本申请提供一种印板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测印板的监控图像；根据监控图像表征的图像特征，判断监控图像是否包括缺陷特征；当监控图像包括缺陷特征时，对监控图像进行缺陷特征提取，以得到监控图像的缺陷特征矩阵；根据监控图像的缺陷特征矩阵，确定待测印板的缺陷检测结果。上述方案提供的方法，通过采用图像处理技术自动识别印板缺陷，提高了印板缺陷检测效率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
一种印板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
[0001]本申请涉及自动化
，尤其涉及一种印板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
[0002]印板是在实验过程中盛放液体的试验容器，印板在工业生产过程中会产生表面缺陷，因此需要对其缺陷进行检测，以保证产品的品质和功能。
[0003]在现有技术中，通常是依靠人工目视检测辨认方法，对印板产品进行缺陷检测，检测效率较低。
技术实现思路
[0004]本申请提供一种印板缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术检测效率较低等缺陷。
[0005]本申请第一个方面提供一种印板缺陷检测方法，包括：
[0006]获取待测印板的监控图像；
[0007]根据所述监控图像表征的图像特征，判断所述监控图像是否包括缺陷特征；
[0008]当所述监控图像包括缺陷特征时，对所述监控图像进行缺陷特征提取，以得到所述监控图像的缺陷特征矩阵；
[0009]根据所述监控图像的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板的缺陷检测结果。
[0010]可选的，所述根据所述监控图像表征的图像特征，判断所述监控图像是否包括缺陷特征，包括：
[0011]对所述监控图像进行图像预处理，得到预处理后的监控图像；
[0012]在所述预处理后的监控图像中提取图像特征；
[0013]根据所述图像特征的提取结果，判断所述监控图像是否包括缺陷特征。
[0014]可选的，所述当所述监控图像包括缺陷特征时，对所述监控图像进行缺陷特征提取，以得到所述监控图像的缺陷特征矩阵，包括：
[0015]当所述监控图像包括缺陷特征时，在所述监控图像中截取缺陷检测区域；
[0016]针对任一缺陷检测区域，依次提取该缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；其中，所述缺陷特征包括所述缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；
[0017]根据所述纹理特征、几何特征和Hu不变矩的提取结果，构建该缺陷检测区域的缺陷特征矩阵。
[0018]可选的，所述根据所述监控图像的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板的缺陷检测结果，包括：
[0019]根据所述监控图像中各所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板存在的各个缺陷的缺陷类型；
[0020]其中，所述缺陷检测区域和所述待测印板存在的缺陷相对应，所述缺陷检测结果
至少包括各个缺陷的缺陷类型，所述缺陷类型至少分为点缺陷、污缺陷和划痕缺陷三种。
[0021]可选的，所述根据所述监控图像中各所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板存在的各个缺陷的缺陷类型，包括：
[0022]针对任一所述缺陷，将该缺陷所对应的缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，输入到一级SVM分类器，以确定所述缺陷的一级分类结果；
[0023]根据所述一级分类结果，确定目标二级分类器；
[0024]将所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，输入到所述目标二级SVM分类器，得到所述缺陷的二级分类结果；
[0025]根据所述二级分类结果，确定所述缺陷的缺陷类型。
[0026]可选的，所述一级SVM分类器为点痕缺陷分类器，所述根据所述一级分类结果，确定目标二级分类器，包括：
[0027]当所述一级分类结果表征所述该缺陷为点缺陷时，将点污缺陷分类器确定为目标二级分类器；
[0028]当所述一级分类结果表征所述该缺陷为划痕缺陷时，将痕污缺陷分类器确定为目标二级分类器。
[0029]可选的，当所述目标二级分类器为点污缺陷分类器时，所述二级分类结果为点缺陷或污缺陷；
[0030]当所述目标二级分类器为痕污缺陷分类器时，所述二级分类结果为划痕缺陷或污缺陷。
[0031]本申请第二个方面提供一种印板缺陷检测装置，包括：
[0032]获取模块，用于获取待测印板的监控图像；
[0033]判断模块，用于根据所述监控图像表征的图像特征，判断所述监控图像是否包括缺陷特征；
[0034]特征提取模块，用于当所述监控图像包括缺陷特征时，对所述监控图像进行缺陷特征提取，以得到所述监控图像的缺陷特征矩阵；
[0035]检测模块，用于根据所述监控图像的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板的缺陷检测结果。
[0036]可选的，所述判断模块，具体用于：
[0037]对所述监控图像进行图像预处理，得到预处理后的监控图像；
[0038]在所述预处理后的监控图像中提取图像特征；
