天线测试方法及其系统技术方案

本发明专利技术提出一种天线测试方法及其系统。天线测试方法包含基于一二维坐标系统，建立一待测装置中至少一噪声元件的一位置参数；测量来自待测装置的辐射信号，以产生一三维增益信息，其中三维增益信息包含多个三维坐标参数；转换多个三维坐标参数为在二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个二维坐标参数分别与多个增益参数相对应；根据多个二维坐标参数及多个增益参数，产生一增益变化图；匹配位置参数于增益变化图，以获得分别对应于至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据噪声干扰程度，判断待测装置是否为一辐射不良装置。装置。装置。

【技术实现步骤摘要】
天线测试方法及其系统


[0001]本专利技术涉及一种天线技术，尤其涉及一种天线测试方法及其系统。

技术介绍

[0002]现在的生活中已有许多无线的通信设备，且此些设备一般设置有天线以实现无线通信的功能。然而，天线的辐射信号容易受到噪声的影响而造成无线通信效能下降。因此，在产品出厂或维修时，厂商会利用一些测试仪器来对无线通信设备(即待测装置)的天线的辐射信号进行测试及调整，以避免天线的辐射信号受噪声影响。然而，由于待测装置可能具有多种可能对辐射信号产生影响的元件，致使在进行天线的辐射信号测试时，无法判断出噪声源的位置及无法从根本上消除噪声源。再者，某些测试仪器(例如频谱分析仪)也可能增加测试成本。

