一种厚度测量仪制造技术

本发明专利技术实施例提供了一种厚度测量仪，包括上下相对间隔设置第一平台和第二平台，第一平台位于第二平台的上方；夹紧机构，设置在第一平台和第二平台之间，用于将待测物体水平夹紧定位在两平台之间；两个测量装置分别设置于第一平台和第二平台上，测量装置包括转盘、高度尺和测量头，两个转盘分别呈水平状并转动设于第一平台和第二平台上，高度尺呈竖向设置，高度尺与转盘滑动连接，以使高度尺能够沿着转盘径向移动，测量头连接于高度尺上，在外力作用下测量头沿着高度尺竖向移动，使测量头的顶点能够抵于待测物体的表面，测量头的顶点与高度尺位于一条直线上。能够对尺寸稍大物体的中间附近范围的位置进行厚度测量，能够对待测物进行多点定位测量。行多点定位测量。行多点定位测量。

【技术实现步骤摘要】
一种厚度测量仪


[0001]本专利技术属于厚度测量设备
，尤其涉及一种厚度测量仪。

技术介绍

[0002]对于精度比较高的部件来说，厚度是非常重要的参数，对于尺寸较小的物体，比如长条状的小尺寸物体，现有的厚度仪可以检测到物体的各个位置，但是对于尺寸稍大的物体，现有厚度测量仪由于形状或结构限制，导致测量的部位可能无法接触到中间附近范围的一些位置，只能检测到边缘位置的厚度，测不到其中间附近范围的厚度，导致很多重要数据缺失，不利于产品设计的顺利进行。现有的一些手持式厚度测量仪必须一只手拿物体，一只手拿着仪器测量，手拿物体，很难保证物体平衡，且手动调节的旋钮无法控制压力，导致测量结果不精确。现有一些高度规的测量过程必须在大理石平台上进行，使测量条件受到限制，且被测物体与大理石接触的那一面必须是平面，否则测量很难进行。