[0039]根据所述图像特征的提取结果，判断所述监控图像是否包括缺陷特征。
[0040]可选的，所述特征提取模块，具体用于：
[0041]当所述监控图像包括缺陷特征时，在所述监控图像中截取缺陷检测区域；
[0042]针对任一缺陷检测区域，依次提取该缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；其中，所述缺陷特征包括所述缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；
[0043]根据所述纹理特征、几何特征和Hu不变矩的提取结果，构建该缺陷检测区域的缺陷特征矩阵。
[0044]可选的，所述检测模块，具体用于：
[0045]根据所述监控图像中各所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板存
在的各个缺陷的缺陷类型；
[0046]其中，所述缺陷检测区域和所述待测印板存在的缺陷相对应，所述缺陷检测结果至少包括各个缺陷的缺陷类型，所述缺陷类型至少分为点缺陷、污缺陷和划痕缺陷三种。
[0047]可选的，所述检测模块，具体用于：
[0048]针对任一所述缺陷，将该缺陷所对应的缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，输入到一级SVM分类器，以确定所述缺陷的一级分类结果；
[0049]根据所述一级分类结果，确定目标二级分类器；
[0050]将所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，输入到所述目标二级SVM分类器，得到所述缺陷的二级分类结果；
[0051]根据所述二级分类结果，确定所述缺陷的缺陷类型。
[0052]可选的，所述一级SVM分类器为点痕缺陷分类器，所述检测模块，具体用于：
[0053]当所述一级分类结果表征所述该缺陷为点缺陷时，将点污缺陷分类器确定为目标二级分类器；
[0054]当所述一级分类结果表征所述该缺陷为划痕缺陷时，将痕污缺陷分类器确定为目标二级分类器。
[0055]可选的，当所述目标二级分类器为点污缺陷分类器时，所述二级分类结果为点缺陷或污缺陷；
[0056]当所述目标二级分类器为痕污缺陷分类器时，所述二级分类结果为划痕缺陷或污缺陷。
[0057]本申请第三个方面提供一种电子设备，包括：至少一个处理器和存储器；
[0058]所述存储器存储计算机执行指令；
[0059]所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令，使得所述至少一个处理器执行如上第一个方面以及第一个方面各种可能的设本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种印板缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待测印板的监控图像；根据所述监控图像表征的图像特征，判断所述监控图像是否包括缺陷特征；当所述监控图像包括缺陷特征时，对所述监控图像进行缺陷特征提取，以得到所述监控图像的缺陷特征矩阵；根据所述监控图像的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板的缺陷检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述监控图像表征的图像特征，判断所述监控图像是否包括缺陷特征，包括：对所述监控图像进行图像预处理，得到预处理后的监控图像；在所述预处理后的监控图像中提取图像特征；根据所述图像特征的提取结果，判断所述监控图像是否包括缺陷特征。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当所述监控图像包括缺陷特征时，对所述监控图像进行缺陷特征提取，以得到所述监控图像的缺陷特征矩阵，包括：当所述监控图像包括缺陷特征时，在所述监控图像中截取缺陷检测区域；针对任一缺陷检测区域，依次提取该缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；其中，所述缺陷特征包括所述缺陷检测区域的纹理特征、几何特征和Hu不变矩；根据所述纹理特征、几何特征和Hu不变矩的提取结果，构建该缺陷检测区域的缺陷特征矩阵。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述监控图像的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板的缺陷检测结果，包括：根据所述监控图像中各所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板存在的各个缺陷的缺陷类型；其中，所述缺陷检测区域和所述待测印板存在的缺陷相对应，所述缺陷检测结果至少包括各个缺陷的缺陷类型，所述缺陷类型至少分为点缺陷、污缺陷和划痕缺陷三种。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述监控图像中各所述缺陷检测区域的缺陷特征矩阵，确定所述待测印板存在的各个缺陷的缺陷类型，包括：针对任一...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，刘安，尹东星，李翌辉，杨红新，
申请(专利权)人：章鱼博士智能技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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