一种用于电子元器件针脚检测的光源模组制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于电子元器件针脚检测的光源模组，其包括所述光源模组包括主光源装置及补光光源装置，所述主光源装置包括箱体、主光源组件及镜片组件，所述补光光源装置包括支座及两补光光源组件，所述补光光源组件均设有聚光通道结构。本实用新型专利技术通过设置聚光结构用于提供反射光束的聚光作用，提高后续图像反射光束的采集精度及质量，通过设置均光结构用于使得主光源组件发出的光束进行均匀处理，提高分光镜照射到检测物体上的光束的均匀性及覆盖率，提高后续的图像采集效果及检测效果；通过设置聚光通道结构用于提高补光光源的补光照射效果，保证补光光束的照射方向，使得补光光源的光束照射到待检测物体上，提高后续的图像采集的效果。续的图像采集的效果。续的图像采集的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子元器件针脚检测的光源模组


[0001]本技术涉及电子元器件的检测的
，具体涉及一种用于电子元器件针脚检测的光源模组。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，越来越多的制造业开始使用自动化设备进行产品的加工生产，其中插件机是把编带电子元器件按照程序自动安装在PCB板上的机器。在插件机进行插件的过程中，需要先定位电子元件针脚的顶端部分及其外观进行检测，然后再将电子元件的针脚插进PCB板中。由于针脚的尺寸较小，为提高图像的采集精度及效率，需要进行光源的补充，提高照明效率，从而提高后续的采集效果，传统光源的灯珠发散角太大，其照射的光线太多，均匀性较差，导致发出的同轴光束较为发散，影响后续的照射效果及范围，导致后续的出现部分位置不清晰的情况出现，影响后续的检查精度；且现有的光源模组均设有同轴光补光组件，其补光存在着补光光束发散的情况，导致补光照射效果差，影响后续的图像采集效果，且现有的反射光束均采用平面镜，平面镜无聚光效果，导致分光镜反射光束发散，影响后续的图像采集精度及效果。

