一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置，涉及电子设计自动化领域，能够提高芯片验证效率。所述芯片验证方法包括：在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块；根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例。中选择出待验证用例。中选择出待验证用例。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置


[0001]本专利技术涉及电子设计自动化领域，尤其涉及一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置。

技术介绍

[0002]在集成电路
，芯片在交付代工厂制造之前，通常要经过一系列的验证，以保证制造出的芯片能够满足设计要求。随着集成电路技术得快速发展，芯片得设计方案变得越来越复杂，相应的对芯片验证方案得要求也越来越高。
[0003]对于一个SOC(System
‑
on
‑
Chip，片上系统)验证系统，由于系统庞大，需要对系统中各个子系统分别进行验证。其中，在不同子系统中存在某些更小的IP(IntellectualProperty，知识产权)模块多次被实例化和被调用。这种可以被复用的IP模块被多次实例化时的端口连接，端口数目，以及有效的功能逻辑不完全相同，即相对于原始的IP模块，实例化的模块并不一定会用到IP模块的全部功能。因此，每个IP实例就需要不同的用例去验证，而这些用例的约束条件也不尽相同。这就需要将IP实例模块与具体在子系统和soc系统中的应用相结合进行待验证特性的管理，例如，对于某种应用下的IP实例模块，验证人员需要针对应用场景进行分析，进而确定验证用例，并且需要修改用例约束去满足IP实例的具体应用，从而大大增加验证人员的工作量，降低了验证效率。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种芯片验证方法、测试用例生成方法及装置、电子设备、计算机可读存储介质，能够有效提高芯片验证效率。
>[0005]第一方面，本专利技术的实施例提供一种芯片验证方法，包括：在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块；根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例，所述待验证用例用于在所述预设验证环境下，对所述目标电路模块进行验证。
[0006]可选的，所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值之前，所述方法还包括：将所述目标IP模块在例化中的可变因素，转化为对应的实例化参数，其中，所述可变因素包括以下至少一项：端口类型、端口协议、端口名称、内部逻辑；根据所述目标IP模块的各实例化模块在各自应用场景下的待验证特性，为所述各实例化模块的实例化参数配置对应的参数值；所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值包括：根据所述目标电路模块的标识信息，从所述各实例化模块中查找所述标识信息对应的第一实例化模块，将所述第一实例化模块的实例化参数的参数值作为所述目标电路模块的实例化参数的参数值。
[0007]可选的，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之前，所述方法还包括：建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系，以根据所述实例化参数的参数值和所述对应关系，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述待验证用例。
[0008]可选的，所述建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系包括：根据预设策略，将所述目标IP模块的测试用例分为至少两个测试用例组；建立所述实例化参数的参数值与各所述测试用例组之间的对应关系。
[0009]可选的，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：根据所述待验证用例的类，派生出对应的新类；在所述新类中，添加所述待验证用例与所述目标电路模块的隶属关系，得到所述目标电路模块的专属用例，以通过所述专属用例验证所述目标电路模块。
[0010]可选的，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：使用所述待验证用例执行所述验证指令对应的验证操作，其中，所述验证指令包括以下至少一种：对所述目标电路模块的验证指令，对所述目标电路模块所在的子系统的验证指令，或对所述目标电路模块所在的系统的验证指令。
[0011]可选的，所述使用所述待验证用例执行所述验证指令对应的验证操作之后，所述方法还包括：根据所述实例化参数的参数值，为所述目标电路模块生成收集代码覆盖率所需的第一文件。
[0012]可选的，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例包括：根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择一个所述待验证用例，选择多个所述待验证用例，或选择所有可用的所述待验证用例。
[0013]可选的，所述验证操作涉及至少两个所述目标电路模块，各所述目标电路模块的实例化参数的参数值不完全相同；所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：在所述预设验证环境中，使用各所述目标电路模块对应的待验证用例，并行对各所述目标电路模块进行验证。
[0014]可选的，所述方法还包括：根据更新指令，更新所述目标IP模块的测试用例，以在执行所述验证指令时，选择所述目标IP模块更新后的所述测试用例。
[0015]可选的，所述目标IP模块对应多个所述目标电路模块，各所述目标电路模块位于同一个片上系统或不同的片上系统。
[0016]第二方面，本专利技术的实施例还提供一种测试用例的生成方法，包括：根据目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，其中，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例。
[0017]可选的，所述根据目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值之前，所述方法还包括：将所述目标IP模块在例化中的可变因素，转化为对应的实例化参数，其中，所述可变因素包括以下至少一项：端口类型、端口协议、端口名称、内部逻辑；根据所述目标IP模块的各实例化模块在各自应用场景下的待验证特性，为所述各实例化模块的实例化参数配置对应的参数值；所述根据目标电路模块的标识信息，确定所述
目标电路模块的实例化参数的参数值包括：根据所述目标电路模块的标识信息，从所述各实例化模块中查找所述标识信息对应的第一实例化模块，将所述第一实例化模块的实例化参数的参数值作为所述目标电路模块的实例化参数的参数值。
