存储器转接板、存储器测试组件及测试方法技术

本公开是关于一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法，涉及集成电路技术领域。该存储器转接板包括：线路板和设置在线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；电源转换模块用于为存储器芯片提供电源；开关单元用于连通存储器芯片和可编程板卡，可编程板卡用于控制存储器芯片执行测试指令。本公开可以依照测试指令对存储器芯片进行测试。测试。测试。

【技术实现步骤摘要】
存储器转接板、存储器测试组件及测试方法


[0001]本公开涉及集成电路
，具体而言，涉及一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法。

技术介绍

[0002]存储器测试模式是在芯片流片完成后访问设计阶段定义好的DFT(Design For Test)寄存器的模式，可以更改存储器芯片内部的部分电源电压、I/O时序等，从而提高存储器芯片调试的效率。
[0003]现有的通过CPU主板进入DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存储器)芯片的测试模式中，对于一些测试指令，例如不满足JEDEC(Joint Electron Device Engineering Council，电子器件工程联合委员会)规范的测试指令，CPU主板无法识别并控制完成存储器的测试。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开的目的在于提供一种存储器转接板、存储器测试组件及存储器测试方法，进而至少在一定程度上克服无法依照测试指令对DRAM芯片进行测试的问题。
[0006]本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本专利技术的实践而习得。
[0007]根据本公开的第一方面，提供一种存储器转接板，包括：线路板和设置在所述线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，所述存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；所述电源转换模块用于为所述存储器芯片提供电源；所述开关单元用于连通所述存储器芯片和可编程板卡，所述可编程板卡用于控制所述存储器芯片执行测试指令。
[0008]在一种可选的示例性实施方式中，所述可编程板卡用于，在所述存储器芯片复位后，根据所述测试指令，控制所述开关单元连通所述存储器芯片和所述可编程板卡。
[0009]在一种可选的示例性实施方式中，所述可编程板卡用于，将所述测试指令转换为测试信息，并从预设时序图中提取出所述测试信息对应的波形信号，在命令时钟的下降沿将所述波形信号输入至所述存储器芯片；所述存储器芯片用于根据所述波形信号进行测试。
[0010]在一种可选的示例性实施方式中，所述测试指令和所述测试信息均与所述命令时钟的下降沿对应。
[0011]在一种可选的示例性实施方式中，所述测试信息包括：控制信号、阵列信号和地址信号。
[0012]在一种可选的示例性实施方式中，所述可编程板卡包括：可编程芯片和与所述可
编程芯片连接的外围电路、接口单元、存储单元及供电单元，所述接口单元与所述开关单元连接。
[0013]在一种可选的示例性实施方式中，所述存储单元包括随机存取存储器，所述随机存取存储器用于存储所述预设时序图。
[0014]在一种可选的示例性实施方式中，所述外围电路包括：时钟电路，用于为所述可编程板卡提供工作时钟；第一复位电路，用于触发所述可编程芯片逻辑复位。
[0015]在一种可选的示例性实施方式中，所述电源转换模块还包括第二复位电路，所述第二复位电路用于为所述存储器芯片提供复位信号。
[0016]在一种可选的示例性实施方式中，所述第二复位电路包括串联的电阻和电容。
[0017]在一种可选的示例性实施方式中，所述电源转换模块用于，在为所述存储器芯片供电预设时间后，发送所述复位信号以使所述存储器芯片复位。
[0018]在一种可选的示例性实施方式中，所述存储器芯片通过线缆与所述开关单元连接。
[0019]在一种可选的示例性实施方式中，所述开关单元为高速切换开关，所述高速切换开关的切换速度大于或等于4Gbps。
[0020]在一种可选的示例性实施方式中，还包括：垫高板，设置在所述线路板的底部。
[0021]在一种可选的示例性实施方式中，所述可编程板卡为FPGA板卡或CPLD板卡。
[0022]根据本公开的第二方面，提供一种存储器测试组件，包括：系统平台主板；上述的存储器转接板，所述存储器转接板集成在所述系统平台主板上，所述存储器转接板的开关单元与所述系统平台主板连接；可编程板卡，与所述开关单元连接，所述可编程板卡用于控制存储器芯片执行测试指令。
[0023]在一种可选的示例性实施方式中，所述开关单元为可切换开关单元，用于在所述系统平台主板和所述可编程板卡之间进行电信号切换。
