一种AC电压过零检测电路制造技术

一种AC电压过零检测电路，包括；AC市电采样部分，其包括与市电连接的二极管D1，所述二极管D1的输出端接地；隔离部分，其包括光耦U1，所述光耦U1的第一发光端与所述二极管D1的输出端连接，第二发光端接地，第一导通端输入第一电压，第二导通端接地；主控部分，其包括MCU，所述MCU与所述光耦U1的第二导通端连接，本申请通过光耦隔离达到安全可靠的效果，其次检测的时候AC市电让光耦U1的发光端发光，以使得MCU检测3.3V，如此一来可通过光耦的导通与关断来控制模组检测3.3V的导通与关断，达到检测的目的。的目的。的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种AC电压过零检测电路


[0001]本技术涉及灯具领域，尤其涉及一种AC电压过零检测电路。

技术介绍

[0002]在灯具的各种控制装置中，需要检测AC市电关断后，从而触发控制装置来控制某一事件，比如智能电源通过开关切换来转换灯的颜色；比如储能电源通过检测市电掉电情况，合理使用电池供电，等等应用场合。
[0003]现有的技术是通过继电器或者电阻直接分压来采集市电，控制部分与AC市电直接连接，没有安全隔离，存在隐患，且电路复杂，成本高。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本技术方案提供一种AC电压过零检测电路。
[0005]为实现上述目的，本技术方案如下：
[0006]一种AC电压过零检测电路，包括；
[0007]AC市电采样部分，其包括与市电连接的二极管D1，所述二极管D1的输出端接地；
[0008]隔离部分，其包括光耦U1，所述光耦U1的第一发光端与所述二极管D1的输出端连接，第二发光端接地，第一导通端输入第一电压，第二导通端接地；
[0009]主控部分，其包括MCU，所述MCU与所述光耦U1的第二导通端连接。
[0010]在一些实施例中，所述二极管D1的输出端还依次串联有电阻R1和电阻R2。
[0011]在一些实施例中，所述电阻R2与接地端之间还设有稳压二极管Z1。
[0012]在一些实施例中，所述光耦U1的第一发光端与第二发光端之间设有电容C1。
[0013]在一些实施例中，所述光耦U1的第一导通端通过电阻R3与第一电压连接，第二导通端通过电阻R5接地，第二导通端还通过电容C2接地。
[0014]本申请有益效果为：
[0015]本申请通过光耦隔离达到安全可靠的效果，其次检测的时候AC市电让光耦U1的发光端发光，以使得MCU检测3.3V，如此一来可通过光耦的导通与关断来控制模组检测3.3V的导通与关断，达到检测的目的。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0017]图1是本技术实施例的结构示意图。
具体实施方式
[0018]为了使本技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施
例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0019]请参照图1所示，一种AC电压过零检测电路，包括；
[0020]AC市电采样部分，其包括与市电连接的二极管D1，所述二极管D1的输出端接地；
[0021]隔离部分，其包括光耦U1，所述光耦U1的第一发光端与所述二极管D1的输出端连接，第二发光端接地，第一导通端输入第一电压，第二导通端接地；
[0022]主控部分，其包括MCU，所述MCU与所述光耦U1的第二导通端连接。
[0023]本申请通过光耦隔离达到安全可靠的效果，其次检测的时候AC市电让光耦U1的发光端发光，以使得MCU检测3.3V，如此一来可通过光耦的导通与关断来控制模组检测3.3V的导通与关断，达到检测的目的。
[0024]进一步的说，所述二极管D1的输出端还依次串联有电阻R1和电阻R2。
[0025]进一步的说，所述电阻R2与接地端之间还设有稳压二极管Z1。
[0026]进一步的说，所述光耦U1的第一发光端与第二发光端之间设有电容C1。
[0027]进一步的说，所述光耦U1的第一导通端通过电阻R3与第一电压连接，第二导通端通过电阻R5接地，第二导通端还通过电容C2接地。
[0028]工作原理：市电经电阻R1和电阻R2压降以后到达光耦U1，以使得光耦U1导通，从而第一电压3.3V经过光耦U1到达MCU上，光耦的作用是将初级的信号安全隔离，并传输自次级MCU，当MCU获取到电压表示检测到市电，从而起到安全隔离的作用，更加安全可靠，且电路结构相对现有技术更加简单，成本更低。
[0029]以上所述仅为本申请的较佳实施例，并非用来限定本申请实施的范围，其他凡其原理和基本结构与本申请相同或近似的，均在本申请的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AC电压过零检测电路，其特征在于，包括；AC市电采样部分，其包括与市电连接的二极管D1，所述二极管D1的输出端接地；隔离部分，其包括光耦U1，所述光耦U1的第一发光端与所述二极管D1的输出端连接，第二发光端接地，第一导通端输入第一电压，第二导通端接地；主控部分，其包括MCU，所述MCU与所述光耦U1的第二导通端连接。2.根据权利要求1所述的一种AC电压过零检测电路，其特征在于：所述二极管D1的输出端还依次串联有电阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖虎，黄小军，
申请(专利权)人：中山市卓满信息科技有限公司，
类型：新型
国别省市：