一种用于集成电路测试系统的多通道自动转换装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，包括通道切换控制板、数据转换板和多个磁动力机构，每个磁动力机构对应集成电路测试系统的一数字通道，磁动力机构包括壳体和将壳体分成上下两个腔室的电磁屏蔽板，上腔室的上端部设有电磁铁，电磁铁的一端与通道切换控制板的控制端相连，另一端接地，电磁屏蔽板的下方设有绝缘棒，其上方设有永磁体；数据转换板上对应的磁动力机构处均设置触点A和B，触点B正对数字通道且保持接触，触点A与金属弹簧片的一端相连，金属弹簧片的另一端与其所在的磁动力机构中的绝缘棒接触。本发明专利技术能减少整个校准装置的体积，无需采用继电器或外部机械测试装置，同时能实现自动控制数字通道的切换。字通道的切换。字通道的切换。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试系统的多通道自动转换装置


[0001]本专利技术属于集成电路测试系统计量
，更具体地，涉及一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置。

技术介绍

[0002]武器装备或重点型号任务中使用的集成电路主要通过集成电路测试系统保障其性能和质量，因此集成电路测试系统作为现代武器装备的保障设备对其准确的计量具有举足轻重的地位。
[0003]然而，当前进行集成电路测试系统多通道的校准，必须进行多通道的切换，实现这一关键步骤的装置通常采用继电器或外接机械结构控制通道，这样的设计增加了整个校准装置的体积，不利于实现现场校准。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，能减少整个校准装置的体积，无需采用继电器或外部机械测试装置，同时能实现自动控制数字通道的切换。
[0005]为实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，包括上下相对间隔设置的通道切换控制板和数据转换板，所述通道切换控制板和数据转换板间固定装载有多个磁动力机构，每个磁动力机构对应集成电路测试系统的一个数字通道；
[0006]其中，所述磁动力机构包括磁屏蔽壳体及滑动设置在磁屏蔽壳体内的电磁屏蔽板，所述电磁屏蔽板将壳体分成上下两个腔室，上腔室的上端部设有电磁铁，电磁铁的一端与通道切换控制板的控制端相连，电磁铁的另一端接地，电磁屏蔽板的下方固定设有绝缘棒，电磁屏蔽板的上方固定设有永磁体；所述数据转换板上对应的磁动力机构处均设置两个触点A和B，触点B正对集成电路测试系统的一个数字通道且保持接触，触点A与一金属弹簧片的一端相连，金属弹簧片的另一端翘起，并与其所在的磁动力机构中的绝缘棒接触，数据转换板上的所有触点A均与其上的数据传输接口相连，该数据传输接口与集成电路测试系统校准装置相连。
[0007]本专利技术提供的用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，采用多个磁动力机构，利用电磁效应控制数字通道的通断和信号传输，由于此结构是在竖直方向上，可大大节省切换装置在水平方向上的空间，效缩小整个切换装置的体积。
[0008]在其中一个实施例中，各磁动力机构中的绝缘棒对应其所对应的数据转换板上的触点B在竖直方向上错开一段距离。
[0009]在其中一个实施例中，所述通道切换控制板与外部控制器相连。
[0010]在其中一个实施例中，所述控制器采用STM32芯片或FPGA芯片。
[0011]在其中一个实施例中，所述磁屏蔽壳体采用桶状结构。
[0012]第二方面，本专利技术还提供了一种基于上述所述的用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置的多通道切换方法，包括如下步骤：
[0013](1)根据集成电路测试系统中数字通道个数，配置磁动力机构的数量；将所有磁动力机构与集成电路测试系统中的所有数字通道一一对应；
[0014](2)通过通道切换控制板，向指定数字通道对应的磁动力机构中的电磁铁一端施加高电平，使电磁铁对永磁体产生排斥力，带动绝缘棒下移，按压金属弹簧片，接通指定磁动力机构对应的数据转换板上的两个触点，从而将该指定数字通道的信号引出至集成电路测试系统校准装置；当信号引出完成后，通过通道切换控制板对指定数字通道对应的磁动力机构中的电磁铁的一端施加低电平，使电磁铁对永磁体产生吸引力，带动绝缘棒上移，使金属弹簧片恢复原形状，断开指定磁动力机构对应的数据转换板上的两个触点，以此实现对集成电路测试系统中多个数字通道的切换控制。
[0015]第三方面，本专利技术还提供了一种用于集成电路测试系统的多通道校准系统，包括集成电路测试系统校准装置和上述所述的用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置。
