本发明专利技术属于打印机接口测试技术领域，具体提供一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备，所述方法包括如下步骤：将测试治具安装在PC并口连接器上，启动联合操作系统；修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口驱动模块；指定并口并设置数据输出方向为out；产生一个随机数，将产生的随机数写入数据寄存器；设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量；将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较；当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败。保证出货计算机能正常使用并口打印机。机。机。
【技术实现步骤摘要】
一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备
[0001]本专利技术涉及打印机接口测试
，具体涉及一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备。
技术介绍
[0002]随着国产PC，服务器，交换机的发展，本着降低成本和老旧设备替代的平滑运行，国产PC一般都会设计打印口(LPT)，用来连接老式的25针式打印机。而在工厂测试中，本着降低成本及测试时间的需求，不可能用打印机作为测试治具去测试，这就需要设计一种全新的测试覆盖率高，低成本，测试速度快的方法。
[0003]并口打印机主要在Linux kernel 2.6以前使用，过去的测试方法基本上都是基于Redhat Linux开发，直接访问I/O,但是国产PC基本上都设计有专用的国产操作系统，主要是UOS(Universe Operation System，联合操作系统，是统信软件技术有限公司研发的基于Linux内核的自主研发的操作系统),终端用户也是在UOS下使用，UOS的kernel基本都升级到4.19，所以已经不能直接通过直接访问I/O的方式去测试。原来的测试方法已经不能在国产PC的UOS操作系统下使用。
[0004]现有的技术方案基本上都是基于Intel，AMD的X86 CPU所做的开发，主要存在如下问题：(1)测试覆盖率不够，只测试了CPU到并口卡(国产PC的lpt是独立的PCIe插卡)寄存器的值，无法测试lpt连接器的机构部分，如果有焊接不良，无法甄别。(2)在UOS操作系统下，直接读写I/O难度较大，而且因为收UOS机构的影响，有大量的中断IRQ的影响，I/O读写的数据很容易受到其它进程的影响，准确性很差，产线程序运行起来误测较多。(3)这种测试覆盖率较低的方案，实际上给公司的国产PC出货带来了潜在的质量风险。
技术实现思路
[0005]针对现有的测试方法测试覆盖率不够，只测试了CPU到并口卡(国产PC的lpt是独立的PCIe插卡)寄存器的值，无法测试lpt连接器的机构部分，如果有焊接不良，无法甄别。在UOS操作系统下，直接读写I/O难度较大，而且因为收UOS机构的影响，有大量的中断IRQ的影响，I/O读写的数据很容易受到其它进程的影响，准确性很差，产线程序运行起来误测较多的问题，本专利技术提供一种计算机打印口测试治具、测试方法、装置、设备。
[0006]第一方面，本专利技术技术方案提供一种计算机打印口测试治具，包括LPT连接器公头，LPT连接器公头设置有二十五个引脚，LPT连接器公头的第一引脚与第二引脚连接，LPT连接器公头的第三引脚与第十六引脚连接，LPT连接器公头的第四引脚与第十四引脚连接，LPT连接器公头的第五引脚与第十七引脚连接，LPT连接器公头的第六引脚与第十三引脚连接，LPT连接器公头的第七引脚与第十二引脚连接，LPT连接器公头的第八引脚与第十引脚连接，LPT连接器公头的第九引脚与第十一引脚连接，LPT连接器公头的第十八引脚到第二十五引脚接地；LPT连接器公头的第七引脚通过二级管与第十五引脚连接。
[0007]作为本专利技术技术方案的进一步限定，LPT连接器公头的第七引脚连接二极管的阳
极，第十五引脚连接二极管的阴极。
[0008]第二方面，本专利技术技术方案提供一种计算机打印口测试方法，包括如下步骤：
[0009]将测试治具安装在PC并口连接器上，启动联合操作系统；所述测试治具包括如第一方面所述的测试治具；
[0010]修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口驱动模块；
[0011]指定并口并设置数据输出方向为out；
[0012]产生一个随机数，将产生的随机数写入数据寄存器；
[0013]设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量；
[0014]将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较；
[0015]当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败。
[0016]作为本专利技术技术方案的进一步限定，指定并口并设置数据输出方向为out的步骤之前包括：
[0017]查询联合操作系统下并口的数量。
[0018]作为本专利技术技术方案的进一步限定，指定并口并设置数据输出方向为out的步骤包括：
[0019]通过ioctl函数指定并口；
