冲击测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种冲击测试装置，适于对一待测元件进行冲击测试。冲击测试装置包括二伸缩轴杆、一导管以及一球体。伸缩轴杆具有一基部与一支撑部。待测元件位于伸缩轴杆的基部之间。导管锁固于伸缩轴杆上且位于支撑部之间，其中导管具有一轴心。球体位于导管的上方，且适于由一高度沿着导管的轴心方向自由掉落，并撞击待测元件。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是有关于一种测试装置(test a卯aratus)，且特别是有关于一 禾中冲击测i式装置(impact test apparatus)。
技术介绍
随着电子科技不断地演进，功能性更复杂、更人性化的电子产品一直推陈出 新。电子产品在出厂前，通常会进行成品测试，例如老化试验、电性试验、拉力试 验、冲击试验等，以确保电子产品的品质与良率，并有助于厂商和客户评鉴电子产 品的信赖性。以冲击试验为例， 一般电子产品在进行冲击试验的步骤，是先将电子产品放 置于一平台。接着，手持钢球并估算钢球相对于电子产品的高度与所预撞击的位置。 之后，使钢球自由落下并撞击电子产品所预撞击的位置。然而，此种方式不管是钢 球撞击的高度或撞击的位置皆无法精确的控制，因而降低冲击测试结果的可靠度。为了改善钢球撞击的高度与位置，己知提供了另一种对电子产品进行冲击试 验的方法。首先，将电子产品放置于一平台。接着，在电子产品所预撞击的位置放 置一塑料管，其中此塑料管的长度约为1.3米(m)。之后，手持钢球并使钢球经 由塑料管而自由落下，并撞击电子产品所预撞击的位置。然而，虽然此种方式可精 确地控制钢球所撞击的高度与位置，但是钢球亦可能与塑料管产生摩擦而影响钢球 掉落的速度，进而降低冲击测试结果的可靠度。此外，当电子产品为扁平状且其所 预撞击的位置为侧边时，塑料管是无法固定于电子产品上，也就是说，此种电子产 品无法使用塑料管来控制钢球撞击其侧边的高度与位置，进而限縮了此种冲击试验 方法的应用范围。
技术实现思路
本技术提供一种冲击测试装置，适于对一待测元件进行冲击测试。本技术提出一种冲击测试装置，适于对一待测元件进行冲击测试。冲击 测试装置包括二伸縮轴杆、 一导管以及一球体。每一伸縮轴杆具有一基部与一支撑 部。待测元件位于这些伸縮轴杆的这些基部之间。导管锁固于这些伸縮轴杆上且位 于这些支撑部之间，其中导管具有一轴心。球体位于导管的上方，其中球体适于由 一高度沿着导管的轴心方向自由掉落，并撞击待测元件。在本技术的一实施例中，上述的每一伸缩轴杆的支撑部包括一第一支撑部与一第二支撑部。第一支撑部位于基部与第二支撑部之间，且第一支撑部的一端连接基部，第二支撑部与第一支撑部为不同轴设置。在本技术的一实施例中，上述的冲击测试装置更包括多个锁固件。每一 锁固件具有一第一锁固部与一第二锁固部。每一第一支撑部具有—一第一滑接部。每一第二支撑部具有一第二滑接部。第一锁固部穿过第二滑接部与第一滑接部，且第 二滑接部通过第一锁固部相对于第一滑接部滑动，以使第二支撑部在一第一位置与 一第二位置之间移动。第二锁固部锁固于第二支撑部，用以将第二支撑部固定于第 一支撑部上。在本技术的一实施例中，上述的第一滑接部与第二滑接部皆为一凹槽。 在本技术的一实施例中，上述的每一第二支撑部具有一第一杆部、 一第二杆部以及一弯折部。弯折部连接第一杆部与第二杆部。导管固定于这些第二杆部上，且这些第一杆部之间的距离大于这些第二杆部之间的距离。在本技术的一实施例中，上述的冲击测试装置更包括二夹持件。这些夹持件可活动地配置于这些伸縮轴杆的这些第一支撑部上，其中这些夹持件适于夹持待测元件。在本技术的一实施例中，上述的每一夹持件具有一施力部、 一承靠部以 及一固定部。施力部连接承靠部。当这些承靠部分别承靠于待测元件的两侧时，这 些固定部分别锁固于这些第一支撑部上，以使这些夹持件夹持待测元件。在本技术的一实施例中，上述的冲击测试装置更包括二加强件。每一加 强件具有一第一加强部与一第二加强部。第一加强部锁固于第一支撑部上。第二加 强部承靠基部，且第二加强部的延伸方向实质上与基部的延伸方向相反。在本技术的一实施例中，上述的导管的材质包括塑料。