技术实现思路

[0003]鉴于上述，本专利技术提供一种天线测试方法及其系统。依据一些实施例，本专利技术可以分析出噪声源于待测装置的位置及噪声源对于天线的辐射信号的干扰程度。依据一些实施例，通过简易的测试设备即可实现天线测试，从而降低测试成本。
[0004]依据一些实施例，天线测试方法包含基于一二维坐标系统，建立一待测装置中至少一噪声元件的一位置参数；测量来自待测装置的辐射信号，以产生一三维增益信息，其中三维增益信息包含多个三维坐标参数；转换多个所述三维坐标参数为在二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个所述二维坐标参数分别与多个所述增益参数相对应；根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益参数，产生一增益变化图；匹配位置参数于增益变化图，以获得分别对应于至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据噪声干扰程度，判断待测装置是否为一辐射不良装置。
[0005]依据一些实施例，天线测试系统包含一天线测试室、一网络分析仪及一计算装置。天线测试室用以容置一待测装置并接收待测装置发出的一辐射信号。网络分析仪耦接天线测试室。网络分析仪用以测量辐射信号，并产生一分析信息。计算装置耦接网络分析仪。计算装置用以基于一二维坐标系统，建立待测装置中至少一噪声元件的一位置参数；依据分析信息产生一三维增益信息，其中三维增益信息包含多个三维坐标参数；转换多个所述三维坐标参数为在二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个所述二维坐标参数分别对应多个所述增益参数；根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益参数，产生一增益变化图；匹配位置参数于增益变化图，以获得分别对应于至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据噪声干扰程度，判断待测装置是否为一辐射不良装置。
[0006]综上所述，依据一些实施例，通过将待测元件的噪声元件的位置参数匹配关联待测装置的辐射信号的增益变化图，即可从增益变化图获得噪声源的位置及噪声源对于辐射信号的干扰程度。依据一些实施例，由于增益变化图可以是视觉化的图形，因此使用者可以快速判断出噪声源的位置及干扰程度。依据一些实施例，由于简易的测试设备即可实现天
线测试，因此可以降低测试成本。例如，可以仅需无源天线测试仪器(例如天线测试室及网络分析仪)来测量辐射信号，并以计算装置来获得增益变化图及噪声干扰程度，从而减少天线测试仪器的成本。
附图说明
[0007]图1为本专利技术依据一些实施例的天线测试系统的架构示意图。
[0008]图2为本专利技术依据一些实施例的天线测试方法的流程示意图。
[0009]图3为本专利技术依据一些实施例的待测装置的噪声元件于第一切面上的位置的示意图。
[0010]图4为本专利技术依据一些实施例的待测装置的噪声元件于第三切面上的位置的示意图。
[0011]图5为本专利技术依据一些实施例的增益变化图的示意图。
[0012]图6为本专利技术依据一些实施例的天线测试方法的流程示意图。
[0013]图7为本专利技术依据一些实施例的天线测试方法的流程示意图。
[0014]附图标记如下：
[0015]10:天线测试系统
[0016]12:天线测试室
[0017]121:本体
[0018]123:测量天线
[0019]125:吸波元件
[0020]127:待测支架
[0021]1271:旋转轴
[0022]1273:旋转盘
[0023]14:网络分析仪
[0024]16:计算装置
[0025]20:待测装置
[0026]31、51:中央处理器
[0027]33、52:图形处理器
[0028]35A、35B、53:存储器
[0029]54:通用序列总线
[0030]55:固态硬盘
[0031]60:增益阶级
[0032]RD1:第一旋转方向
[0033]RD2:第二旋转方向
[0034]X:第一维度
[0035]Y:第二维度
[0036]Z:第三维度
[0037]S201～S211、S601～S603、S701～S703:步骤
[0038]θ:角度
[0039]φ:角度
具体实施方式
[0040]参照图1，为本专利技术依据一些实施例的天线测试系统10的架构示意图。天线测试系统10包含天线测试室12、网络分析仪(Network analyzer)14及计算装置16。网络分析仪14耦接天线测试室12。计算装置16耦接网络分析仪14。天线测试室12用以容置一待测装置20并接收待测装置20发出的一辐射信号。例如，天线测试室12包含一本体121及一测量天线123。本体121用以容置待测装置20。测量天线123用以接收来自待测装置20的辐射信号，并将辐射信号传输至网络分析仪14。在一些实施例中，天线测试室12包含吸波元件125。吸波元件125用以吸收天线测试室12内的电磁波，以消除辐射信号反射叠加的混波效应，从而模拟开阔场域。测量天线123可以为号角天线(Horn antenna)。天线测试室12可以为电波暗室(Electromagnetic anechoic chamber)。待测装置20可以为具有用以发出辐射信号的天线的装置，例如笔记本电脑、电视盒等。网络分析仪14用以测量辐射信号，并产生一分析信息，以供计算装置16进行运算。计算装置16可以为电脑、微处理机、嵌入式系统等运算装置。
[0041]参照图2，为本专利技术依据一些实施例的天线测试方法的流程示意图。天线测试方法适于由计算装置16执行。首先，计算装置16基于一二维坐标系统，建立待测装置20中至少一噪声元件的一位置参数(步骤S201)。噪声元件可以为待测装置20中的高频元件，例如中央处理器、图形处理器、存储器等。其中，高频是指测量天线123的可测量的频宽范围，例如高频为500MHz(百万赫兹)～26.5GHz(吉赫兹)。二维坐标系统可以为单位向量下的球坐标系统，且位置参数可以以(θ,φ)来表示。
[0042]以待测装置20为笔记本电脑为例进行说明。如图1所示，天线测试室12包含一待测支架127。待测支架127供设置待测装置20(如笔记本电脑)。笔记本电脑的键盘、输出入端口、电路板及噪声元件是设置在待测支架127于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种天线测试方法，包含：基于一二维坐标系统，建立一待测装置中至少一噪声元件的一位置参数；测量来自该待测装置的一辐射信号，以产生一三维增益信息，其中该三维增益信息包含多个三维坐标参数；转换多个所述三维坐标参数为在该二维坐标系统下的多个二维坐标参数及多个增益参数，且多个所述二维坐标参数分别与多个所述增益参数相对应；根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益参数，产生一增益变化图；匹配该位置参数于该增益变化图，以获得分别对应于该至少一噪声元件的一噪声干扰程度；及根据该噪声干扰程度，判断该待测装置是否为一辐射不良装置。2.如权利要求1所述的天线测试方法，还包含：将多个所述增益参数区分为多个不同的增益阶级；及产生该增益变化图的步骤是，根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益阶级，产生该增益变化图。3.如权利要求2所述的天线测试方法，其中，根据多个所述二维坐标参数及多个所述增益阶级，产生该增益变化图的步骤是，进一步根据一等值线函数，以将由多个所述增益阶级形成的一等值线图作为该增益变化图。4.如权利要求1所述的天线测试方法，其中，当该噪声干扰程度大于一噪声阈值时，判断该待测装置为该辐射不良装置。5.如权利要求1所述的天线测试方法，还包含：取得该待测装置的一图像档；及基于该二维坐标系统，将该增益变化图结合该图像档，以使该增益变化图进一步呈现该待测装置的元件分布。6.一种天线测试系统，包含：一天线测试室，用以容置一待测装置并接收该待测装置发...

【专利技术属性】
技术研发人员：王文彦，江正雄，
申请(专利权)人：微盟电子昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：