一种固态硬盘注错测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种固态硬盘注错测试方法，应用于固态硬盘中的闪存控制器中，包括：获取待写入闪存中的数据；根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试；获取多次注错测试的测试结果，本发明专利技术还提出了一种固态硬盘注错测试装置、设备及介质，实现了对固态硬盘的纠错恢复功能的主动验证测试，能有效验证固态硬盘的全部纠错恢复功能的完善性，能有效排除软件代码中存在的未知BUG，有效提高固态硬盘产品合格率。品合格率。品合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种固态硬盘注错测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及副本配置领域，尤其是涉及一种固态硬盘注错测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]固态硬盘(Solid State Disk，简称SSD)，又称固态驱动器，是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘。SSD后端主要包括NFC(nand flash controller，NAND闪存控制器)和ECC(Error Correcting Code)：一种能够实现“错误检查和纠正”的方法)两个功能模块。其中，ECC模块是数据编解码单元，由于闪存存储天生存在误码率，为了数据的正确性，在数据写入操作时应给原数据加入ECC校验保护，这是一个编码过程。读取数据时，同样需要通过解码来检错和纠错，如果错误的比特数超过ECC纠错能力，数据会以“不可纠错”的形式上传给主机。
[0003]目前针对固态硬盘的纠错恢复功能，只有错误处理流程，只能被动等到发生错误的时候才会走到错误处理流程，无法主动去检查固态硬盘内部软件代码的数据纠错恢复功能是否可用，不利于对固态硬盘的纠错恢复(校验纠错)功能的主动验证测试。

技术实现思路

[0004]本专利技术为了解决现有技术中存在的问题，创新提出了一种固态硬盘注错测试方法、装置、设备及介质，有效解决由于现有技术无法主动验证固态硬盘的数据纠错恢复功能是否正常可用的问题，实现了对固态硬盘的纠错恢复(校验纠错)功能的主动验证测试。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种固态硬盘注错测试方法，应用于固态硬盘中的闪存控制器中，包括：
[0006]获取待写入闪存中的数据；
[0007]根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试；
[0008]获取多次注错测试的测试结果。
[0009]可选地，所述校验纠错过程包括硬判决解码、软判决解码、异或校验纠错。
[0010]进一步地，所述根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试包括：
[0011]在预设注错触发方式触发注错测试后，在读取写入闪存中的数据时进行第一次注错；
[0012]在硬判决解码对第一次注错后的数据进行解码过程中，进行第二次注错，强制使硬判决解码失败；
[0013]在重新读取写入闪存中的数据时进行第三次注错；
[0014]在硬判决解码对第三次注错后的数据进行解码过程中，进行第四次注错，强制使硬判决解码失败；
[0015]在重新读取写入闪存中的数据时进行第五次注错；
[0016]在软判决解码对第五次注错后的数据进行解码过程中，进行第六次注错，强制使软判决解码失败；
[0017]在重新读取写入闪存中的数据时进行第七次注错；
[0018]在异或校验纠错过程中对第七次注错后的数据进行纠错恢复。
[0019]进一步地，所述获取多次注错测试的测试结果具体包括：
[0020]在任意一次硬判决解码或软判决解码过程中，解码失败，则不再继续后续注错测试，注错测试结束，固态硬盘的校验纠错功能异常。
[0021]进一步地，在任意一次硬判决解码或软判决解码过程中，解码成功，则继续后续注错测试。
[0022]可选地，在异或校验纠错过程中，纠错恢复失败，则不再继续后续注错测试，注错测试结束，固态硬盘的校验纠错功能异常。
[0023]可选地，在注错测试过程中，每一次硬判决解码均成功，且软判决解码成功，且异或校验纠错恢复成功，则注错测试结束，固态硬盘的校验纠错功能正常。
[0024]本专利技术第二方面提供了一种固态硬盘注错测试装置，应用于固态硬盘中的闪存控制器中，包括：
[0025]第一获取模块，获取待写入闪存中的数据；
[0026]测试模块，根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试；
[0027]第二获取模块，获取多次注错测试的测试结果。
