一种清洗、检测及分拣下料系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种清洗、检测及分拣下料系统及方法，属于高端智能装备领域，系统包括上料站、下清洗站、上清洗站、瑕疵检测站和分选下料站；本申请对料盘内产品的双面进行全自动清洗、检测和分选下料，清洗模拟人工按照擦拭轨迹清洁，检测集成双面及划痕检测并赋予产品的编码以瑕疵信息，分选引入补料方式实现循环，系统稳定可靠且成本低，适合连续生产要求，搭配AOI智能检测及图形处理技术，可在3C结构件玻璃、PCB、FPD、半导体产品等领域推广应用。半导体产品等领域推广应用。半导体产品等领域推广应用。

【技术实现步骤摘要】
一种清洗、检测及分拣下料系统及方法


[0001]本专利技术属于高端智能装备领域，涉及镜头玻璃的智能筛选技术，具体公开了一种清洗、检测及分拣下料系统及方法。

技术介绍

[0002]玻璃产品通常极易粘尘或者在加工过程中沾到油污，指纹印，洗涤剂等脏污。这些脏污粘附在玻璃表面非常明显，一方面会严重干扰到AOI对于划伤，崩边，镜片模糊等异常问题的检测，另一方面这些脏污同样会影响到后道生产和产品质量。脏污等甚至能够占到整体比例的60％左右，实际真正的划伤等不良仅占5％不到。
[0003]以光学玻璃AOI检测为例，如在料盘中待测的手机镜头为例，参见图1(手机镜头玻璃盖)和图2(盛有手机镜头的料盘)，目前AOI设备检测出的产品中，如果不做清洁，一次通过率仅40％。污染物导致的不良占到55％左右，瑕疵造成的不良实际统计在5％以内。具体的，以镀氟化镁膜蓝宝石玻璃为例，玻璃加工过程中的灰尘或者其他杂质经常粘附于玻璃表面，只要有一点灰尘即非常明显，严重影响AOI检测。这些脏污或灰尘分为有机物杂质或无机物杂质，有机物主要包括指纹印记，油墨，油剂，含杂质的有机溶剂，衣物细绒线，毛发等，无机物包括玻璃碎屑，粉尘等。
[0004]此外，光学检测AOI常采用单站检测获得，综合检测效果不佳，需要设计整体综合上表面、下表面和划痕的检测站。而对于检测后的产品，需要根据检测结果进行分类NG与OK产品分别下料。
[0005]因此，需要设计一种集成清洗、检测和分拣下料的系统，实现料盘内产品的自动高效分选。

