筛选系统坏块的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及筛选系统坏块的方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法，包括：选择一个物理块依次进行擦写读操作；判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；若该物理块内的错误bit数量超过设定值，则将该物理块记录到坏块表中；对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。本发明专利技术通过在封测阶段的老化过程中，对错误bit数超过指标的物理块写入固定数据，减小了后续发生读数据失败的概率，增强了可靠性。增强了可靠性。增强了可靠性。

【技术实现步骤摘要】
筛选系统坏块的方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及筛选系统坏块
，尤其是指筛选系统坏块的方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]NandFlash封装后，会对其进行老化测试(通过高低温环境下，对Nand Flash进行擦、写、读操作，将失败的或者错误bit数不符合要求的块统计出来，根据坏块数量进行等级划分)；客户在使用NandFlash时，通过原始坏块扫描方式识别出原始坏块，但是在老化测试过程中错误bit数不符合要求的坏块无法识别出来，只能在使用过程中出现读UNC(不可纠)才会将其标记为坏块，增加的数据丢失风险。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供筛选系统坏块的方法、装置、计算机设备及存储介质。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
[0005]第一方面，本实施例提供了一种筛选系统坏块的方法，包括以下步骤：
[0006]选择一个物理块依次进行擦写读操作；
[0007]判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；
[0008]若该物理块内的错误bit数量超过设定值，则将该物理块记录到坏块表中；
[0009]对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。
[0010]其进一步技术方案为：所述判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值步骤之后，还包括：若该物理块内的错误bit数量未超过设定值，则判断该物理块是否为最后一个块。
[0011]其进一步技术方案为：所述判断该物理块是否为最后一个块步骤之后，还包括：若该物理块为最后一个块，则跳转执行所述对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。
[0012]其进一步技术方案为：所述选择一个物理块依次进行擦写读操作步骤中，通过在高温70℃和低温0℃的温箱环境中，选择一个物理块依次进行擦写读操作。
[0013]第二方面，本实施例提供了一种筛选系统坏块的装置，包括：擦写读单元、第一判断单元、记录单元及擦除写入单元；
[0014]所述擦写读单元，用于选择一个物理块依次进行擦写读操作；
[0015]所述第一判断单元，用于判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；
[0016]所述记录单元，用于若该物理块内的错误bit数量超过设定值，则将该物理块记录到坏块表中；
[0017]所述擦除写入单元，用于对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。
[0018]其进一步技术方案为：所述装置还包括：第二判断单元，用于若该物理块内的错误bit数量未超过设定值，则判断该物理块是否为最后一个块。
[0019]其进一步技术方案为：所述装置还包括：跳转单元，用于若该物理块为最后一个块，则跳转执行所述对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。
[0020]其进一步技术方案为：所述擦写读单元中，通过在高温70℃和低温0℃的温箱环境中，选择一个物理块依次进行擦写读操作。
[0021]第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的筛选系统坏块的方法。
[0022]第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的筛选系统坏块的方法。
[0023]本专利技术与现有技术相比的有益效果是：通过在封测阶段的老化过程中，对错误bit数超过指标的物理块写入固定数据，减小了后续发生读数据失败的概率，增强了可靠性。
[0024]下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术实施例提供的筛选系统坏块的方法的流程示意图；
[0027]图2为本专利技术实施例提供的筛选系统坏块的装置的示意性框图；
[0028]图3为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0031]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0032]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0033]请参阅图1所示的具体实施例，本专利技术公开了一种筛选系统坏块的方法，包括以下步骤：
[0034]S1，选择一个物理块依次进行擦写读操作；
[0035]具体地，NandFlash封装完成后，老化过程中，通过在高温70℃和低温0℃的温箱环境中，选择一个物理块依次进行擦写读操作。物理块的选择为随机选择。
[0036]进一步地，老化过程中，主控程序会申请一段存储器空间，用于存放新增坏块信息(bit位写1表示是坏块，bit为写0表示非坏块)。
[0037]S2，判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；若该物理块内的错误bit数量未超过设定值，则跳转执行S5步骤；
[0038]具体地，设定值为120bit/2k。
[0039]S3，若该物理块内的错误bit数量超过设定值，则将该物理块记录到坏块表中；
[0040]S4，对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据；
[0041]具体地，在老化完成后，对全盘进行擦除操作；固定数据为0x12345678，固定数据还可以随着不同厂家、不同型号、不同代次进行设定。
[0042]S5，判断该物理块是否为最后一个块；若该物理块为最后一个块，则跳转执行S4步骤；若该物理块不是最后一个块，则跳转执行S1步骤。
[0043]在一实施例中，在S4步骤之后，还包括：用户在首次使用颗粒时，通过判断每一个物理块中是否存在写入的固定数据，如果是，则表示为坏块，将其写入到原始坏块表中。
[0044]本本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.筛选系统坏块的方法，其特征在于，包括以下步骤：选择一个物理块依次进行擦写读操作；判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；若该物理块内的错误bit数量超过设定值，则将该物理块记录到坏块表中；对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。2.根据权利要求1所述的筛选系统坏块的方法，其特征在于，所述判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值步骤之后，还包括：若该物理块内的错误bit数量未超过设定值，则判断该物理块是否为最后一个块。3.根据权利要求2所述的筛选系统坏块的方法，其特征在于，所述判断该物理块是否为最后一个块步骤之后，还包括：若该物理块为最后一个块，则跳转执行所述对全盘进行擦除，向坏块内写入固定数据。4.根据权利要求1所述的筛选系统坏块的方法，其特征在于，所述选择一个物理块依次进行擦写读操作步骤中，通过在高温70℃和低温0℃的温箱环境中，选择一个物理块依次进行擦写读操作。5.筛选系统坏块的装置，其特征在于，包括：擦写读单元、第一判断单元、记录单元及擦除写入单元；所述擦写读单元，用于选择一个物理块依次进行擦写读操作；所述第一判断单元，用于判断该物理块内的错误bit数量是否超过设定值；所述记录单元，用于若...

【专利技术属性】
技术研发人员：巫东，石云中，曾添友，
申请(专利权)人：成都芯忆联信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：