[0024]在一种可选的示例性实施方式中，所述系统平台主板包括：CPU、CPU接口单元和CPU存储单元；其中，所述CPU存储单元和所述CPU分别与所述CPU接口单元连接，所述CPU接口单元与所述开关单元连接。
[0025]根据本公开的第三方面，提供一种存储器测试方法，用于上述的存储器测试组件，所述方法包括：断开存储器芯片与系统平台主板的连接；通过存储器转接板中的电源转换模块为存储器芯片供电；在供电预设时间后，发送复位信号以使所述存储器芯片复位；将所述存储器芯片与可编程板卡连通，通过所述可编程板卡控制所述存储器芯片进入测试模式，执行测试指令；完成测试后，将所述可编程板卡断电，将所述存储器芯片与所述系统平台主板连通。
[0026]在一种可选的示例性实施方式中，通过所述可编程板卡控制所述存储器芯片进入测试模式包括：通过程序将所述测试指令写入所述可编程板卡；通过所述可编程板卡将所述测试指令转换为测试信息，并从预设时序图中提取出所述测试信息对应的波形信号，在命令时钟的下降沿将所述波形信号输入至所述存储器芯片；控制所述存储器芯片根据所述波形信号进行测试。
[0027]根据本示例实施例中的存储器转接板，一方面，通过设置存储器芯片测试座可以实现存储器芯片的可拆卸连接，存储器转接板中的电源转换模块可以为存储器芯片提供电
源，从而可以满足存储器芯片测试过程中的独立供电，便于将存储器芯片的测试过程完全独立于终端设备来进行，不会受到终端系统平台掉电的影响，应用范围更广，调试更便利。另一方面，还可以将存储器转接板设置在终端设备的系统平台主板上，以便于根据系统平台主板的实际情况尽快找到并分析存储器芯片存在的问题，达到测试的目的。另一方面，该存储器转接板可以连接可编程板卡，通过可编程板卡可以依照用户自定义的测试指令，例如非常规测试指令控制存储器芯片执行测试指令，从而可以扩大存储器芯片的测试范围，最大限度地满足用户需求。
[0028]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0029]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0030]图1示意性示出了根据本公开的示例性实施方式的一个存储器转接板的结构示意图；...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器转接板，其特征在于，包括：线路板和设置在所述线路板上的存储器芯片测试座、电源转换模块和开关单元；其中，所述存储器芯片测试座用于安装存储器芯片；所述电源转换模块用于为所述存储器芯片提供电源；所述开关单元用于连通所述存储器芯片和可编程板卡，所述可编程板卡用于控制所述存储器芯片执行测试指令。2.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡用于，在所述存储器芯片复位后，根据所述测试指令，控制所述开关单元连通所述存储器芯片和所述可编程板卡。3.根据权利要求2所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡用于，将所述测试指令转换为测试信息，并从预设时序图中提取出所述测试信息对应的波形信号，在命令时钟的下降沿将所述波形信号输入至所述存储器芯片；所述存储器芯片用于根据所述波形信号进行测试。4.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述测试指令和所述测试信息均与所述命令时钟的下降沿对应。5.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述测试信息包括：控制信号、阵列信号和地址信号。6.根据权利要求3所述的存储器转接板，其特征在于，所述可编程板卡包括：可编程芯片和与所述可编程芯片连接的外围电路、接口单元、存储单元及供电单元，所述接口单元与所述开关单元连接。7.根据权利要求6所述的存储器转接板，其特征在于，所述存储单元包括随机存取存储器，所述随机存取存储器用于存储所述预设时序图。8.根据权利要求6所述的存储器转接板，其特征在于，所述外围电路包括：时钟电路，用于为所述可编程板卡提供工作时钟；第一复位电路，用于触发所述可编程芯片逻辑复位。9.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述电源转换模块还包括第二复位电路，所述第二复位电路用于为所述存储器芯片提供复位信号。10.根据权利要求9所述的存储器转接板，其特征在于，所述第二复位电路包括串联的电阻和电容。11.根据权利要求9所述的存储器转接板，其特征在于，所述电源转换模块用于，在为所述存储器芯片供电预设时间后，发送所述复位信号以使所述存储器芯片复位。12.根据权利要求1所述的存储器转接板，其特征在于，所述存储器芯片通过线缆与所述开关单元连接。13....

【专利技术属性】
技术研发人员：马茂松，钱进，刘建斌，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：