测试方法以及测试系统技术方案

本公开涉及测试方法以及测试系统。一种测试方法包含以下操作：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由讯号产生器将多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。对应该些频率点的复数电源抑制比。对应该些频率点的复数电源抑制比。

【技术实现步骤摘要】
测试方法以及测试系统


[0001]本揭示中是有关于一种测试技术。特别关于一种可快速进行测试的测试方法以及测试系统。

技术介绍

[0002]电源抑制比(power supply rejection ratio，PSRR)是用以判断电源电路对输入纹波(ripple)抑制程度的重要参数。
[0003]在一些相关技术中，是利用示波器于时域上进行量测。然而，示波器只能量测到毫伏特等级的电压，因此示波器可量测到的电源抑制比范围有限(例如：40分贝至50分贝)。基于此，若一待测装置的电源抑制比超过此范围(例如：60分贝)，示波器将无法准确量测出此待测装置的电源抑制比。

技术实现思路

[0004]本揭示之一些实施方式是关于一种测试方法。测试方法包含以下操作：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由讯号产生器将多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。
[0005]本揭示之一些实施方式是关于一种测试系统。测试系统包含一讯号产生器、一频谱分析器以及一控制装置。讯号产生器用以产生一多频讯号且将多频讯号传输至一待测装置的一输入端。频谱分析器耦接待测装置且用以分别量测待测装置的输入端以及待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出强度。控制装置耦接频谱分析器且用以依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。
[0006]综上所述，本揭示可将多频讯号输入至待测装置，且利用频谱分析仪分别对输入端及输出端进行多频率点量测，以快速地量测出待测装置对应于不同频率点的电源抑制比。另外，由于本揭示是在频域上进行量测，因此可提高量测的动态范围。
附图说明
[0007]为让本揭示之上述和其他目的、特征、优点与实施例能够更明显易懂，所附图式之说明如下：
[0008]图1是依照本揭示一些实施例所绘示的一测试系统的示意图；
[0009]图2是依照本揭示一些实施例所绘示的图1中的待测装置的示意图；
[0010]图3是依照本揭示一些实施例所绘示的一测试方法的流程图；
[0011]图4是依照本揭示一些实施例所绘示的一反傅立叶变换的示意图；
[0012]图5A
‑
图5B分别是依照本揭示一些实施例所绘示的输入纹波强度与输出纹波强度
的示意图；
[0013]图6是依照本揭示一些实施例所绘示的产生电源抑制比的示意图；
[0014]图7是依照本揭示一些实施例所绘示的图3中的一操作的详细流程图；以及
[0015]图8是依照本揭示一些实施例所绘示的图3中的一操作的详细流程图。
具体实施方式
[0016]在本文中所使用的用词『耦接』亦可指『电性耦接』，且用词『连接』亦可指『电性连接』。『耦接』及『连接』亦可指二个或多个元件相互配合或相互互动。
[0017]参考图1。图1是依照本揭示一些实施例所绘示的测试系统100的示意图。测试系统100用以对待测装置DUT进行测试，以快速产生待测装置DUT的电源抑制比(power supply rejection ratio)。在一些实施例中，待测装置DUT可为一电源芯片，而测试系统100可对电源芯片进行测试，以快速产生此电源芯片的电源抑制比。
[0018]以图1示例而言，测试系统100包含控制总线BUS、讯号产生器110、频谱分析器120、控制装置130、直流量测器140、滤波器150以及切换装置160。
[0019]讯号产生器110、频谱分析器120、控制装置130、直流量测器140 以及待测装置DUT分别耦接控制总线BUS。讯号产生器110耦接待测装置DUT的输入端IN。待测装置DUT的输出端OUT耦接负载Z。控制装置130耦接切换装置160。频谱分析器120耦接滤波器150。滤波器150耦接直流量测器140。切换装置160耦接待测装置DUT的输入端IN、待测装置DUT的输出端OUT、滤波器150以及频谱分析器140。
