和实质上包围透明区域的不透明区域，在不透明区域可以配置黑色矩阵。优选地，透明区域应与显示区域重叠，并且黑色矩阵应与周边区域重叠。然而，由于工序余量，覆盖窗的透明区域的一部分可能会与显示面板的周边区域的一部分重叠。换言之，在以n(其中，n为2以上的整数)行和n列排列像素的情况下，位于第一行和第一列的像素或位于第n行和第n列的像素可能会与黑色矩阵重叠，使得从所述像素射出的光无法透过覆盖窗。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于，提供一种显示装置的检查方法。
[0005]然而，本专利技术并不限于上述的目的，在不超出本专利技术的思想和领域的范围可以进行各种扩展。
[0006]为了达成前述的本专利技术的目的，本专利技术的例示性的实施例涉及的显示装置的检查方法可以包括：在显示面板上粘接覆盖窗的步骤；设定第一原点坐标和第二原点坐标的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；判断在第一像素组和第二像素组中拍摄到的像素的总数量是否为预先设定的数量的步骤；在拍摄到的所述像素的总数量不为所述预先设定的数量的情况下，运算出补正坐标的步骤；设定经补正的第一原点坐标和经补正的第二原点坐标的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；以及判断在经补正的第一像素组和经补正的第二像素组中拍摄到的像素和虚设像素的总数量是否为所述预先设定的数量的步骤。
[0007]在例示性的实施例中，运算出所述补正坐标的步骤可以包括：根据在所述第一像素组测量出的像素和虚设像素的总数量以及在所述第二像素组测量出的像素和虚设像素的总数量的组合，运算出所述第一原点坐标和所述第二原点坐标应移动的位置的步骤；以及生成补正坐标数据的步骤。
[0008]在例示性的实施例中，所述显示面板可以包括：像素区域，配置有多个像素；以及虚设像素区域，配置有多个虚设像素。
[0009]在例示性的实施例中，所述虚设像素区域可以包围所述像素区域。
[0010]在例示性的实施例中，在所述像素区域，所述多个像素可以被排列为n(其中，n为2以上的整数)像素行和n像素列，所述第一原点坐标可以对应于所述多个像素之中位于第一像素行和第一像素列的像素，所述第二原点坐标可以对应于所述多个像素之中位于第n像素行和第n像素列的像素。
[0011]在例示性的实施例中，在所述虚设像素区域，所述多个虚设像素可以被排列为m(其中，m为2以上的整数)虚设行和m虚设列。
[0012]在例示性的实施例中，可以将与所述第一原点坐标对应的像素和包围该像素的8个像素及虚设像素定义为所述第一像素组，可以将与所述第二原点坐标对应的像素和包围该像素的8个像素及虚设像素定义为所述第二像素组。
[0013]在例示性的实施例中，所述显示面板还可以包括：第一区域，位于所述像素区域的第一角部和所述虚设像素区域的第一角部相邻的部分；第二区域，位于所述像素区域的第二角部和所述虚设像素区域的第二角部相邻的部分；第三区域，位于所述像素区域的第三角部和所述虚设像素区域的第三角部相邻的部分；以及第四区域，位于所述像素区域的第四角部和所述虚设像素区域的第四角部相邻的部分，所述第一像素组可以位于所述第一区域，所述第二像素组可以位于所述第二区域。
[0014]在例示性的实施例中，可以将与所述像素区域的所述第三角部相邻的4个像素和5个虚设像素定义为第三像素组，可以将与所述像素区域的所述第四角部相邻的4个像素和5个虚设像素定义为第四像素组。
[0015]在例示性的实施例中，在设定所述第一原点坐标和所述第二原点坐标的步骤之后，所述显示装置的检查方法还可以包括：使所述第一像素组至所述第四像素组导通的步骤。
[0016]在例示性的实施例中，在设定所述经补正的第一原点坐标和所述经补正的第二原点坐标的步骤之后，所述显示装置的检查方法还可以包括：基于所述经补正的第一原点坐标和所述经补正的第二原点坐标使所述经补正的第一像素组、所述经补正的第二像素组、经补正的第三像素组和经补正的第四像素组导通的步骤。
[0017]在例示性的实施例中，所述显示面板还可以包括配置有多个布线和多个焊盘电极的周边区域，所述周边区域可以包围所述虚设像素区域。
[0018]在例示性的实施例中，所述覆盖窗可以包括：透明区域；以及不透明区域，包围所述透明区域，并且配置有黑色矩阵。
