【技术实现步骤摘要】
用于沉积的金属掩模
[0001]本申请是申请日为2018年8月24日、国际申请号为PCT/KR2018/009813、专利技术名称为“用于沉积OLED像素的金属材料的沉积掩模及其制造方法”、进入中国国家阶段的申请号为201880070153.X的中国专利申请的分案申请。
[0002]实施方式涉及用于沉积有机发光二极管(OLED)像素的金属材料的沉积掩模及其制造方法。具体地,根据实施方式的沉积掩模用于制造具有500PPI或更高的高分辨率的OLED面板。
技术介绍
[0003]由于需要具有高分辨率和低功耗的显示装置,因此已经开发了各种显示装置,例如,液晶显示装置和电致发光显示装置。
[0004]与液晶显示装置相比,电致发光显示装置由于诸如低发光、低功耗和高分辨率等优异的特性而成为下一代显示装置的焦点。
[0005]电场显示装置中存在有机发光显示装置和无机发光显示装置。也就是说,根据发光层的材料,电场显示装置可以被分类为有机发光显示装置和无机发光显示装置。
[0006]其中,因为有机发光显示装置具有宽的视角、具有快速的响应速度并且需要具有低功耗,所以已经受到了关注。
[0007]构成这样的发光层的有机材料可以通过精细金属掩模方法被形成为具有用于在基板上形成像素的图案。
[0008]在这种情况下,精细金属掩模即用于沉积的掩模可以具有与要在基板上形成的图案对应的通孔,并且形成像素的红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)的图案可以通过在基板上将精细金属掩模对准之后沉积有机材料来形成。< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于沉积的金属掩模,所述金属掩模包括:沉积区域和非沉积区域,其中,所述沉积区域包括有效部分和无效部分,其中,所述有效部分包括多个通孔,其中,所述通孔包括:一个表面上的小表面孔;与所述一个表面相对的另一表面上的大表面孔;以及所述小表面孔的内表面与所述大表面孔的内表面在其中相交的连通部分,其中,在多个大表面孔之间设置有岛状部分,其中,从所述连通部分至所述一个表面的高度为3μm或更小,其中,所述小表面孔在其一个表面上具有沿水平方向的孔径(W1),其中,所述通孔在所述连通部分上具有沿水平方向、垂直方向和对角线方向中的至少一个方向的宽度(W2),其中,所述孔径(W1)比所述通孔的宽度(W2)大,并且其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.01μm至1.1μm,并且其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为70度至89度。2.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.03μm至1.1μm。3.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.05μm至1.1μm。4.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为70度至75度。5.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为70度至85度。6.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为75度至85度。7.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为75度至89度。8.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为85度至89度。9.根据权利要求1所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为3μm至86μm。10.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至6.0μm。11.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至17.0μm。12.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至86μm。13.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为6.0μm至17μm。
14.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为6.0μm至86μm。15.根据权利要求9所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为17μm至86μm。16.根据权利要求1至3中任一项所述的金属掩模,其中,所述通孔在所述连通部分上的沿水平方向、垂直方向和对角线方向中的至少一个方向的宽度(W2)是33μm或更小。17.根据权利要求16所述的金属掩模,其中,所述金属掩模具有500PPI或更高的分辨率,其中,沿水平方向相邻的多个通孔的中心之间的距离(P1)为48μm或更小。18.根据权利要求1至3中任一项所述的金属掩模,其中,所述通孔在所述连通部分上的宽度(W2)被限定为沿水平方向,并且所述通孔的宽度(W2)为20μm或更小,并且其中,所述金属掩模具有800PPI或更高的分辨率,其中,沿水平方向相邻的多个通孔的中心之间的距离(P1)为32μm或更小。19.根据权利要求1至3中任一项所述的金属掩模,其中,所述多个通孔中的每个通孔在所述连通部分上的沿水平方向、垂直方向和对角线方向中的至少一个方向的宽度(W2)的平均偏差为2%至10%。20.根据权利要求19所述的金属掩模,其中,所述多个通孔中的每个通孔的宽度(W2)的平均偏差为
±
3μm。21.一种用于沉积的金属掩模,所述金属掩模包括:沉积区域和非沉积区域,其中,所述沉积区域包括有效部分和无效部分,其中,所述有效部分包括多个通孔,其中,所述通孔包括:一个表面上的小表面孔;与所述一个表面相对的另一表面上的大表面孔;以及所述小表面孔的内表面与所述大表面孔的内表面在其中相交的连通部分,其中,在多个大表面孔之间设置有岛状部分,其中,从所述连通部分至所述一个表面的高度为3μm或更小,其中,所述小表面孔在其一个表面上具有沿水平方向的孔径(W1),其中,所述通孔在所述连通部分上具有沿水平方向、垂直方向和对角线方向中的至少一个方向的宽度(W2),其中,所述孔径(W1)比所述通孔的宽度(W2)大,并且其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.01μm至1.1μm,并且其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为3μm至86μm。22.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至6.0μm。23.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至17.0μm。24.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为4.5μm至86μm。25.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为6.0μm至17μm。
26.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为6.0μm至86μm。27.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述小表面孔的内表面相对于所述一个表面的倾斜曲率半径为17μm至86μm。28.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.03μm至1.1μm。29.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,所述孔径(W1)与所述通孔的宽度(W2)之间的差为0.05μm至1.1μm。30.根据权利要求21所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾斜角度(θ1)为70度至89度。31.根据权利要求30所述的金属掩模,其中,连接所述小表面孔的相对于所述一个表面的一端和所述连通部分的一端的倾...
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