本实用新型专利技术涉及厚度测量技术领域，尤其涉及一种电容式的薄膜测厚仪，包括底座、测量平台、立架、调节组件以及测量器，所述立架与底座垂直设置，所述测量平台装设于底座并用于放置待测量物，所述立架通过调节组件与测量器连接，所述测量器与测量平台间隔且相对设置，所述调节组件用于调节测量器与测量平台之间的距离，所述测量器用于测量放置在检测平台上的待测量物的厚度。本实用新型专利技术采用非接触方式测量厚度，避免隔膜产生变形，降低测量误差，提高测量精度与测量准确性。测量精度与测量准确性。测量精度与测量准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种电容式的薄膜测厚仪
[0001]本技术涉及厚度测量
，尤其涉及一种电容式的薄膜测厚仪。
技术介绍
[0002]隔膜是锂电池中常用的组件，其主要作用是使正极片和负极片分隔开来，防止两电极相互接触而造成短路，由于隔膜的厚度大小对隔膜的使用性能有着直接的影响，因此在生产过程中需要快速准确地对隔膜的厚度进行测量，目前主要是通过千分尺对隔膜的厚度进行测量，由于隔膜材质较为柔软，难以保证在旋转千分尺时就能使测量杆刚好与隔膜接触，在测量的过程中容易产生测量误差，导致测量结果准确性差，而且这种测量方式往往会使隔膜产生变形，影响隔膜的品质。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种电容式的薄膜测厚仪，采用非接触方式测量厚度，避免隔膜产生变形，降低测量误差，提高测量精度与测量准确性。
[0004]为实现上述目的，本技术的一种电容式的薄膜测厚仪，包括底座、测量平台、立架、调节组件以及测量器，所述立架与底座垂直设置，所述测量平台装设于底座并用于放置待测量物，所述立架通过调节组件与测量器连接，所述测量器与测量平台间隔且相对设置，所述调节组件用于调节测量器与测量平台之间的距离，所述测量器用于测量放置在检测平台上的待测量物的厚度。
[0005]优选的，所述测量器自测量平台的表面取得第一测量讯号，所述测量器自待测量物的表面取得第二测量讯号，所述测量器将取得的第一测量讯号与第二测量讯号发送到控制系统进行对比分析与计算得出待测量物的厚度。
[0006]优选的，所述测量器为电容式位移传感器。
[0007]优选的，所述调节组件包括导轨板以及与导轨板滑动连接的滑块板，所述导轨板的外侧设置有定位板，所述定位板开设有条形孔，所述滑块板的外侧设置有穿过条形孔的定位旋钮。
[0008]优选的，还包括安装座，所述安装座装设于调节组件，所述安装座开设有用于供测量器插入的安装孔以及与安装孔连通的夹持槽，所述安装座开设有贯穿夹持槽的连接孔，所述连接孔的中心轴线与安装孔的中心轴线垂直设置。
[0009]优选的，所述安装座的两侧均开设有装配孔。
[0010]优选的，所述安装座呈T型。
[0011]优选的，所述立架开设有安装槽以及装设于安装槽的安装螺钉，所述安装螺钉穿过安装槽并连接固定于底座。
[0012]优选的，所述底座的四周均设置有连接螺钉，所述连接螺钉穿过底座固定连接有支脚。
[0013]优选的，所述连接螺钉与支脚分别设置有四个，所述连接螺钉与支脚相对底座左
右上下对称分布。
[0014]本技术的有益效果：本技术采用非接触方式测量厚度，避免隔膜产生变形，降低测量误差，提高测量精度与测量准确性。
附图说明
[0015]图1为本技术的结构示意图。
[0016]图2为本技术放置有待测量物的正视结构示意图。
[0017]图3为本技术的分解结构示意图。
[0018]附图标记包括：
[0019]1——底座2——测量平台
[0020]3——立架31——安装槽32——安装螺钉4——调节组件41——导轨板42——滑块板
[0021]43——定位板44——条形孔45——定位旋钮5——测量器
[0022]6——安装座61——安装孔62——夹持槽
[0023]63——连接孔64——装配孔
[0024]7——连接螺钉8——支脚
[0025]D1——第一测量讯号D2——第二测量讯号。
具体实施方式
[0026]以下结合附图对本技术进行详细的描述。
[0027]如图1至图3所示，本技术的一种电容式的薄膜测厚仪，包括底座1、测量平台2、立架3、调节组件4以及测量器5，所述立架3与底座1垂直设置，所述测量平台2装设于底座1并用于放置待测量物，所述立架3通过调节组件4与测量器5连接，所述测量器5与测量平台2间隔且相对设置，所述调节组件4用于调节测量器5与测量平台2之间的距离，所述测量器5用于测量放置在检测平台上的待测量物的厚度。