[0020]在一些实施例中，讯号产生器110与待测装置DUT之间的耦接以及待测装置DUT与负载Z之间的耦接可透过金属线(wire)实现。在一些实施例中，切换装置160与输入端IN之间的耦接以及切换装置160与输出端OUT之间的耦接可透过缆线(cable)或探针实现。在一些实施例中，控制装置130与切换装置160之间的耦接可透过另一控制总线实现。
[0021]控制装置130可为平板电脑、笔记型电脑、桌上型电脑或其他具有控制以及数据处理功能的电子装置。滤波器150可用以滤除直流成份，仅使交流成份通过以供频谱分析器120量测。切换装置160可为单轴双切(single pole double throw，SPDT)切换器。
[0022]参考图2。图2是依照本揭示一些实施例所绘示的图1中的待测装置 DUT的示意图。
[0023]如前所述，待测装置DUT例如为电源芯片，然本专利技术不限于此。以图2示例而言，待测装置DUT可包含参考电路210、放大电路220以及开关电路230。参考电路210耦接于输入端IN与地端GND之间。放大电路220的第一输入端(例如：负输入端)耦接参考电路210，且放大电路220的第二输入端(例如：正输入端)耦接输出端OUT。开关电路230的第一端耦接输入端IN，开关电路230的第二端耦接输出端OUT，且开关电路230的控制端耦接放大电路220的输出端。
[0024]在一些实施例中，待测装置DUT的输入端IN可用以接收直流输入电压V
IN
(例如：5伏特)，且将直流输入电压V
IN
进行电压转换(例如：降压)以产生直流输出电压V
OUT
(例如：3.3伏特)。
[0025]然而，在一般的运作下，除了直流输入电压V
IN
外，输入端IN可能存在输入纹波(ripple)RP1。由于待测装置DUT并非线性元件，因此输入端IN的输入纹波RP1经过待测装置DUT后会在输出端OUT造成输出纹波RP2。举例而言，假若输入纹波RP1具有基频(例如：1M赫
兹)，输出纹波RP2则会包含多个倍频弦波(例如：2M赫兹、3M赫兹)。另外，由于路径P1
‑
P3上可能存在噪声，这些噪声也会贡献为输出纹波RP2。
[0026]而图1中的测试系统100可用以量测输入端IN的输入纹波RP1以及输出端OUT的输出纹波RP2，以快速产生待测装置DUT的电源抑制比。如何快速产生待测装置DUT的电源抑制比将于后面段落进行详述。
[0027]一并参考图1以及图3。图3是依照本揭示一些实施例所绘示的测试方法300的流程图。在一些实施例中，测试方法300是应用于图1中的测试系统100，但本揭示不以此为限。测试方法3本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试方法，包含：藉由一讯号产生器产生一多频讯号；藉由该讯号产生器将该多频讯号传输至一待测装置的一输入端；藉由一频谱分析器分别量测该待测装置的该输入端以及该待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及藉由一控制装置依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。2.一种测试系统，包含：一讯号产生器，用以产生一多频讯号且将该多频讯号传输至一待测装置的一输入端；一频谱分析器，耦接该待测装置且用以分别量测该待测装置的该输入端以及该待测装置的一输出端以得到对应复数频率点的复数输入纹波强度以及复数输出纹波强度；以及一控制装置，耦接该频谱分析器且用以依据该些输入纹波强度以及该些输出纹波强度产生对应该些频率点的复数电源抑制比。3.根据权利要求2所述的测试系统，其中该待测装置为一电源芯片。4.根据权利要求2所述的测试系统，更包含：一切换装置，其中该控制装置更用以控制该切换装置以将该频谱分析器耦接至该输入端或该输出端。5.根据权利要求4所述的测试系统，其中该控制装置用以控制该切换装置以将该频谱分析器耦接至该输入端，且该频谱分析器量测该输入端以得到对应该些频率点的该些输入纹波强度...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭益男，黄铭崇，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：