技术实现思路

[0003]鉴于现有技术存在的上述问题，本专利技术实施例的目的在于提供一种厚度测量仪。该厚度测量仪能够对尺寸稍大的物体的中间附近范围的位置进行厚度测量，不必手拿待测物体提高准确性，且能够对待测物进行多点定位测量。
[0004]本专利技术实施例采用的技术方案是，一种厚度测量仪，包括：
[0005]第一平台和第二平台，两者上下相对间隔设置，且所述第一平台位于第二平台的上方；
[0006]夹紧机构，设置在第一平台和第二平台之间，用于将待测物体水平夹紧定位在两平台之间；
[0007]两个测量装置，分别设置于第一平台和第二平台上，测量装置包括转盘、高度尺和测量头，两个转盘分别呈水平状并转动设于第一平台和第二平台上，高度尺呈竖向设置，高度尺的一端与转盘滑动连接，以使高度尺能够沿着转盘的径向移动，测量头连接于高度尺上，且在外力作用下测量头能够沿着高度尺竖向移动，以使测量头的顶点能够抵于待测物体的表面，测量头的顶点与高度尺位于一条直线上。
[0008]在一些实施例中，测量头包括压头、第一滑块、第一连接杆和套接部，压头的一端与第一滑块连接，第一滑块与第一连接杆的一端连接，第一连接杆的另一端与套接部连接，套接部套接在高度尺上，使压头位于高度尺的上方，在外力作用下套接部能够沿高度尺竖向移动以调节压头的高度。
[0009]在一些实施例中，压头包括第二连接杆和球头，球头与第二连接杆的一端连接，第一滑块设置固定孔，固定孔内设置第一弹簧，第二连接杆的另一端伸入固定孔，并与固定孔紧密配合，第二连接杆能够在外力作用下沿固定孔移动，且在第二连接杆向固定孔内移动时压缩第一弹簧。
[0010]在一些实施例中，高度尺为圆柱体结构，且在圆柱体外侧壁上设置轴向的平切面。
[0011]在一些实施例中，夹紧机构包括多个夹紧件，夹紧件包括与第一平台活动连接的第一支撑柱和与第二平台固定连接的第二支撑柱，第一支撑柱和第二支撑柱上下相对设置，并分别在相对的一端设置夹紧板，多个第二支撑柱的夹紧板的上板面处于同一水平面上，第一支撑柱位于第一平台下方的部位上套设第二弹簧，第二弹簧使第一支撑柱能够纵向移动以调整第一支撑柱与第二支撑柱之间的间距。
[0012]在一些实施例中，第一平台和第二平台的外周缘向外延伸形成多个固定部，多个夹紧件分别与多个固定部一一对应，第二支撑柱与第二平台的固定部连接，第一支撑柱与第一平台的固定部连接。
[0013]在一些实施例中，两个转盘上分别设置沿其径向延伸的第一滑槽，高度尺的一端设置第二滑块，第二滑块与第一滑槽滑动连接，第一滑槽沿其延伸方向的两侧分别设置刻度线，径向设置的第一滑槽可以使高度尺沿着所述转盘的径向滑动，并能定位在径向上的任意位置。
[0014]在一些实施例中，第一平台和第二平台上分别设置圆形凹槽，两个转盘分别设置在圆形凹槽中，转盘的盘底面和盘外周面分别与圆形凹槽的槽底面和槽壁面贴合，第一平台和第二平台上围绕圆形凹槽的外周缘设置刻度线，形成刻度盘。
[0015]在一些实施例中，厚度测量仪还包括第二标识头，第二标识头的一端与转盘的第一滑槽连接，并且第二标识头指向刻度盘，第二标识头的指向方向与高度尺沿着第一滑槽的滑动方向重合。
[0016]在一些实施例中，第二平台的底部设置多个调节螺钉。
[0017]与现有技术相比，本专利技术实施例的厚度测量仪的有益效果在于：待测物体被夹紧机构水平夹紧定位在两平台之间，待测物体上下的两个测量装置配合对待测物体进行厚度测量；两个测量装置上的测量头的顶点分别抵于待测物体同一位置的上表面和下表面时，就可以对该位置进行厚度测量；由于两个测量头分别设于第一平台和第二平台上，而且能够分别在转盘的整个范围内移动，所以不仅能够对待测物体的边缘位置进行测量，而且能够对待测物体的中间附近范围的位置进行厚度测量，解决了稍大的物体对于中间附近范围内的位置厚度无法测量的问题，而且检测结果准确性高；另外，通过极坐标定位，可以对多个定位的位置进行厚度测量，还可以直接和精确的得到物体各个位置的厚度分布情况；待测物体被装夹，通过测量头进行测量，相比于手持式厚度测量，提高了测量结果的准确性。
[0018]应当理解，前面的一般描述和以下详细描述都仅是示例性和说明性的，而不是用于限制本专利技术。
[0019]本专利技术中描述的技术的各种实现或示例的概述，并不是所公开技术的全部范围或所有特征的全面公开。
附图说明
[0020]在不一定按比例绘制的附图中，相同的附图标记可以在不同的视图中描述相似的部件。具有字母后缀或不同字母后缀的相同附图标记可以表示相似部件的不同实例。附图大体上通过举例而不是限制的方式示出各种实施例，并且与说明书以及权利要求书一起用于对所专利技术的实施例进行说明。在适当的时候，在所有附图中使用相同的附图标记指代同一或相似的部分。这样的实施例是例证性的，而并非旨在作为本装置或方法的穷尽或排他
实施例。
[0021]图1为本专利技术实施例的厚度测量仪的第一角度的整体结构图。
[0022]图2为本专利技术实施例的厚度测量仪的第二角度的整体结构图。
[0023]图3为本专利技术实施例的厚度测量仪的第三角度的整体结构图。
[0024]图4为本专利技术实施例的两个测量头的顶点相抵形成基准线的示意图。
[0025]图5为本专利技术实施例的测量待测物体厚度的示意图。
[0026]图6为本专利技术实施例的测量头和高度尺连接的剖开示意图。
[0027]图7为本专利技术实施例的高度尺的整体结构示意图。
[0028]图8为本专利技术实施例的转盘的整体结构示意图。
[0029]图9为本专利技术实施例的第一平台与转盘拆解的示意图。
[0030]附图标记：
[0031]1‑
第一平台；2
‑
第二平台；3
‑
转盘；4
‑
高度尺；5
‑
第一连接杆；6
‑
第一滑块；7
‑
第二连接杆；8
‑
套接部；9
‑
球头；10
‑
第一弹簧；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种厚度测量仪，其特征在于，包括：第一平台和第二平台，两者上下相对间隔设置，且所述第一平台位于所述第二平台的上方；夹紧机构，设置在所述第一平台和所述第二平台之间，用于将待测物体水平夹紧定位在两平台之间；两个测量装置，分别设置于所述第一平台和所述第二平台上，所述测量装置包括转盘、高度尺和测量头，所述两个转盘分别呈水平状并转动设于所述第一平台和所述第二平台上，所述高度尺呈竖向设置，所述高度尺的一端与所述转盘滑动连接，以使所述高度尺能够沿着所述转盘的径向移动，所述测量头连接于所述高度尺上，且在外力作用下所述测量头能够沿着所述高度尺竖向移动，以使所述测量头的顶点能够抵于所述待测物体的表面，所述测量头的顶点与所述高度尺位于一条直线上。2.根据权利要求1所述的厚度测量仪，其特征在于，所述测量头包括压头、第一滑块、第一连接杆和套接部，所述压头的一端与所述第一滑块连接，所述第一滑块与所述第一连接杆的一端连接，所述第一连接杆的另一端与所述套接部连接，所述套接部套接在所述高度尺上，使所述压头位于所述高度尺的上方，在外力作用下所述套接部能够沿所述高度尺竖向移动以调节所述压头的高度。3.根据权利要求2所述的厚度测量仪，其特征在于，所述压头包括第二连接杆和球头，所述球头与所述第二连接杆的一端连接，所述第一滑块设置固定孔，所述固定孔内设置第一弹簧，所述第二连接杆的另一端伸入所述固定孔，并与所述固定孔紧密配合，所述第二连接杆能够在外力作用下沿所述固定孔移动，且在所述第二连接杆向固定孔内移动时压缩所述第一弹簧。4.根据权利要求1所述的厚度测量仪，其特征在于，所述高度尺为圆柱体结构，且在圆柱体外侧壁上设置轴向的平切面。5.根据权利要求1所述的厚度测量仪，其特征在于，所述夹紧机构包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：李保朝，雷伟，杨航，张岩，潘春洋，
申请(专利权)人：联宝合肥电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：