一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，涉及测试设备技术领域，包括安装柜、电源组、测试槽，所述测试槽的内部设置有测试单元。本实用新型专利技术通过设置测试单元，实现安装座对发光器件进行通电点亮测试，电脑内部的软件控制信号采集仪器采集测试硅光二极管的信号，通过分析硅光二极管的信号判断反光器件的寿命情况，与此同时，通过高精度温度控制器使加热片对测试槽内进行升温，使温度传感器检测到指定温度后，加热片对测试槽内维持恒定温度，从而对发光器件进行高温测试，通过以上零件的相互配合使用，实现同步对若干个发光器件进行高温和亮度衰减测试，大大增加测试设备的实用性，降低测试成本，提高测试效率。高测试效率。高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备


[0001]本技术涉及测试设备
，具体是一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备。

技术介绍

[0002]半导体发光二极管是一种重要的光电子器件，它在科学研究和工农业生产中均有非常广泛的应用，发光二极管虽小，但要准确测量它的各项光和辐射参数并非一件易事，中国光学光电子行业协会光电器件专业分会根据国内及行业内部的实际情况，初步制定了行业标准发光二极管测试方法，2002年起在行业内部试行。
[0003]传统的发光器件寿命测试设备只用于发光器件在点亮过程中测试衰减过程，当要用于高温测试寿命时候，只能放置到高温箱里面进行测试寿命，这种测试方法需要一个空间大的高温箱，另外也增加了成本，故而研发一款可以集成高温和亮度寿命一起测试的设备，进而降低测试成本，提高测试效率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于：为了解决测试成本较高，测试效率较低的问题，提供一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，包括安装柜、电源组，所述安装柜的内部一侧安装有若干个测试箱，所述测试箱的内部开设若干个测试槽，所述测试槽的内部设置有测试单元；
[0006]所述测试单元包括测试盒、安装座、加热片、硅光二极管和温度传感器；
[0007]所述测试盒滑动安装于所述测试槽的内部，所述安装座固定安装于所述测试盒的内部底端，所述加热片固定安装于所述测试槽的内壁一端，所述硅光二极管固定安装于所述测试盒的内部底端，并位于所述安装座的一端，所述温度传感器固定安装于所述测试槽的内部。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述测试盒呈“L”型结构，所述测试槽的内壁两端开设有供所述测试盒限位滑动的移动槽，所述测试盒的外壁一端转动安装有把手。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述安装柜的内部一端位于所述测试箱的上方固定安装有信号采集仪器，所述安装柜的内部位于所述信号采集仪器的顶端固定安装有电脑。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述安装柜的内部位于所述信号采集仪器的一侧固定安装有承托箱，所述承托箱的内部滑动安装有移动托板，所述移动托板的顶端放置有键盘及鼠标，所述安装柜的内部位于所述移动托板的上方固定安装有显示屏。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述安装柜的外壁一侧转动安装有两个柜门，两个所述柜门分别通过铰链转动安装于所述安装柜的内壁两端，所述安装柜的底端四角位置均安装有万向轮。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述安装柜的内部设置有控制所述加热片工作的高精度温度控制器。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述电源组有若干个多通道高精密电源构成。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过设置测试单元，实现安装座对发光器件进行通电点亮测试，使硅光二极管将光能转化为电能，电脑内部的软件控制信号采集仪器采集测试硅光二极管的信号，通过分析硅光二极管的信号判断反光器件的寿命情况，与此同时，通过高精度温度控制器使加热片对测试槽内进行升温，使温度传感器检测到指定温度后，加热片对测试槽内维持恒定温度，从而对发光器件进行高温测试，通过以上零件的相互配合使用，实现同步对若干个发光器件进行高温和亮度衰减测试，大大增加测试设备的实用性，降低测试成本，提高测试效率。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构示意图；
