检测方法及检测系统技术方案

本申请公开了一种检测方法及检测系统。该检测方法包括：获取电子设备的部件信息；基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径；控制检测设备沿所述检测路径移动，以基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件。测结果确定目标部件。测结果确定目标部件。

【技术实现步骤摘要】
检测方法及检测系统


[0001]本申请涉及电磁辐射检测
，特别涉及一种检测方法及检测系统。

技术介绍

[0002]电磁兼容(EMC)测试指的是对电子产品在电磁场方面干扰大小(EMI)和抗干扰能力(EMS)的综合评定，是产品质量最重要的指标之一。通常情况下，将待检测的电子设备置于暗室中，检测电子设备的电磁辐射水平，所生成的检测结果仅能表征电子设备整体的电磁辐射水平。
[0003]如果检测结果显示电磁辐射超标，无法从检测结果中确定导致电磁辐射超标的具体部件。通常的做法有两种，一种是替换或者取下各个部件，每取下一个部件，就重新执行一次电磁辐射测试，时间大概在半个小时左右。如果发现问题点还在，那么说明不是该部件出现问题，需要继续寻找。如果将所有可替换部件都取下来后发现辐射超标依旧，那么只能确定问题点在服务器本身。操作过程复杂，耗时较长。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种检测方法及检测系统，本申请实施例采用的技术方案如下所示。
[0005]本申请第一方面提供了一种检测方法，包括：
[0006]获取电子设备的部件信息；
[0007]基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径；
[0008]控制检测设备沿所述检测路径移动,以基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件。
[0009]在一些实施例中，基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径，包括：
[0010]获取所述检测设备的检测参数；其中，所述检测参数至少包括所述检测设备的配置参数；
[0011]基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径。
[0012]在一些实施例中，基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径，包括：
[0013]基于所述部件信息确定待检测区域和非检测区域；
[0014]基于所述待检测区域和所述检测设备的配置参数确定所述检测设备的工作路径；
[0015]基于所述非检测区域确定所述检测设备的避让路径；
[0016]基于所述工作路径和所述避让路径得到所述检测设备的检测路径；
[0017]其中，所述检测设备在所述检测区域和所述非检测区域的工作参数不同。
[0018]在一些实施例中，所述部件信息包括电子设备的主板的属性信息以及所述电子设备的各个部件与所述主板的相对位置信息；
[0019]所述基于所述检测参数和所述部件信息，确定检测设备的检测路径，包括：
[0020]基于所述属性信息和所述相对位置信息确定所述检测路径的起点和终点；
[0021]基于所述相对位置信息和所述检测参数确定所述检测设备的移动路径，以得到所述检测设备的检测路径。
[0022]在一些实施例中，所述基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径，包括：
[0023]基于所述检测参数和所述部件信息，利用路径规划算法确定所述检测设备的检测路径；且/或，
[0024]所述获取电子设备的部件信息，包括：
[0025]对所述电子设备内的各部件进行三维扫描，以获取所述电子设备的部件信息。
[0026]在一些实施例中，基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件，包括：
[0027]获得所述检测路径上的各个节点的检测数据，所述节点与所述电子设备的部件具有目标对应关系；
[0028]基于所述检测数据和目标坐标信息得到所述电子设备的三维立体检测图，所述目标坐标信息基于电子设备的主板信息和各部件与所述主板的相对位置信息确定；
[0029]基于所述三维立体检测图确定异常信息，将所述异常信息对应的部件确定为所述目标部件。
[0030]在一些实施例中，基于所述检测数据和目标坐标信息得到所述电子设备的三维立体检测图，包括：
[0031]将所述检测设备反馈的检测数据处理成各目标坐标点位上的辐射数值，将所述辐射数值和所述目标坐标信息处理成三维电磁辐射值图。
[0032]在一些实施例中，还包括：
[0033]配置检测数据的分析策略，以在所述三维电磁辐射值图中突出所述异常信息。