[0028]工作时，通过外部的工作机构拾取待测量物并将待测量物放置在测量平台2上，待测量物例如隔膜，立架3通过调节组件4与测量器5连接，根据隔膜的类型规格而通过调节组件4对应调节测量器5与测量平台2之间的距离，以便于调整测量器5到达合适的工作位置，再利用测量器5采用非接触式测量方式对放置在测量平台2上的待测量物进行测量厚度，测量精度高且操作简单方便。本技术采用非接触方式测量厚度，避免隔膜产生变形，降低测量误差，提高测量精度与测量准确性。
[0029]本实施例的测量器5自测量平台2的表面取得第一测量讯号D1，所述测量器5自待测量物的表面取得第二测量讯号D2，所述测量器5将取得的第一测量讯号D1与第二测量讯号D2发送到控制系统进行对比分析与计算得出待测量物的厚度。具体地，首先，在没有将待测量物放置到测量平台2时，测量器5可以自测量平台2的表面取得第一测量讯号D1，接着，将待测量物放置到测量平台2时，测量器5自待测量物的表面取得第二测量讯号D2，测量器5将取得的第一测量讯号D1转换为第一电压信号，以及将取得的第二测量讯号D2转换为第二电压信号，并且将第一电压信号与第二电压信号都发送到控制系统内的数据处理模块进行分析处理，经过分析处理分别获得自测量器5的测量端到测量平台2表面之间的测距位移
值，以及自测量器5的测量端到待测量物表面之间的测距位移值，并根据上述两个测距位移值之间的位移差而转化获得待测量物的厚度，进而计算得出待测量物的厚度。
[0030]本实施例的测量器5为电容式位移传感器。具体地，电容式位移传感器是一种非接触电容式原理的精密测量仪器，具有检测灵敏度高、抗电磁干扰能力强、使用操作方便等优点，尤其适合于缓慢变化或微小量的测量，利用电容式位移传感器内部的电容位移传感模块有效将第一测量讯号D1与第二测量讯号D2分别转换为第一电压信号与第二电压信号，这是现有技术，在此不再赘述，测量平台2的平面与电容式位移传感器的平面保持良好的平行度，确保电容式位移传感器测量数值的准确性。
[0031]本实施例的调节组件4包括导轨板41以及与导轨板41滑动连接的滑块板42，所述导轨板41的外侧设置有定位板43，所述定位板43开设有条形孔44，所述滑块板42的外侧设置有穿过条形孔44的定位旋钮45。具体地，滑块板42与测量器5连接，滑块板42沿着导轨板41的长度方向滑动，当滑块板42到达合适的位置时，定位旋钮45穿过定位板43的条形孔44并拧紧固定在滑块板42的螺纹孔内，此时的定位旋钮45不仅贴合夹紧在定位板43，而且还固定螺接在滑块板42上，进而固定滑块板42与导轨板41的位置，进一步实现固定测量器5的位置，结构设计合理，调节工作可靠。
[0032]本实施例的还包括安装座6，所述安装座6装设于调节组件4，所述安装座6开设有用于供测量器5插入的安装孔61以及与安装孔61连通的夹本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容式的薄膜测厚仪，其特征在于：包括底座、测量平台、立架、调节组件以及测量器，所述立架与底座垂直设置，所述测量平台装设于底座并用于放置待测量物，所述立架通过调节组件与测量器连接，所述测量器与测量平台间隔且相对设置，所述调节组件用于调节测量器与测量平台之间的距离，所述测量器用于测量放置在检测平台上的待测量物的厚度。2.根据权利要求1所述的一种电容式的薄膜测厚仪，其特征在于：所述测量器自测量平台的表面取得第一测量讯号，所述测量器自待测量物的表面取得第二测量讯号，所述测量器将取得的第一测量讯号与第二测量讯号发送到控制系统进行对比分析与计算得出待测量物的厚度。3.根据权利要求2所述的一种电容式的薄膜测厚仪，其特征在于：所述测量器为电容式位移传感器。4.根据权利要求1所述的一种电容式的薄膜测厚仪，其特征在于：所述调节组件包括导轨板以及与导轨板滑动连接的滑块板，所述导轨板的外侧设置有定位板，所述定位板开设有条形孔，所述滑块板的外侧设置有穿过条形孔的定...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖凤鸣，李珂，廖洪，
申请(专利权)人：广东卓高新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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