[0016]图2为本技术安装柜的剖视结构图；
[0017]图3为本技术测试箱的结构示意图；
[0018]图4为本技术测试箱的剖视结构示意图。
[0019]图中：1、安装柜；2、电源组；3、测试箱；4、测试槽；5、测试单元；501、测试盒；502、安装座；503、加热片；504、硅光二极管；505、温度传感器；6、电脑；7、信号采集仪器；8、显示屏；9、承托箱；10、移动托板；11、柜门；12、键盘。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]请参阅图1～图4，本技术实施例中，一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，包括安装柜1、电源组2，安装柜1的内部一侧安装有若干个测试箱3，测试箱3的内部开设若干个测试槽4，测试槽4的内部设置有测试单元5，电源组2有若干个多通道高精密电源构成，安装柜1的外壁一侧转动安装有两个柜门11，两个柜门11分别通过铰链转动安装于安装柜1的内壁两端，安装柜1的底端四角位置均安装有万向轮；
[0022]测试单元5包括测试盒501、安装座502、加热片503、硅光二极管504和温度传感器505；
[0023]测试盒501滑动安装于测试槽4的内部，安装座502固定安装于测试盒501的内部底端，加热片503固定安装于测试槽4的内壁一端，硅光二极管504固定安装于测试盒501的内部底端，并位于安装座502的一端，温度传感器505固定安装于测试槽4的内部，安装柜1的内部一端位于测试箱3的上方固定安装有信号采集仪器7，安装柜1的内部位于信号采集仪器7的顶端固定安装有电脑6，安装柜1的内部设置有控制加热片503工作的高精度温度控制器。
[0024]在本实施例中：首先，测试盒501移动滑出测试槽4，将需要测试的发光器件安装在安装座502内，然后将测试盒501带动发光器件移动至测试槽4内，同理，依次将若干个发光
器件进行安装，通过电源组2可为加热片503、安装座502进行供电，通过控制导通安装座502的电源可使发光器件进行通电点亮测试，通过硅光二极管504将光能转化为电能，电脑6内部的软件控制信号采集仪器7采集测试硅光二极管504的信号，通过分析硅光二极管504的信号判断反光器件的寿命情况，与此同时，通过高精度温度控制器使加热片503对测试槽4内进行升温，使温度传感器505检测到指定温度后，加热片503对测试槽4内维持恒定温度，从而对发光器件进行高温测试，通过以上零件的相互配合使用，实现同步对若干个发光器件进行高温和亮度衰减测试，大大增加测试设备的实用性，降低测试成本，提高测试效率。
[0025]请着重参阅图3、图4，测试盒501呈“L”型结构，测试槽4的内壁两端开设有供测试盒501限位滑动的移动槽，测试盒501的外壁一端转动安装有把手。
[0026]在本实施例中：通过拉动把手，使把手带动测试盒501进行移动，使测试盒501移出测试槽4内，然后可将发光器件安装于安装座502上，再将测试盒501沿移动槽滑入测试槽4内对发光器件进行测试。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，包括安装柜(1)、电源组(2)，其特征在于，所述安装柜(1)的内部一侧安装有若干个测试箱(3)，所述测试箱(3)的内部开设若干个测试槽(4)，所述测试槽(4)的内部设置有测试单元(5)；所述测试单元(5)包括测试盒(501)、安装座(502)、加热片(503)、硅光二极管(504)和温度传感器(505)；所述测试盒(501)滑动安装于所述测试槽(4)的内部，所述安装座(502)固定安装于所述测试盒(501)的内部底端，所述加热片(503)固定安装于所述测试槽(4)的内壁一端，所述硅光二极管(504)固定安装于所述测试盒(501)的内部底端，并位于所述安装座(502)的一端，所述温度传感器(505)固定安装于所述测试槽(4)的内部。2.根据权利要求1所述的一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，其特征在于，所述测试盒(501)呈“L”型结构，所述测试槽(4)的内壁两端开设有供所述测试盒(501)限位滑动的移动槽，所述测试盒(501)的外壁一端转动安装有把手。3.根据权利要求1所述的一种集成高温和亮度寿命测试的发光器件寿命测试设备，其特征在于，所述安装柜(1)的内部...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁丙生，刘镇岭，王剑斌，赖芸光，廖燕锋，
申请(专利权)人：广州晶合设备有限公司，
类型：新型
国别省市：