[0018]可选的，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例之前，所述方法还包括：建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，包括：在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块；根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例，所述待验证用例用于在所述预设验证环境下，对所述目标电路模块进行验证。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值之前，所述方法还包括：将所述目标IP模块在例化中的可变因素，转化为对应的实例化参数，其中，所述可变因素包括以下至少一项：端口类型、端口协议、端口名称、内部逻辑；根据所述目标IP模块的各实例化模块在各自应用场景下的待验证特性，为所述各实例化模块的实例化参数配置对应的参数值；所述根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值包括：根据所述目标电路模块的标识信息，从所述各实例化模块中查找所述标识信息对应的第一实例化模块，将所述第一实例化模块的实例化参数的参数值作为所述目标电路模块的实例化参数的参数值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之前，所述方法还包括：建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系，以根据所述实例化参数的参数值和所述对应关系，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述待验证用例。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系包括：根据预设策略，将所述目标IP模块的测试用例分为至少两个测试用例组；建立所述实例化参数的参数值与各所述测试用例组之间的对应关系。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：根据所述待验证用例的类，派生出对应的新类；在所述新类中，添加所述待验证用例与所述目标电路模块的隶属关系，得到所述目标电路模块的专属用例，以通过所述专属用例验证所述目标电路模块。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：使用所述待验证用例执行所述验证指令对应的验证操作，其中，所述验证指令包括以下至少一种：对所述目标电路模块的验证指令，对所述目标电路模块所在的子系统的验证指令，或对所述目标电路模块所在的系统的验证指令。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述使用所述待验证用例执行所述验证指令对应的验证操作之后，所述方法还包括：
根据所述实例化参数的参数值，为所述目标电路模块生成收集代码覆盖率所需的第一文件。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例包括：根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择一个所述待验证用例，选择多个所述待验证用例，或选择所有可用的所述待验证用例。9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述验证操作涉及至少两个所述目标电路模块，各所述目标电路模块的实例化参数的参数值不完全相同；所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出待验证用例之后，所述方法还包括：在所述预设验证环境中，使用各所述目标电路模块对应的待验证用例，并行对各所述目标电路模块进行验证。10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据更新指令，更新所述目标IP模块的测试用例，以在执行所述验证指令时，选择所述目标IP模块更新后的所述测试用例。11.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，所述目标IP模块对应多个所述目标电路模块，各所述目标电路模块位于同一个片上系统或不同的片上系统。12.一种测试用例的生成方法，其特征在于，包括：根据目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，其中，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块，所述实例化参数用于定义所述目标电路模块与所述目标IP模块的关联关系；根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例。13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值之前，所述方法还包括：将所述目标IP模块在例化中的可变因素，转化为对应的实例化参数，其中，所述可变因素包括以下至少一项：端口类型、端口协议、端口名称、内部逻辑；根据所述目标IP模块的各实例化模块在各自应用场景下的待验证特性，为所述各实例化模块的实例化参数配置对应的参数值；所述根据目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值包括：根据所述目标电路模块的标识信息，从所述各实例化模块中查找所述标识信息对应的第一实例化模块，将所述第一实例化模块的实例化参数的参数值作为所述目标电路模块的实例化参数的参数值。14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例之前，所述方法还包括：建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系，以根据所述实例化参数的参数值和所述对应关系，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目
标电路模块的测试用例。15.根据权利要求14所述的方法，其特征在于，所述建立所述实例化参数的参数值与所述目标IP模块的测试用例之间的对应关系包括：根据预设策略，将所述目标IP模块的测试用例分为至少两个测试用例组；建立所述实例化参数的参数值与各所述测试用例组之间的对应关系。16.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例之后，所述方法还包括：根据所述目标电路模块的测试用例的类，派生出对应的新类；在所述新类中，添加所述目标电路模块的测试用例与所述目标电路模块的隶属关系，得到所述目标电路模块的专属用例。17.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择出所述目标电路模块的测试用例包括：根据所述实例化参数的参数值，从所述目标IP模块的测试用例中选择所述目标电路模块的一个所述测试用例，选择所述目标电路模块的多个测试用例，或选择所述目标电路模块的所有可用的测试用例。18.根据权利要求12至17中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：根据更新指令，更新所述目标IP模块的测试用例，以从所述目标IP模块更新后的测试用例中为所述目标电路模块选择测试用例。19.根据权利要求12至17中任一项所述的方法，其特征在于，所述目标IP模块对应多个所述目标电路模块，各所述目标电路模块位于同一个片上系统或不同的片上系统。20.一种芯片验证装置，其特征在于，包括：接收单元，用于在预设验证环境下接收验证指令，并根据所述验证指令确定验证操作所涉及的目标电路模块，所述目标电路模块为目标IP模块的实例化模块或与所述目标IP模块的相似度大于预设阈值的实例化模块；确定单元，用于根据所述目标电路模块的标识信息，确定所述目标电路模块的实例化参数的参数值，所述实例化参数用于定义所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙玉磊，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：