试片保持器及试片排出机构制造技术

本发明专利技术提供试片保持器及试片排出机构，能可靠地一张一张地取出试片，并减少与此相伴地在试片上产生的损伤。试片保持器具备：保持部件，其内周的至少下方侧的一部分为呈圆筒形状的圆筒面，在内部保持长条且厚度为X的试片，并且圆筒面的假想的中心轴线的方向为水平方向或相对于铅垂方向倾斜的方向；开口部，其设置于保持部件的外表面；分选部件，其以与中心轴线一致的旋转轴为中心在保持部件的内部旋转；按压片，其从分选部件中与中心轴线平行的前端缘向旋转的方向突出；以及分选片，其从按压片的前端朝向圆筒面突出，前端缘中最接近圆筒面的位置与圆筒面的距离小于X，分选片中最接近圆筒面的位置与圆筒面的距离A为X≤A＜2X。圆筒面的位置与圆筒面的距离A为X≤A＜2X。圆筒面的位置与圆筒面的距离A为X≤A＜2X。

【技术实现步骤摘要】
试片保持器及试片排出机构


[0001]本专利技术涉及一种试片保持器及试片排出机构。

技术介绍

[0002]为了使用试片连续地进行测定，利用了将多张试片投入到装置中，从所投入的试片中一张一张地取出的机构，该试片用于测定尿等检体中所含的规定项目。在通过这样的机构取出的试片上滴加检体，测定该规定项目。
[0003]例如，在专利文献1记载的技术中，在滚筒容器上设置有“滚筒内爪部”。而且，滚筒容器一边进行旋转运动，一边将收纳的试纸一张一张地挂在该“滚筒内爪部”上而使其落到分拣器架上。另外，例如，在专利文献2记载的试片送出机构中，当投入到投入部的多张试片移动到试片检测块时，通过隔板削平为仅1张。由此，从投入部一张一张地取出试片，供给到接下来的检查部。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1日本特开平5
‑
264540号公报
[0007]专利文献2日本特开2000
‑
35433号公报

