一种光检装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种光检装置，包括自左至右依次布置的传输组件、第一检测组件和第二检测组件；所述第二检测组件包括两个中心对称布置的第二检测单元，两个第二检测单元的中心对称轴线竖向设置，两个第二检测单元分别位于中心对称轴线的前侧和后侧；所述第二检测单元前后方向长度的2倍大于第二检测组件前后方向的长度。该光检装置，通过使两个第二检测单元之间前后方向存在交叉，则可以减小该光检装置的体积，即减小了光检机体积，降低了光检机制造成本，降低了光检机运输难度。降低了光检机运输难度。降低了光检机运输难度。

【技术实现步骤摘要】
一种光检装置


[0001]本技术涉及一种光检装置，属于光检


技术介绍

[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。
[0003]引线框架在生产过程中，需要通过光检机进行质量检测，光检机的原理是通过机器摄像头将产品转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号；图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，从而甄别出良品与不良品；
[0004]现有的光检机为了满足光检速度要求，光检装置处均会设置两条光检通道，导致光检机体积增大，不仅增加了光检机制造成本，还增加了光检机运输难度。
[0005]因此，需要有一种光检装置，减小光检机体积，降低光检机制造成本，降低光检机运输难度。

技术实现思路

[0006]本技术要解决的技术问题是：为了克服现有技术的不足，提供减小光检机体积，降低光检机制造成本，降低光检机运输难度的一种光检装置。
[0007]本技术解决上述问题所采用的技术方案为：一种光检装置，包括自左至右依次布置的传输组件、第一检测组件和第二检测组件；
[0008]所述第二检测组件包括两个中心对称布置的第二检测单元，两个第二检测单元的中心对称轴线竖向设置，两个第二检测单元分别位于中心对称轴线的前侧和后侧；
[0009]所述第二检测单元前后方向长度的2倍大于第二检测组件前后方向的长度。
[0010]作为优选，所述传输组件包括两个前后对称设置的移动小舟，所述移动小舟与第二检测单元一一对应，所述移动小舟上连接有小舟移动模组。
[0011]作为优选，所述第一检测组件包括两个前后对称设置的线扫相机，所述线扫相机与第二检测单元一一对应，所述线扫相机与工作台固定连接。
[0012]作为优选，所述第二检测单元包括左右布置的尺寸检测部件和镀银检测相机，所述镀银检测相机与工作台固定连接。
[0013]作为优选，所述尺寸检测部件包括前后布置的第一尺寸相机和第二尺寸相机，所述第一尺寸相机和第二尺寸相机均与工作台固定连接。
[0014]作为优选，所述第二尺寸相机位于第一尺寸相机的靠近两个第二检测单元中心对称轴线的一侧。
[0015]作为优选，尺寸检测部件还包括固定设置在工作台上的支架，所述第一尺寸相机
和第二尺寸相机均固定在支架上。
[0016]作为优选，所述第一尺寸相机和镀银检测相机沿左右方向正对布置。
[0017]与现有技术相比，本技术的优点在于：
[0018]本技术一种光检装置，通过使两个第二检测单元之间前后方向存在交叉，则可以减小该光检装置的体积，即减小了光检机体积，降低了光检机制造成本，降低了光检机运输难度。
附图说明
[0019]图1为光检机的结构示意图；
[0020]图2为第二检测组件的结构示意图。
[0021]其中：工作台100，上料机构200，光检机构300，传输组件301，移动小舟301.1，小舟移动模组301.2，第一检测组件302，线扫相机302.1，第二检测组件303，第二检测单元303.1，尺寸检测部件303.11，第一尺寸相机303.111，第二尺寸相机303.112，支架303.113，镀银检测相机303.12。
具体实施方式
[0022]如图1
‑
2所示，本实施例中的一种光检机，包括工作台100和自左至右设置在工作台100上的上料机构200、光检机构300和下料机构400；
[0023]产品通过上料机构200输送至光检机构300，光检完毕后，则通过下料机构400实现下料。
[0024]所述光检机构300包括自左至右依次布置的传输组件301、第一检测组件302和第二检测组件303；