技术实现思路

[0006]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种清洗、检测及分拣下料系统及方法。
[0007]一种清洗、检测及分拣下料系统，系统包括上料站、下清洗站、上清洗站、瑕疵检测站和分选下料站；其中，下清洗站采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗，且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面；其中，上清洗站采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整面擦拭，并采用粘尘胶带对产品上表面进行粘尘清洁；其中，所述瑕疵检测站采用下表面图像采集、上表面图像采集及划痕图像采集的综合检测方式；其中，所述分选下料站采用NG拾取模组和OK拾取模组对料盘内的产品按类拾取分选下料。
[0008]进一步的，在所述上料站、下清洗站之间设置一个扫码站，对料盘上的产品识别并编码。
[0009]进一步的，所述下清洗站和/或上清洗站还设置有激光除尘组件，通过激光对产品表面复合清洁。
[0010]进一步的，所述瑕疵检测站包括设置在于检测机架上的输送皮带模组、上表面检测模组、划痕检测模组、划痕上料模组、下表面检测模组、下表面上料模组和图像处理器；图形处理器与各检测模组电讯连接并整合所有检测模组采集的图像判断产品瑕疵情况，并对产品赋予瑕疵情况的编码信息。
[0011]进一步的，所述分选下料站包括设置于分选下料机架上的主输送皮带模组、NG辅助分拣皮带模组、OK补料皮带模组、下料空盘搬运模组、NG取料模组、第一上检相机模组、第一下检相机模组、OK补料模组、第二上检相机模组、第二下检相机模组、OK补料盘仓、NG满盘仓、空料盘和OK满盘仓；分选下料站通过相机模组对上游检测过的料盘进行NG产品和OK产品的信息识别，并通过OK补料、NG取料实现产品分拣下料。
[0012]本专利技术还提供了一种对产品进行清洗、检测及分拣下料方法，方法包括：
[0013]S1、上料，通过上料站将未清洗料盘单片流线输送。
[0014]S2、下表面清洗，在下清洗站对承载在料盘内的产品下表面进行三轴顶压横移模拟人工自动擦洗。
[0015]S3、上表面清洗，在上清洗站对承载在料盘内的产品上表面进行湿式清洗和粘尘处理。
[0016]S4、瑕疵检测，清洗结束的产品料盘流转至瑕疵检测站，对产品下表面、上表面和划痕进行光学检测，通过图像处理器分析并记录对应产品的瑕疵信息。
[0017]S5、分选下料，瑕疵检测完的产品料盘流转至分选下料站，根据记录的瑕疵信息进行NG分拣、OK补料实现NG料和OK料的分拣下料。
[0018]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：本申请对料盘内产品的双面进行全自动清洗、检测和分选下料，清洗模拟人工按照擦拭轨迹清洁，检测集成双面及划痕检测并赋予产品的编码以瑕疵信息，分选引入补料方式实现循环，系统稳定可靠且成本低，适合连续生产要求，搭配AOI智能检测及图形处理技术，可在3C结构件玻璃、PCB、FPD、半导体产品等领域推广应用。
附图说明
[0019]图1为镜头玻璃图；
[0020]图2为载有手机镜头的料盘图；
[0021]图3为清洗、检测及分拣下料系统结构示意图；
[0022]图4为瑕疵检测站示意图；
[0023]图5和图6为分选下料站的一个示例的示意图；
[0024]图7和图8为分选下料站另一示例的示意图；
[0025]图9为清洗、检测及分拣下料方法的流程图。
[0026]图中，
[0027]1000、上料站；
[0028]2000、下清洗站；
[0029]3000、上清洗站；
[0030]4000、瑕疵检测站；4100、输送皮带模组；4200、上表面检测模组；4300、划痕检测模组；4400、划痕上料模组；4500、下表面检测模组；4600、下表面上料模组；4700、检测机架；
[0031]5000、分选下料站；5010、主输送皮带模组；5020、NG辅助分拣皮带模组；5030、OK补料皮带模组；5040、下料空盘搬运模组；5050、NG取料模组；
[0032]5051、第一上检相机模组；5060、第一下检相机模组；5070、OK补料模组；
[0033]5071、第二上检相机模组；5080、第二下检相机模组；5090、OK补料盘仓；
[0034]5100、NG满盘仓；5110、空料盘；5120、OK满盘仓；5130、下料机架；
[0035]6000、扫码站。
具体实施方式
[0036]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]清洗、检测及分拣下料系统
[0038]一种清洗、检测及分拣下料系统，参见图1
‑
图8，系统包括上料站1000、下清洗站2000、上清洗站3000、瑕疵检测站4000和分选下料站5000。
[0039]系统布置：下清洗站2000采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗，且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面。上清洗站3000采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种清洗、检测及分拣下料系统，其特征在于：系统包括上料站(1000)、下清洗站(2000)、上清洗站(3000)、瑕疵检测站(4000)和分选下料站(5000)；其中，下清洗站(2000)采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质模拟人工对产品下表面擦洗，且擦洗路径为Z字形从一侧至另一侧逐渐覆盖产品表面；其中，上清洗站(3000)采用无尘布结合清洁剂作为擦洗介质对产品上表面整面擦拭，并采用粘尘胶带对产品上表面进行粘尘清洁；其中，所述瑕疵检测站(4000)采用下表面图像采集、上表面图像采集及划痕图像采集的综合检测方式；其中，所述分选下料站(5000)采用NG拾取模组和OK拾取模组对料盘内的产品按类拾取分选下料。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：在所述上料站(1000)、下清洗站(2000)之间设置一个扫码站(6000)，对料盘上的产品识别并编码。3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：所述下清洗站(2000)和/或上清洗站(3000)还设置有激光除尘组件，通过激光对产品表面复合清洁。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：所述瑕疵检测站(4000)包括设置在于检测机架(4700)上的输送皮带模组(4100)、上表面检测模组(4200)、划痕检测模组(4300)、划痕上料模组(4400)、下表面检测模组(4500)、下表面上料模组(4600)和图像处理器；所述上表面检测模组(4200)直接对输送皮带模组(4100)的来料进行上表面图像采集；所述划痕上料模组(4400)用于将输送皮带模组(4100)的产品移送至划痕检测模组(4300)所在的划痕工位进行划痕图像采集；所述下表面上料模组(4600)用于将输送皮带模组(4100)的产品移送至下表面检测模组(4500)所在的下表面工位进行下表面图像采集；图形处理器与各检测模组电讯连接并整合所有模组采集的图像判断产品瑕疵情况，并对产品赋予瑕疵情况的编码信息。5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于：所述分选下料站(5000)包括设置于分选下料机架(5130)上的主输送皮带模组(5010)、NG辅助分拣皮带模组(5020)、OK补料皮带模组(5030)、下料空盘搬运模组(5040)、NG取料模组(5050)、第一上检相机模组(5051)、第一下检相机模组(5060)、OK补料模组(5070)、第二上检相机模组(5071)、第二下检相机模组(5080)、OK补料盘仓(5090)、NG满盘仓(5100)、空料盘(5110)和OK满盘仓(5120)；分选下料站(5000)通过相机模组对上游检测过的料盘进行NG产品和OK产品的信息识别，并通过OK补料、NG取料实现产品分拣下料。6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于：所述分选下料站(5000)包括并排设置的两个分拣站；其中，第一分拣站不设置OK满盘仓(5120)，用于对料盘的一三排产品进行NG分拣下料及OK补料；第二分拣站在主输送皮带模组(5010)末端...

【专利技术属性】
技术研发人员：周加龙，巩旭辉，纪亚楠，贾帅帅，吕高选，郭杰，曹迪，曹葵康，周明，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：