技术实现思路

[0008]专利技术所要解决的课题
[0009]在专利文献1记载的技术中，当多张试片进入“滚筒内爪部”时，有时会排出多张试片。另外，在专利文献2记载的技术中，在利用隔板将层叠的试片削平时，以刮平的方式将重叠在上方的试片排除。此时，有时因隔板与试片的接触而产生切屑。
[0010]因此，本专利技术的实施方式的课题在于，提供一种能够可靠地将试片一张一张地取出、且减少与此相伴地在试片上产生的损伤的试片保持器。
[0011]用于解决课题的手段
[0012]在本专利技术的实施方式的试片保持器中，具备保持部件、开口部、分选部件、按压片以及分选片。保持部件是内周的至少下方侧的一部分呈圆筒形状的圆筒面。在保持部件的内部保持长条且厚度为X的试片。所述圆筒面的假想的中心轴线的方向是水平方向或相对于铅垂方向倾斜的方向。开口部设置于保持部件的外表面。分选部件以与所述中心轴线一致的旋转轴为中心在保持部件的内部旋转。按压片从分选部件中的与所述中心轴线平行的前端缘向旋转的方向突出。分选片从按压片的前端朝向圆筒面突出。所述前端缘中的最接近所述圆筒面的位置与所述圆筒面的距离小于X。所述分选片中的最接近所述圆筒面的位置与所述圆筒面的距离A为
[0013]X≤A<2X。
[0014]专利技术效果
[0015]本专利技术的实施方式如上述那样构成，因此提供一种能够可靠地将试片一张一张地
取出、并且减少与此相伴地在试片上产生的损伤的试片保持器。
附图说明
[0016]图1以主视图表示第一实施方式的试片保持器。
[0017]图2以前方立体图表示图1的试片保持器。
[0018]图3以前方立体图表示从图2的试片保持器除去盖和门部件后的状态。
[0019]图4以后方立体图表示图1的试片保持器。
[0020]图5以图1的B
‑
B
’
截面表示图1的试片保持器中的保持部件的作为内周的圆筒面。
[0021]图6A以立体图表示试片。
[0022]图6B以主视图表示试片。
[0023]图6C以侧视图表示试片。
[0024]图7以前方立体图表示收纳于图1的试片保持器的旋转部件。
[0025]图8以后方立体图表示图5的旋转部件。
[0026]图9是图1的A
‑
A
′
截面图。
[0027]图10放大表示按压片和分选片。
[0028]图11为试片保持机构的功能框图；
[0029]图12是表示图11的控制部的硬件结构的框图。
[0030]图13A是表示试片排出处理的概要的流程图。
[0031]图13B是表示试片排出处理的概要的流程图。
[0032]图14A以截面图表示保持试片的状态。
[0033]图14B以截面图表示保持试片的状态。
[0034]图14C以截面图表示保持试片的状态。
[0035]图14D以截面图表示保持试片的状态。
[0036]图14E以截面图表示试片被排出的状态。
[0037]图15以主视图表示第二实施方式的试片保持器。
[0038]图16以前方立体图表示图15的试片保持器。
[0039]图17是门部件的外侧立体图。
[0040]图18是门部件的内侧立体图。
[0041]图19是图15的C
‑
C
′
截面图。
[0042]图20A以截面图表示试片被排出的状态。
[0043]图20B以截面图表示试片被排出的状态。
[0044]图20C以截面图表示试片被排出的状态。
[0045]图21以截面图表示第三实施方式的试片保持器截面图。
[0046]图22以截面图表示第三实施方式的变形例。
[0047]图23以截面图表示第四实施方式的试片保持器的一部分。
[0048]标号说明
[0049]1试片排出机构、2接近检测器、3旋转驱动器、4开闭操作器、
[0050]5测定部、
[0051]10试片保持器、15旋转轴(中心轴线)、
[0052]20保持部件、20A驱动轴收纳部、20B轴承、20C连接部、
[0053]21盖、22圆筒面、23内周槽、24开口部、24A中心线、
[0054]25投入口、26检测窗、27门收纳部、28排出口、
[0055]30旋转部件、30A前板、30B后板、31分选部件、
[0056]31A最上位置、32前端缘、32A后端缘、33按压片、
[0057]34分选片、35滑动凸起、36旋转驱动轴、
[0058]40门部件、40B轴承、41门轴、42切口部、43弹性部、
[0059]44倾斜面、45隔断部、46门驱动轴、
[0060]50开闭部件、
[0061]90试片、91短边、92长边、93试剂垫、94基板、
[0062]95把持部、96试剂垫配置区域、
[0063]100控制部、101CPU、102ROM、103RAM、
[0064]104存储器、109总线。
具体实施方式
[0065]以下，参照附图对本专利技术中的实施方式进行说明。此外，关于在各附图中共同标注的标号，即使在以下的各图的说明中未提及的情况下，也指示同一对象。
[0066](1)第一实施方式
[0067]图1以主视图表示第一实施方式的试片保持器10。图2以前方立体图表示该试片保持器10。图3以前方立体图表示从该试片保持器10除去盖21及门部件40后的状态。图4以后方立体图表示该试片保持器10。需要说明的是，在以后的说明中，在试片保持器10中，将设置有盖21(图1、图2、图4)的方向称为前方，将设置有连接部20C的方向称为后方。
[0068]本实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种试片保持器，其具备：保持部件，其内周的至少下方侧的一部分为呈圆筒形状的圆筒面，在内部保持长条且厚度为X的试片，并且所述圆筒面的假想的中心轴线的方向为水平方向或相对于铅垂方向倾斜的方向；开口部，其设置于所述保持部件的外表面；分选部件，其以与所述中心轴线一致的旋转轴为中心在所述保持部件的内部旋转；按压片，其从所述分选部件中的与所述中心轴线平行的前端缘向所述旋转的方向突出；以及分选片，其从所述按压片的前端朝向所述圆筒面突出，所述前端缘中的最接近所述圆筒面的位置与所述圆筒面的距离小于X，所述分选片中的最接近所述圆筒面的位置与所述圆筒面的距离A为X≤A<2X。2.根据权利要求1所述的试片保持器，其中，相对于所述试片的短边方向的长度Y，所述按压片中的从所述分选部件的所述前端缘到所述分选片的距离B满足：Y≤B＜2Y并且，所述分选片中的从所述按压片向所述圆筒面突出的部分的长度C满足0.5X≤C＜1.5X。3.根据权利要求1或2所述的试片保持器，其中，所述保持部件为以所述旋转轴为中心轴线、长度方向的长度为所述试片的长度以上的圆筒形状，并且所述开口部沿长度方向设置于所述保持部件的侧面，所述开口部的长度为所述试片的长度以上。4.根据权利要求1至3中任意一项所述的试片保持器，其中，从所述前端缘并行地突出有2个所述按压片。5.根据权利要求1至4中任意一项所述的试片保持器，其中，在所述保持部件内配置有多个所述分选部件。6.根据权利要求1至5中任意一项所述的试片保持器，其中，所述分选部件与所述保持部件分体地形成，并且相对于所述保持部件旋转。7.根据权利要求6所述的试片保持器，其中，所述开口部被设置成，所述开口部的周向的假想的中心线处于所述分选部件相对于所述分选部件的所述旋转中的最上位置朝所述旋转方向下降的位置。8.根据权利要求7所述的试片保持器，其中，若将所述分选片的前端缘位于所述最上位...

【专利技术属性】
技术研发人员：古里纪明，和田佑亮，
申请(专利权)人：爱科来株式会社，
类型：发明
国别省市：