[0019]在例示性的实施例中，在设定所述经补正的第一原点坐标和所述经补正的第二原点坐标的步骤之后，所述显示装置的检查方法还可以包括：生成与在所述显示面板将会显示图像的像素及虚设像素对应的整体坐标数据的步骤。
[0020]在例示性的实施例中，所述预先设定的数量可以是4个。
[0021]为了达成前述的本专利技术的目的，本专利技术的例示性的实施例涉及的显示装置的检查方法可以包括：在显示面板上粘接覆盖窗的步骤；设定第一原点坐标和第二原点坐标的步骤；使第一像素组至第四像素组导通的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；判断在所述第一像素组至所述第四像素组中拍摄到的像素的总数量是否为预先设定的数量的步骤；在拍摄到的所述像素的总数量不为所述预先设定的数量的情况下，运算出补正坐标的步骤；设定经
补正的第一原点坐标和经补正的第二原点坐标的步骤；使经补正的第一像素组至经补正的第四像素组导通的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；以及判断在所述经补正的第一像素组至所述经补正的第四像素组中拍摄到的像素和虚设像素的总数量是否为所述预先设定的数量的步骤。
[0022]在例示性的实施例中，运算出所述补正坐标的步骤可以包括：比较分别在所述第三像素组和所述第四像素组测量出的像素及虚设像素的总数量与在所述第一像素组测量出的像素及虚设像素的总数量之比，从而运算出所述第一原点坐标在数量差异大的方向上应移动的位置的步骤；比较分别在所述第三像素组和所述第四像素组测量出的像素和虚设像素的总数量与在所述第二像素组测量出的像素和虚设像素的总数量之比，从而运算出所述第二原点坐标在数量差异大的方向上应移动的位置的步骤；以及生成补正坐标数据的步骤。
[0023]在例示性的实施例中，所述显示面板可以包括：像素区域，配置有多个像素；虚设像素区域，配置有多个虚设像素，并且包围所述像素区域；以及周边区域，配置有多个布线和多个焊盘电极，并且包围所述虚设像素区域，所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置的检查方法，包括：在显示面板上粘接覆盖窗的步骤；设定第一原点坐标和第二原点坐标的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；判断在第一像素组和第二像素组中拍摄到的像素的总数量是否为预先设定的数量的步骤；在拍摄到的所述像素的总数量不为所述预先设定的数量的情况下，运算出补正坐标的步骤；设定经补正的第一原点坐标和经补正的第二原点坐标的步骤；拍摄所述显示面板的步骤；以及判断在经补正的第一像素组和经补正的第二像素组中拍摄到的像素和虚设像素的总数量是否为所述预先设定的数量的步骤。2.根据权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于，运算出所述补正坐标的步骤包括：根据在所述第一像素组测量出的像素和虚设像素的总数量以及在所述第二像素组测量出的像素和虚设像素的总数量的组合，运算出所述第一原点坐标和所述第二原点坐标应移动的位置的步骤；以及生成补正坐标数据的步骤。3.根据权利要求1所述的显示装置的检查方法，其特征在于，所述显示面板包括：像素区域，配置有多个像素；以及虚设像素区域，配置有多个虚设像素，所述虚设像素区域包围所述像素区域，所述显示面板还包括配置有多个布线和多个焊盘电极的周边区域，所述周边区域包围所述虚设像素区域。4.根据权利要求3所述的显示装置的检查方法，其特征在于，在所述像素区域，所述多个像素被排列为n像素行和n像素列，其中，n为2以上的整数，所述第一原点坐标对应于所述多个像素之中位于第一像素行和第一像素列的像素，所述第二原点坐标对应于所述多个像素之中位于第n像素行和第n像素列的像素，在所述虚设像素区域，所述多个虚设像素被排列为m虚设行和m虚设列，其中，m为2以上的整数。5.根据权利要求3所述的显示装置的检查方法，其特征在于，将与所述第一原点坐标对应的像素和包围该像素的8个像素及虚设像素定义为所述第一像素组，...
【专利技术属性】
技术研发人员：文炯植，韩祯洙，玄昌镐，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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