[0025]所述传输组件301包括两个前后对称设置的移动小舟301.1，所述移动小舟301.1上连接有小舟移动模组301.2，所述小舟移动模组301.2驱动移动小舟301.1左右移动；
[0026]上料机构200处的产品输送至移动小舟301.1上，随后，通过小舟移动模组301.2驱动移动小舟301.1向右移动，并通过第一检测组件302和第二检测组件303对产品进行光检，光检完毕后，产品输送至下料机构400，而移动小舟301.1则通过小舟移动模组301.2驱动反向移动实现复位。
[0027]所述第一检测组件302包括两个前后对称设置的线扫相机302.1，所述线扫相机302.1与移动小舟301.1一一对应，所述线扫相机302.1与工作台100固定连接；
[0028]当产品移动至线扫相机302.1处时，通过线扫相机302.1对产品拍照并光检其外形，实现外形光检。
[0029]所述第二检测组件303包括两个中心对称布置的第二检测单元303.1，所述第二检测单元303.1与移动小舟301.1一一对应，所述第二检测单元303.1包括左右布置的尺寸检测部件303.11和镀银检测相机303.12，所述镀银检测相机303.12与工作台100固定连接，所述第二检测单元303.1前后方向长度的2倍大于第二检测组件303前后方向的长度；
[0030]所述尺寸检测部件303.11包括前后布置的第一尺寸相机303.111和第二尺寸相机303.112，所述第一尺寸相机303.111和第二尺寸相机303.112均与工作台100固定连接；
[0031]尺寸检测部件(303.11)还包括固定设置在工作台100上的支架303.113，所述第一
尺寸相机303.111和第二尺寸相机303.112均固定在支架303.113上。
[0032]所述第一尺寸相机303.111和镀银检测相机303.12沿左右方向正对布置。
[0033]当产品一次光检完毕并输送至第二检测组件303处时，通过第一尺寸相机303.111和第二尺寸相机303.112对产品进行拍照并光检其尺寸，其中第二尺寸相机303.112则用于对产品的斜面式基岛处的尺寸进行光检，另外，通过镀银检测相机303.12对产品进行拍照并光检其镀银效果，如此，则实现产品的尺寸和镀银光检；
[0034]这里，因第二检测单元303.1前后方向长度的2倍大于第二检测组件303前后方向的长度，从而使两个第二检测单元303.1之间前后方向存在交叉，如此，则可以减小第二检测组件303前后方向的距离，即可以减小该光检装置的体积。
[0035]除上述实施例外，本技术还包括有其他实施方式，凡采用等同变换或者等效替换方式形成的技术方案，均应落入本技术权利要求的保护范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检装置，其特征在于：包括自左至右依次布置的传输组件(301)、第一检测组件(302)和第二检测组件(303)；所述第二检测组件(303)包括两个中心对称布置的第二检测单元(303.1)，两个第二检测单元(303.1)的中心对称轴线竖向设置，两个第二检测单元(303.1)分别位于中心对称轴线的前侧和后侧；所述第二检测单元(303.1)前后方向长度的2倍大于第二检测组件(303)前后方向的长度。2.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述传输组件(301)包括两个前后对称设置的移动小舟(301.1)，所述移动小舟(301.1)与第二检测单元(303.1)一一对应，所述移动小舟(301.1)上连接有小舟移动模组(301.2)。3.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述第一检测组件(302)包括两个前后对称设置的线扫相机(302.1)，所述线扫相机(302.1)与第二检测单元(303.1)一一对应，所述线扫相机(302.1)与工作台(100)固定连接。4.根据权利要求1所述的一种光检装置，其特征在于：所述第二检测单元(3...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊志，王晓华，
申请(专利权)人：泰兴市永志电子器件有限公司，
类型：新型
国别省市：