探针高度测量系统及其方法技术方案

本发明专利技术涉及一种探针高度测量系统，用以测量一探针治具上探针的高度，该探针高度测量系统包括有一测量单元以及一电连结于该测量单元的信号处理单元；该测量单元可供导电且具有一趋向该探针治具位移的测量行程，该信号处理单元亦电连结于该探针治具上各探针，而取得该测量单元于该测量行程上的位置信息；其中，于该测量行程中具有至少一与该探针接触的接触位置，该测量单元于该接触位置产生一侦测信号传递至至少一该探针，并将该侦测信号传送至该信号处理单元，对应该位置信息以决定至少一位于该接触位置探针的高度。通过本发明专利技术可以快速定位一探针治具上所有探针的高度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种探针高度测量方法，尤指一种一次量测多数探 针高度的探针高度测量方法。
技术介绍
探针治具是印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB )、集成电 3各(Integrated Circuit, IC )或连4妾器(Connector)于制4乍完成后， 在进行封装或是出货于下游前，用来4企测其电^各正常与否。目前电 子装置结构日渐复杂的趋势下，单一电子装置可能具有大量的电子 接点位置，而相对应的探针治具，无论于探针数量上或是排列的复 杂度，亦与日俱增。而探针治具的良率往往决定检测结果的精确度， 只要有一个^笨针的位置出现些孩i的偏差，即可能i吴判一系列待测对 象的检测结果，可能造成庞大的成本损失，或者因进行事后补救而 造成大量时间的浪费。因此，能够精确定位探针治具上探针，除了 可以判断该探针治具是否足以作为待测物检测，亦可免除因误判所 造成资源上的浪费，有利于保持制造过程的顺畅。探针治具上的探针尖端并非皆为同一平面，因为因应待测对象 的相对立体结构，因此对于探针高度的判读一直以来都是一件相当 困难而且具有相当误差性的问题。一^殳而言是通过另 一具有定位功 能的探针，如美国专利第7250782号所示，通过点对点的方式，对 待测位置进行定位。然而一般探针治具上所设有的探针数量相当庞 大，通过点对点的测量过程将耗费相当长的时间，延长整体出货时间，并不经济。另一已知才支术，如中国台湾专利第1283449号所示， 通过在待测对象侧面进行影像摄影的方式搭配影像处理系统，来决 定端子的高度。此一方式亦不适合使用于探针治具上各探针的高度 测量，探针治具上的探针排列紧密，若以侧面方式进行拍摄仅能得 到周围的数据，对于中心位置的探针仍无法进行高度上的测量。
技术实现思路
本专利技术的主要目的，在于可以精确决定出探针治具上所有探针 的位置，并且减少定位所需要的时间。为实现上述目的，本专利技术提 供一种探针高度测量方法，用以测量探针治具上探针的高度，包括 步骤有接触探针的手段驱动可供导电的测量单元与该纟罙针接触； 取得接触位置信息的手段传送该测量单元与该纟果针所接触的位置 信息至信号处理单元；侦测所接触探针的手段该测量单元产生侦 测信号于所接触的该探针；决定探针高度的手段该探针传递该侦 测信号于该信号处理单元，对应该位置信息以决定至少一4立于该4妾 触位置探针的高度。由于该探针治具具有至少一组不同高度的才笨 针，且该探针可受压力产生上下弹性位移，该决定探针高度的手段 完成后回复至该接触探针的手段，直到该探针治具上所有^l笨针皆已 决定其高度。除此之外，本专利技术还^是供一种适用于上述方法的系统，是一种 探针高度测量系统，包括有测量单元，以及连结于该测量单元的信 号处理单元；该测量单元可供导电且具有趋向该纟笨针治具位移的测 量行程，该信号处理单元，亦电连结于该探针治具上各探针，而取 得该测量单元于该测量行程上的位置信息；其中，于该测量行程中 具有至少一与该探针接触的接触位置，该测量单元于该接触位置产 生侦测信号传递至至少一探针，并将该侦测信号传送至该信号处理 单元，对应该位置信息以决定至少一位于该4妄触位置纟笨针的高度。6通过该测量单元大范围与探针的接触，使得本专利技术得以大量判 断所接触纟笨针的位置，有別于已知必须进行点对点方式的测量，本 专利技术仅需通过数次测量单元的位移即可获得待测探针治具上所有 探针的高度，可以有效节省探针高度测量的时间，相对而言促进整 体制造上的效率。附图说明图1是本专利技术探针高度测量系统优选实施例的外观立体示意图。图2是本专利技术探针高度测量方法优选实施例的步骤流程示意图。图3-1至图3-4是本专利技术优选实施例之一系列作动流程示意图。 