附图说明
[0016]图1是本专利技术一实施例提供的用于集成电路测试测试系统的多通道自动切换装置的内部结构示意图；
[0017]图2是本专利技术一实施例提供的用于集成电路测试测试系统的多通道自动切换装置的整体结构示意图。
具体实施方式
[0018]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0019]为解决传统校准装置采用继电器或外界机械结构控制通道，增加校准装置体积，不利于实现现场校准的问题，本专利技术提供了一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，如图1和2所示，该多通道自动切换装置包括上下相对间隔设置的通道切换控制板和数据转换板，通道切换控制板和数据转换板间固定装载有多个磁动力机构，每个磁动力机构对应集成电路测试系统的一个数字通道。
[0020]其中，磁动力机构包括磁屏蔽壳体及滑动设置在磁屏蔽壳体内的电磁屏蔽板，电磁屏蔽板将壳体分成上下两个腔室，上腔室的上端部设有电磁铁，电磁铁的一端与通道切换控制板的控制端相连，电磁铁的另一端接地。电磁屏蔽板的下方固定设有绝缘棒，电磁屏蔽板的上方固定设有永磁体。
[0021]数据转换板上对应的磁动力机构处均设置两个触点A和B，触点B正对集成电路测试系统的一个数字通道且保持接触，触点A与一金属弹簧片的一端相连，金属弹簧片的另一端翘起，并与其所在的磁动力机构中的绝缘棒接触，这种设计能够利用金属弹簧片的形变有效将数字通道上的信号引出，且不受上方电磁环境的影响。且数据转换板上的所有触点A均与其上的数据传输接口相连，该数据传输接口通过传输线缆与集成电路测试系统校准装置相连。
[0022]本实施例提供的数据转换板中的每两个触点对应集成电路测试系统中的一个数字通道，其中一个触点(触点B)始终正对数字通道且保持接触，另外一个触点(触点A)则安装金属弹簧片，通过金属弹簧片的形变来进行两个触点间的通断控制，当两个触点间接通时，则触点B将数字通道的信号通过触点A引出至数据传输接口，再通过传输线缆传输至集成电路测试系统校准装置，集成电路测试系统校准装置则采用本领域常用的校准算法对该通道的信号进行校准。
[0023]本实施例提供的金属弹簧片的形变则是通过控制通道切换控制板控制端输出的电平大小(高低电平)来实现，当控制端输出高电平时，电磁铁产生磁力，电磁铁的极性与永磁体磁极相反，由于永磁体与电磁屏蔽板固定相连，因此电磁铁对永磁体与电磁屏蔽板施加一个排斥力，使与电磁屏蔽板固定相连的绝缘棒按压金属弹簧片，从而使金属弹簧片发生形变；金属弹簧片受到压力后接触数字通道连接的触点B，进而使数字通道上的信号从触点B传输到触点A，然后再由触点A将信号转接到通道切换控制板上的数据传输接口，实现该数字通道上的信号传输，即完成该数字通道信号的选通。
[0024]具体地，利用本实施例提供的多通道自动切换装置对集成电路测试系统进行多数字通道信号切换的方法为：(1)根据集成电路测试系统中数字通道个数，配置磁动力机构的数量；将所有磁动力机构与集成电路测试系统中的所有数字通道一一对应；(2)通过通道切换控制板，向指定数字通道对应的磁动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，其特征在于，包括上下相对间隔设置的通道切换控制板和数据转换板，所述通道切换控制板和数据转换板间固定装载有多个磁动力机构，每个磁动力机构对应集成电路测试系统的一个数字通道；其中，所述磁动力机构包括磁屏蔽壳体及滑动设置在磁屏蔽壳体内的电磁屏蔽板，所述电磁屏蔽板将壳体分成上下两个腔室，上腔室的上端部设有电磁铁，电磁铁的一端与通道切换控制板的控制端相连，电磁铁的另一端接地，电磁屏蔽板的下方固定设有绝缘棒，电磁屏蔽板的上方固定设有永磁体；所述数据转换板上对应的磁动力机构处均设置两个触点A和B，触点B正对集成电路测试系统的一个数字通道且保持接触，触点A与一金属弹簧片的一端相连，金属弹簧片的另一端翘起，并与其所在的磁动力机构中的绝缘棒接触，数据转换板上的所有触点A均与其上的数据传输接口相连，该数据传输接口与集成电路测试系统校准装置相连。2.根据权利要求1所述的用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，其特征在于，各磁动力机构中的绝缘棒对应其所对应的数据转换板上的触点B在竖直方向上错开一段距离。3.根据权利要求1所述的用于集成电路测试系统的多通道自动切换装置，其特征在于，所述通道切换控制板与外部控制器相连。4.根据权利要求3所述的用于集成电路测试系统的多通...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁超，张明虎，
申请(专利权)人：中国船舶集团有限公司第七〇九研究所，
类型：发明
国别省市：