[0034]在一些实施例中，还包括：
[0035]输出在电子设备内的目标位置更换所述目标部件或重新配置所述目标部件的提示信息。
[0036]本申请第二方面提供了一种检测系统，包括：
[0037]检测设备，用于对电子设备进行电磁辐射检测；
[0038]控制设备，与所述检测设备连接，所述控制设备用于：获取电子设备的部件信息；基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径；控制检测设备沿所述检测路径移动,以基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件。
[0039]本申请实施例的检测方法，获取电子设备的部件信息；基于所述部件信息，确定用于对电子设备进行电磁辐射检测的检测路径；控制检测设备沿所述检测路径移动，以基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件。如此，不仅能够提高检测效率，缩短检测周期，且有益于保持检测结果的准确性。
附图说明
[0040]图1为本申请实施例的检测方法的流程图；
[0041]图2为本申请实施例的检测方法中步骤S120的流程图；
[0042]图3为电子设备的主板的结构示意图；
[0043]图4为本申请实施例的检测方法中步骤S122的场景示意图；
[0044]图5为本申请实施例的检测方法中步骤S130的流程图；
[0045]图6为三维电磁辐射值图；
[0046]图7为本申请实施例的检测系统的结构框图。
具体实施方式
[0047]此处参考附图描述本申请的各种方案以及特征。
[0048]应理解的是，可以对此处申请的实施例做出各种修改。因此，上述说明书不应该视为限制，而仅是作为实施例的范例。本领域的技术人员将想到在本申请的范围和精神内的其他修改。
[0049]包含在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本申请的实施例，并且与上面给出的对本申请的大致描述以及下面给出的对实施例的详细描述一起用于解释本申请的原理。
[0050]通过下面参照附图对给定为非限制性实例的实施例的优选形式的描述，本申请的这些和其它特性将会变得显而易见。
[0051]还应当理解，尽管已经参照一些具体实例对本申请进行了描述，但本领域技术人员能够确定地实现本申请的很多其它等效形式，它们具有如权利要求所述的特征并因此都位于借此所限定的保护范围内。
[0052]当结合附图时，鉴于以下详细说明，本申请的上述和其他方面、特征和优势将变得更为显而易见。
[0053]此后参照附图描述本申请的具体实施例；然而，应当理解，所申请的实施例仅仅是本申请的实例，其可采用多种方式实施。熟知和/或重复的功能和结构并未详细描述以避免不必要或多余的细节使得本申请模糊不清。因此，本文所申请的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测方法，包括：获取电子设备的部件信息；基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径；控制检测设备沿所述检测路径移动，以基于所述电子设备的各部件的检测结果确定目标部件。2.根据权利要求1所述的方法，其中，基于所述部件信息，确定用于对所述电子设备进行电磁辐射检测的检测路径，包括：获取所述检测设备的检测参数；其中，所述检测参数至少包括所述检测设备的配置参数；基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径。3.根据权利要求2所述的方法，其中，基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径，包括：基于所述部件信息确定待检测区域和非检测区域；基于所述待检测区域和所述检测设备的配置参数确定所述检测设备的工作路径；基于所述非检测区域确定所述检测设备的避让路径；基于所述工作路径和所述避让路径得到所述检测设备的检测路径；其中，所述检测设备在所述检测区域和所述非检测区域的工作参数不同。4.根据权利要求2或3所述的方法，其中，所述部件信息包括电子设备的主板的属性信息以及所述电子设备的各个部件与所述主板的相对位置信息；所述基于所述检测参数和所述部件信息，确定检测设备的检测路径，包括：基于所述属性信息和所述相对位置信息确定所述检测路径的起点和终点；基于所述相对位置信息和所述检测参数确定所述检测设备的移动路径，以得到所述检测设备的检测路径。5.根据权利要求2所述的方法，其中，所述基于所述检测参数和所述部件信息，确定所述检测设备的检测路径，包括：基于所述检测参数和所述部件信息，...

【专利技术属性】
技术研发人员：林敏，郭强，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：