[0020]设置数据输出的方向为out。
[0021]作为本专利技术技术方案的进一步限定，设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量的步骤包括：
[0022]设定时间后读取数据输出寄存器的数据并将读取的数据保存为变量data；
[0023]读取状态寄存器的数据，并将读取的数据保存为变量stat；
[0024]读取控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为变量ctrl。
[0025]作为本专利技术技术方案的进一步限定，将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较的步骤包括：
[0026]将控制寄存器读的数据的低四位异或0x0D后，判断是否和数据输出寄存器的低四位相等；
[0027]将状态寄存器的bit7异或后，比较状态寄存器的高四位是否和数据寄存器的高四位是否相等；
[0028]检查状态寄存器的bit3是否和数据寄存器的bit 5相等。
[0029]作为本专利技术技术方案的进一步限定，当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败的步骤之后包括：
[0030]生成测试报告并输出显示。
[0031]第三方面，本专利技术技术方案还提供一种计算机打印口测试装置，包括测试治具，所述测试治具安装在PC并口连接器上，所述测试治具包括如第一方面所述的测试治具；
[0032]该装置还包括操作系统启动模块、驱动修改模块、并口设置模块、写入模块、读取处理模块和处理比较模块；
[0033]操作系统启动模块，用于启动联合操作系统；
[0034]驱动修改模块，用于修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口
驱动模块；
[0035]并口设置模块，用于指定并口并设置数据输出方向为out；
[0036]写入模块，用于产生一个随机数，将产生的随机数写入数据寄存器；
[0037]读取处理模块，用于设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量；
[0038]处理比较模块，用于将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较；当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败。
[0039]作为本专利技术技术方案的进一步限定，该装置还包括查询模块，用于查询联合操作系统下并口的数量。
[0040]作为本专利技术技术方案的进一步限定，并口设置模块，具体用于通过ioctl函数指定并口，设置数据输出的方向为out。
[0041]作为本专利技术技术方案的进一步限定，读取处理模块，具体用于设本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种计算机打印口测试治具，其特征在于，包括LPT连接器公头，LPT连接器公头设置有二十五个引脚，LPT连接器公头的第一引脚与第二引脚连接，LPT连接器公头的第三引脚与第十六引脚连接，LPT连接器公头的第四引脚与第十四引脚连接，LPT连接器公头的第五引脚与第十七引脚连接，LPT连接器公头的第六引脚与第十三引脚连接，LPT连接器公头的第七引脚与第十二引脚连接，LPT连接器公头的第八引脚与第十引脚连接，LPT连接器公头的第九引脚与第十一引脚连接，LPT连接器公头的第十八引脚到第二十五引脚接地；LPT连接器公头的第七引脚通过二级管与第十五引脚连接。2.根据权利要求1所述的计算机打印口测试治具，其特征在于，LPT连接器公头的第七引脚连接二极管的阳极，第十五引脚连接二极管的阴极。3.一种计算机打印口测试方法，其特征在于，包括如下步骤：将测试治具安装在PC并口连接器上，启动联合操作系统；所述测试治具包括如权利要求1
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2任一项权利要求所述的测试治具；修改并口驱动程序，关闭中断IRQ7，编译完成后加载并行端口驱动模块；指定并口并设置数据输出方向为out；产生一个随机数，将产生的随机数写入数据寄存器；设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量；将从数据寄存器、控制寄存器和状态寄存器读取的数据分别进行处理比较；当比较结果均相等时，测试通过，否则，测试失败。4.根据权利要求3所述的计算机打印口测试方法，其特征在于，指定并口并设置数据输出方向为out的步骤之前包括：查询联合操作系统下并口的数量。5.根据权利要求4所述的计算机打印口测试方法，其特征在于，指定并口并设置数据输出方向为out的步骤包括：通过ioctl函数指定并口；设置数据输出的方向为out。6.根据权利要求5所述的计算机打印口测试方法，其特征在于，设定时间后依次读取数据输出寄存器、状态寄存器、控制寄存器的数据，并将读取的数据保存为对应的变量的步骤包括：设定时间后读取数据输出寄存器的数据并将...
【专利技术属性】
技术研发人员：田周鹏，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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