【技术实现步骤摘要】
Type
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C接口自动AOI外观检测设备
[0001]本申请涉及电子接口外观检测
,尤其是涉及一种Type
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C接口自动AOI外观检测设备。
技术介绍
[0002]Type
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C是近年来在市场上非常流通的一种通用串行总线的硬件接口规范,目前被广泛应用于手机、电脑等电子设备上。Type
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C接头的好坏能够直接影响到电子设备的应用,因此对生产得到的Type
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C接头进行检测是一个至关重要的生产环节。
[0003]目前Type
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C接头的生产通常为批量生产,生产得到的Type
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C接头需要逐个被送到检测设备内进行AOI外观检测,AOI,也被称作光学自动检测,具体的,AOI即为通过光学系统成像实现自动检测的一种手段,优点是统一检测标准并尽可能排出人为因素干扰,在一定程度上保证检测结果的稳定性、可重复性和准确性。
[0004]但是在Type
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C的实际生产中,在使用AOI对Type
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C接头进行外观检测时,Type
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C的所有外表面均需要进行外观检测才能在一定程度上保证检测结果的准确性,因此如何高效地对批量生产得到的Type
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C接口进行全方位的外观检测是目前生产中的一大难题。
技术实现思路
[0005]为了高效地对批量生产得到的Type
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C接口进行全方位的外观检测,本申请提 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Type
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C接口自动AOI外观检测设备,包括工作台(9),所述工作台(9)上设有上料机构(1)和收料机构(5),所述上料机构(1)和所述收料机构(5)之间设有检测机构(4)以及用于搬运Type
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C接口(8)的转运机构(3),其特征在于,所述工作台(9)上还设有放料机构(2),所述放料机构(2)位于所述上料机构(1)与所述转运机构(3)之间;所述检测机构(4)设有若干个,其中一个所述检测机构(4)位于所述放料机构(2)的上方,其中另一个所述检测机构(4)位于所述转运机构(3)的下方,其余所述检测机构(4)位于所述转运机构(3)的周侧。2.根据权利要求1所述的Type
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C接口自动AOI外观检测设备,其特征在于:所述上料机构(1)包括第一上料板(11)、第二上料板(12)和无杆电缸(13),所述无杆电缸(13)设在所述放料机构(2)远离所述转运机构(3)的一侧,所述第一上料板(11)以及所述第二上料板(12)设在所述无杆电缸(13)的滑台上;所述第一上料板(11)上设有第一上料工位(111),所述第二上料板(12)上设有第二上料工位(121),所述无杆电缸(13)的一侧设有用于将Type
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C接口(8)搬运至放料机构(2)的上料组件(14)。3.根据权利要求2所述的Type
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C接口自动AOI外观检测设备,其特征在于:所述上料组件(14)包括上料架(141)、上料电机(142)和连杆(143),所述上料电机(142)设在所述上料架(141)上,所述上料架(141)远离所述上料电机(142)的一侧设有滑轨(144)并开设有弧形槽(1411),所述滑轨(144)上滑动设置有滑块(147),所述连杆(143)滑动设置在所述滑块(147)上;所述连杆(143)的一端滑动设置在所述弧形槽(1411)内,所述连杆(143)的另一端设有上料吸盘(145);所述上料电机(142)的输出端连有连接板(146),所述连接板(146)与所述连杆(143)连接;所述连杆(143)位于所述弧形槽(1411)的一侧时位于所述上料机构(1)的上方,所述连杆(143)位于所述弧形槽(1411)的另一侧时位于所述放料机构(2)的上方。4.根据权利要求1所述的Type
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C接口自动AOI外观检测设备,其特征在于:所述放料机构(2)包括放料架(21)、放料电机(22)和放料盘(23),所述放料架(21)设在所述上料机构(1)靠近所述转运机构(3)的一侧,所述放料盘(23)和所述放料电机(22)均设在所述放料架(21)上,所述放料电机(22)的输出端与所述放料盘(23)连接;所述放料盘(23)上设有放料工位(24),所述放料盘(23)上远离所述上料机构(1)的一侧对称设有用于检测Type
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C接口(8)位置的光电传感器(25),所述光电传感器(25)均位于所述转运机构(3)的下方,所述放料工位(24)位于所述光电传感器(25)之间。5.根据权利要求1所述的Type
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C接口自动AOI外观检测设备,其特征在于:所述转运机构(3)包括底座(31)、主轴(32)和转运盘(33),所述底座(31)设在所述上料机构(1)和所述收料机构(5)之间,所述主轴(32)设在所...
【专利技术属性】
技术研发人员:王平,杨航,陈龙飞,
申请(专利权)人:东台润田精密科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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