[0028]本专利技术第三方面提供了一种电子设备，包括：存储器，用于存储计算机程序；处理器，用于执行所述计算机程序时实现如本专利技术第一方面所述的一种固态硬盘注错测试方法的步骤。
[0029]本专利技术第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如本专利技术第一方面所述的一种固态硬盘注错测试方法的步骤。
[0030]本专利技术采用的技术方案包括以下技术效果：
[0031]1、本专利技术根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行注错测试，有效解决由于现有技术无法主动验证固态硬盘的数据纠错恢复功能是否正常可用的问题，实现了对固态硬盘的纠错恢复(校验纠错)功能的主动验证测试。
[0032]2、本专利技术技术方案中对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试，对固态硬盘的纠错恢复功能进行全面验证，提高了注错测试的准确性以及可靠性。
[0033]3、本专利技术技术方案中在任意一次硬判决解码或软判决解码过程中，解码失败，则不再继续后续注错测试，注错测试结束，固态硬盘的校验纠错功能异常；在任意一次硬判决解码或软判决解码过程中，解码成功，则继续后续注错测试，提高了注错测试的效率。
[0034]4、本专利技术技术方案中在注错测试过程中，每一次硬判决解码均成功，且软判决解码成功，且异或校验纠错恢复成功，则注错测试结束，固态硬盘的校验纠错功能正常，进一步地提高了注错测试的准确性以及可靠性，保证了固态硬盘对数据校验纠错恢复功能的正
常可用。
[0035]应当理解的是以上的一般描述以及后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。
附图说明
[0036]为了更清楚说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见的，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1为本专利技术方案中实施例一方法的流程示意图；
[0038]图2为本专利技术方案中实施例一方法中步骤S2的流程示意图；
[0039]图3为本专利技术方案中实施例一方法中纠错解码及注错时机示意图；
[0040]图4为本专利技术方案中实施例一方法中步骤S3的一流程示意图；
[0041]图5为本专利技术方案中实施例一方法中步骤S3的另一流程示意图；
[0042]图6为本专利技术方案中实施例二装置的结构示意图；
[0043]图7为本专利技术方案中实施例三设备的结构示意图。
具体实施方式
[0044]为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本专利技术进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本专利技术的不同结构。为了简化本专利技术的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本专利技术可以在不同例子中重复参考数字和/本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种固态硬盘注错测试方法，其特征是，应用于固态硬盘中的闪存控制器中，包括：获取待写入闪存中的数据；根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试；获取多次注错测试的测试结果。2.根据权利要求1所述的一种固态硬盘注错测试方法，其特征是，所述校验纠错过程包括硬判决解码、软判决解码、异或校验纠错。3.根据权利要求2所述的一种固态硬盘注错测试方法，其特征是，所述根据预设注错触发方式触发注错测试后，对待写入闪存中的数据在校验纠错过程中进行多次注错测试包括：在预设注错触发方式触发注错测试后，在读取写入闪存中的数据时进行第一次注错；在硬判决解码对第一次注错后的数据进行解码过程中，进行第二次注错，强制使硬判决解码失败；在重新读取写入闪存中的数据时进行第三次注错；在硬判决解码对第三次注错后的数据进行解码过程中，进行第四次注错，强制使硬判决解码失败；在重新读取写入闪存中的数据时进行第五次注错；在软判决解码对第五次注错后的数据进行解码过程中，进行第六次注错，强制使软判决解码失败；在重新读取写入闪存中的数据时进行第七次注错；在异或校验纠错过程中对第七次注错后的数据进行纠错恢复。4.根据权利要求3所述的一种固态硬盘注错测试方法，其特征是，所述获取多次注错测试的测试结果具体包括：在任意一次硬判决解码或软判决解码过程中，解码失败，...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵政，刘凯，陆正一，包伟，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：