具体实施例方式有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，现配合示意图i兌明如下请参阅图l所示，是本专利技术一优选实施例的外观立体示意图， 如图所示本专利技术具有一种探针高度测量系统，用以测量一探针治 具10上探针11的高度，该探针高度测量系统主要包括有一测量单 元20以及一^f言号处理单元30，该测量单元20与该4言号处理单元 30彼此形成电连结。该探针治具IO固定于一固定平台12上，该测 量单元20可供导电且具有一驱动装置21以驱动该测量单元20趋 向于该固定平台12上的揮:针治具10,使该测量单元20具有一测量 行程P，以及包含一具有导电能力的导接部22;该信号处理单元30 除了连结于该测量单元20而取得该测量单元20于该测量行程P上 的位置信息外，亦连结于该探针治具10上各探针11; 一般而言， 才果针治具10具有至少一组不同高度的探针11，且该4笨针11可受压力产生一上下弹性位移。为了使该探针治具io上所有^:针ii皆能 与该测量单元20接触，进行该测量行程p的过禾呈中具有至少一与该探针11接触的接触位置，该测量单元20于该接触位置产生一侦测信号传递至至少一该探针11，并将该侦测信号传送至该信号处理 单元30,对应该位置信息以决定至少一位于该4妄触位置揮:针ii的高度。该信号处理单元30连结至一显示装置40,用以显示该信号 处理单元30根据该位置信息以及该侦测信号决定出该探针11的高度信息。为能使本专利技术得以快速侦测所有探针11的高度，该测量单元20的导接部22是用以直接与该探针11进行接触，且该导接部22 的面积至少大于该纟笨针11所i殳置的范围，如此当进4亍测量行程P 时可以一次涵盖全部探针11的范围，减少进行测量行程P的次数， 而该导4妄部22是一铜制金属或其它可供导电的材料。该测量单元 20于该4姿触位置产生的侦测信号除了可自行产生以外，亦可4妄收来 自该〗言号处理单元30至少通过一纟罙4十11于4妄触4立置所4专递至该测 量单元20的侦测信号，具有该侦测信号的测量单元20，再通过导 接部22将侦测信号传送至所接触的纟笨针11，因此唯有与该导接部 22 4妄触的探针11才可将侦测信号回送至该信号处理单元30，以辨 别出与该测量单元20的导接部22同一高度位置的探针ll,甚者， 为确保所有的探针11都能接收到该侦测信号，避免该探针11因工 作时附着于上的污物或其它造成电阻增加而影响其正常导电功能 的因素，该侦测信号的电压至少大于该纟笨针11工作时的电压。此外，本专利技术亦具有一搭配上述系统的探针高度测量方法，请 参阅图2所示，包括基本步骤有接触探针的手段驱动一可供导电的测量单元20与该探针11 接触(步骤1 );a)取得接触位置信息的手段传送该测量单元20与该探针11 所接触的位置信息至一信号处理单元30 (步骤2);b )侦测所接触探针的手段该测量单元20产生一侦测信号于 所接触的该纟笨针ll (步骤3);c) 决定探针高度的手段该探针ll传递该侦测信号于该信号 处理单元30,对应该位置信息以决定至少一位于该，接触4立置揮:4f 11的高度(步骤4);d) 显示探针高度的手段将探针11的高度信息显示于一显示 装置40上，以供^f吏用者读取或进行后续信息处理(步骤5);e) 回复至该*接触#罙针的手革殳驱动该测量单元20持续位移， 以达到该其它"l妄触位置(步骤6)。于本专利技术一优选实施例中，请参阅图2搭配图3-1至图3-2所 示，该测量单元20通过该驱动装置21本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种探针高度测量方法，用以测量探针治具（１０）上探针（１１）的高度，其特征在于，包括步骤有：　接触探针的手段：驱动可供导电的测量单元（２０）与所述探针（１１）接触；　取得接触位置信息的手段：传送所述测量单元（２０）与所述探针（１ １）所接触的位置信息（Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３）至信号处理单元（３０）；　侦测所接触探针的手段：所述测量单元（２０）产生侦测信号（Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３）于所接触的所述探针（１１）；　决定探针高度的手段：所述探针（１１）传递所述侦测信号（Ｓ１ 、Ｓ２、Ｓ３）于所述信号处理单元（３０），对应所述位置信息（Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３）以决定至少一位于所述接触位置探针（１１）的高度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈天青，李宏德，杨家森，
申请(专利权)人：尚富煜科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]