在本技术的一实施例中，上述的待测元件包括一笔记本计算机。基于上述，由于本技术的冲击测试装置具有伸縮轴杆与导管，因此可通 过调整伸縮轴杆的长度来控制球体撞击待测元件的高度，以及通过导管来引导球体 撞击待测元件的位置。相较于现有技术而言，本技术可更精确地控制球体撞击 待测元件的高度与位置，以提升测试结果的可靠度。此外，由于本技术的冲击 测试装置具有夹持件，因此除了可夹持不同体积大小的待测元件外，亦适合对测元 件的侧边进行冲击测试，可增加本技术的冲击测试装置的应用范围。为让本技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合 附图作详细说明如下。附图说明图1为本技术的一实施例的一种冲击测试装置与待测元件的立体示意图。 图2为图1的冲击测试装置的第二支撑部由第一位置移动至第二位置的立体 示意图。具体实施方式图1为本技术的一实施例的一种冲击测试装置与待测元件的立体示意图。 图2为图1的冲击测试装置的第二支撑部由第一位置移动至第二位置的立体示意图。请先参考图l,在本实施例中，冲击测试装置100适于对一待测元件200进行 冲击测试，其中待测元件200例如是一笔记本计算机。冲击测试装置IOO包括二伸 缩轴杆IIO、 一导管120、 二夹持件130以及一球体140。详细而言，每一伸縮轴杆110分别具有一基部112、 一第一支撑部114与一第 二支撑部116，其中待测元件200位于这些伸缩轴杆110这些基部112之间。第一 支撑部114的一端连接基部112，且第一支撑部114位于基部112与第二支撑部116 之间。第二支撑部116具有一第一杆部116a、一第二杆部116b以及一弯折部116c。 弯折部116c连接第一杆部116a与第二杆部116b。在本实施例中，第二支撑部116 与第一支撑部114为不同轴设置，且这些第一杆部116a之间的距离大于这些第二 杆部116b之间的距离。进一步而言，在本实施例中，伸缩轴杆110的每一第一支撑部114具有一第 一滑接部U4a，每一第二支撑部116具有一第二滑接部116d，而冲击测试装置100更包括多个锁固件160，其中每一锁固件160具有一第一锁固部162与一第二锁固 部164。第一锁固部162穿过第二滑接部116d与第一滑接部114a，且第二滑接部 116d通过第一锁固部162相对于第一滑接部114a滑动，用以调整第二支撑部116 相对于基部112的高度。第二锁固部164锁固于第二支撑部116，用以将第二支撑 部116固定于第一支撑部114上。在本实施例中，第一滑接部114a与第二滑接部 116d皆为一凹槽。值得一提的是，本技术并不限定伸縮轴杆110的型态，虽然此处所提及 的伸縮轴杆110具体化为滑接部(第一滑接部114a与第二滑接部116d)与锁固件 160以滑接的方式搭配，但已知的其它能达到同等伸縮效果的结构设计，仍属于本 技术可采用的技术方案，不脱离本技术所欲保护的范围。导管120锁固于这些伸缩轴杆110上，且位于这些第二支撑部116的这些第 二杆部116b之间，其中导管120具有一轴心122，且待测元件200所预撞击的位 置位于此轴心122的延伸方向上。在本实施例中，待测元件200所预撞击的位置例 如是在主电源上方的壳体或是靠近主电源一侧边的壳体开口处，而导管120的材质 例如是塑料。夹持件130可活动地配置于伸縮轴杆110的第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种冲击测试装置，适于对一待测元件进行冲击测试，其特征在于，该冲击测试装置包括：　二伸缩轴杆，各该伸缩轴杆具有一基部与一支撑部，其中该待测元件位于该些伸缩轴杆的该些基部之间；　一导管，锁固于该些伸缩轴杆上，且位于该些支撑部之间， 其中该导管具有一轴心；以及　一球体，位于该导管的上方，其中该球体适于由一高度沿着该导管的该轴心方向自由掉落，并撞击该待测元件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙燕曲，刘宏彻，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]