技术实现思路

[0003]本项技术是针对现在的技术不足，提供一种用于电子元器件针脚检测的光源模组。
[0004]本技术为实现上述目的所采用的技术方案是：
[0005]一种用于电子元器件针脚检测的光源模组包括主光源装置及补光光源装置，所述补光光源装置设置在所述主光源装置的下方，所述主光源装置与补光光源装置之间设有可拆卸连接结构；
[0006]所述主光源装置包括箱体、主光源组件及镜片组件，所述补光光源装置包括支座及两补光光源组件，两所述补光光源组件以镜像相对的方式设置在所述支座的底部两端，所述补光光源组件均设有聚光通道结构。
[0007]作进一步改进，所述箱体包括顶板、两侧板及两侧板一，两所述侧板以镜像相对的方式设置在所述顶板的左右两端，两所述侧板一以镜像相对的方式设置在顶板的前后两端，两所述侧板一的内侧面均设有定位斜槽及定位竖槽，所述镜片组件设置在所述箱体内。
[0008]作进一步改进，所述顶板设有通口一，所述支座设有通口二，所述通口一设有凹槽一，所述通口二设有凹槽二，所述镜片组件包括透镜、透镜一、透镜二及分光镜，所述透镜设置在所述凹槽一内，所述透镜一设置在所述凹槽二内，所述透镜二设置在两所述定位竖槽之间，所述分光镜设置在两定位斜槽之间，所述透镜二与左侧的侧板之间设有空腔，所述主光源组件设置在所述空腔内。
[0009]作进一步改进，所述透镜的底部设有聚光结构，所述透镜二设有均光结构，所述聚光结构及均光结构均为菲涅尔结构，所述聚光结构朝向通口一的方向，所述均光结构朝向
分光镜的方向，所述透镜的上表面设有防刮膜。
[0010]作进一步改进，所述主光源组件包括电路板及多个灯珠，多个所述灯珠设置在所述电路板上，所述电路板还设有导线，所述导线由所述侧板穿出，所述导线设有插头。
[0011]作进一步改进，所述可拆卸连接结构包括多个螺纹孔及多个沉头孔，所述支座设有两连接板，多个所述螺纹孔两两一对分别设置在所述侧板一的外侧面上，多个所述沉头孔两两一对分别设置在所述连接板上，所述沉头孔均设有固定螺钉，所述固定螺钉与所述螺纹孔连接。
[0012]作进一步改进，两所述补光光源组件之间设有物体设置通道，两所述补光光源组件均包括箱体一及补光光源，所述箱体一设有空腔一，所述补光光源设置在所述空腔一内，所述箱体一均设有出光板，所述聚光通道结构设置在出光板上。
[0013]作进一步改进，所述聚光通道结构包括出光通道及聚光结构，所述出光通道设有进光口及出光口，所述聚光结构包括两聚光斜面，两所述聚光斜面以镜像相对的方式设置在所述进光口的上下两端。
[0014]作进一步改进，所述出光通道内还设有聚光板，所述聚光板设有聚光凸起，所述聚光凸起朝向出光通道的出光口处。
[0015]本技术的有益效果：本技术通过设置定位斜槽及定位竖槽2031便于镜片组件的快速定位安装，保证镜片组件的位置，提高安装效率及保证光束的照射效果；通过设置聚光结构用于提供反射光束的聚光作用，从而提高后续图像反射光束的采集精度及质量，提高后续的检测质量，通过设置均光结构用于使得主光源组件发出的光束进行均匀处理，提高分光镜照射到检测物体上的光束的均匀性及覆盖率，从而提高后续的图像采集效果及检测效果；通过设置聚光通道结构用于提高补光光源的补光照射效果，保证补光光束的照射方向，使得补光光源的光束照射到待检测物体上，提高后续的图像采集的效果。
[0016]下面结合附图与具体实施方式，对本技术进一步说明。
附图说明
[0017]图1为本实施例的用于电子元器件针脚检测的光源模组整体结构示意图；
[0018]图2为本实施例的用于电子元器件针脚检测的光源模组俯视示意图；
[0019]图3为图2的剖视示意图；
[0020]图4为图3中A的放大示意图；
[0021]图5为图2中B的放大示意图；
[0022]图6为本实施例的用于电子元器件针脚检测的光源模组分解示意图。
具体实施方式
[0023]以下所述仅为本技术的较佳实施例，并不因此而限定本专利技术的保护范围。
[0024]实施例，参见附图1~图6，一种用于电子元器件针脚检测的光源模组1包括主光源装置2及补光光源装置3，所述补光光源装置3设置在所述主光源装置2的下方，所述主光源装置2与补光光源装置3之间设有可拆卸连接结构4；
[0025]所述主光源装置2包括箱体20、主光源组件21及镜片组件22，所述补光光源装置3包括支座30及两补光光源组件31，两所述补光光源组件31以镜像相对的方式设置在所述支
座30的底部两端，所述补光光源组件31均设有聚光通道结构32。
[0026]所述箱体20包括顶板200、两侧板202及两侧板一203，两所述侧板202以镜像相对的方式设置在所述顶板201的左右两端，两所述侧板一203以镜像相对的方式设置在顶板201的前后两端，两所述侧板一203的内侧面均设有定位斜槽2030及定位竖槽2031，所述镜片组件22设置在所述箱体20内，所述定位斜槽2030及定位竖槽2031便于镜片组件22的快速定位安装，保证镜片组件22的位置。
[0027]所述顶板200设有通口一，所述支座30设有通口二，所述通口一设有凹槽一，所述通口二设有凹槽二，所述镜片组件22包括透镜220、透镜一221、透镜二222及分光镜223，所述透镜220设置在所述凹槽一内，所述透镜一221设置在所述凹槽二内，所述透镜二222设置在两所述定位竖槽2031之间，所述分光镜223设置在两定位斜槽2030之间，所述透镜二222与左侧的侧板202之间设有空腔，所述主光源组件21设置在所述空腔内，所述通口一的上方用于摄像头的设置及图像的采集。
[0028]所述透镜220的底部设有聚光结构2200，所述透镜二222设有均光结构2220，所述聚光结构2200及均光结构222本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电子元器件针脚检测的光源模组，其特征在于：所述光源模组包括主光源装置及补光光源装置，所述补光光源装置设置在所述主光源装置的下方，所述主光源装置与补光光源装置之间设有可拆卸连接结构；所述主光源装置包括箱体、主光源组件及镜片组件，所述补光光源装置包括支座及两补光光源组件，两所述补光光源组件以镜像相对的方式设置在所述支座的底部两端，所述补光光源组件均设有聚光通道结构。2.根据权利要求1所述的用于电子元器件针脚检测的光源模组，其特征在于：所述箱体包括顶板、两侧板及两侧板一，两所述侧板以镜像相对的方式设置在所述顶板的左右两端，两所述侧板一以镜像相对的方式设置在顶板的前后两端，两所述侧板一的内侧面均设有定位斜槽及定位竖槽，所述镜片组件设置在所述箱体内。3.根据权利要求2所述的用于电子元器件针脚检测的光源模组，其特征在于：所述顶板设有通口一，所述支座设有通口二，所述通口一设有凹槽一，所述通口二设有凹槽二，所述镜片组件包括透镜、透镜一、透镜二及分光镜，所述透镜设置在所述凹槽一内，所述透镜一设置在所述凹槽二内，所述透镜二设置在两所述定位竖槽之间，所述分光镜设置在两定位斜槽之间，所述透镜二与左侧的侧板之间设有空腔，所述主光源组件设置在所述空腔内。4.根据权利要求3所述的用于电子元器件针脚检测的光源模组，其特征在于：所述透镜的底部设有聚光结构，所述透镜二设有均光结构，所述聚光结构及均光结构均为菲涅尔结构，所述聚光结构朝向...

【专利技术属性】
技术研发人员：王凌乐，
申请(专利权)人：东莞市菲视特光学科技有限公司，
类型：新型
国别省市：