本实用新型专利技术涉及一种EML光器件老化测试装置，其包括老化板、老化插座、柔性电连接部、实体连接部和第二金手指，使用时将待测EML光器件插入至老化插座中，通过第一金手指输入合适的直流电压或电流，经过本体板提供供电使EML光器件正常工作，同时，通过第二金手指输入合适的交流电压，经过柔性电连接部及本体板对EML光器件进行TEC阻值测量等ACR检测。因本实用新型专利技术中，第二金手指是通过柔性电连接部和实体连接部实现和其他部分的可拆卸连接，所以当第二金手指损坏时，仅需更换第二金手指即可，无需修改其他部分甚至替换整个装置，使之便于维护，极大地降低了使用成本。极大地降低了使用成本。极大地降低了使用成本。
【技术实现步骤摘要】
一种EML光器件老化测试装置
[0001]本技术涉及激光机测试
，尤其涉及一种EML光器件老化测试装置。
技术介绍
[0002]随着光通信技术的不断发展，EML光器件的使用日益广泛。为了确保每颗EML光器件的性能和稳定性，需要经过测试和老化，这就涉及到老化板。
[0003]EML光器件在生产加工过程中，需要对其性能进行测试。为了验证长时间工作后的稳定性，需要把EML光器件在高温环境下通电工作8小时以上，这就需要老化板既能用在测试设备上，也能支持高温在老化设备上使用。
[0004]然而，目前业界使用的老化板存在以下问题：目前的老化板维护困难，特别是老化板上用于和其他器械连接的金手指，极易因频繁的插拔而损坏，而现有的老化板发生部分损坏只能更换整个老化板，无法更换部分物料，使用成本上升。因此，人们亟需一种在金手指发生损坏的情况下，无需更换整个老化板的测试装置。
技术实现思路
[0005]有鉴于此，有必要提供一种EML光器件老化测试装置，用以实现一种在金手指发生损坏的情况下，无需更换整个老化板的测试装置。
[0006]为达到上述技术目的，本技术采取了以下技术方案：
[0007]本技术提供了一种EML光器件老化测试装置，包括：
[0008]老化板，包括主体板和第一金手指，所述第一金手指电连接所述主体板；
[0009]老化插座，连接于所述主体板并和所述第一金手指电连接；
[0010]柔性电连接部，电连接所述主体板；
[0011]实体连接部，连接于所述主体板；
[0012]第二金手指，可拆卸地连接于所述实体连接部和所述柔性电连接部，所述第二金手指还可断开地电连接于所述柔性电连接部。
[0013]进一步的，还包括加热膜和热沉，所述加热膜电连接所述柔性电连接部，所述加热膜覆盖所述热沉，所述热沉抵接所述老化插座。
[0014]进一步的，所述老化插座的数量为多个，多个所述老化插座阵列设置于所述主体板的同一侧，所述热沉为平板状，所述热沉的一面抵接所述老化插座背离所述主体板的一端。
[0015]进一步的，所述加热膜覆盖所述热沉朝向所述主体板的一面，所述加热膜上开设有多个和第一通孔，多个所述第一通孔分别套设于多个所述老化插座。
[0016]进一步的，所述加热膜包括多个发热铜线、多个温度保险丝、多个NTC电阻和柔性PCB板，多个所述发热铜线均铺设于所述柔性PCB板并和所述柔性PCB板电连接，每个所述发热铜线上连接一个所述温度保险丝，多个所述NTC电阻连接于所述柔性PCB板并和所述柔性PCB板电连接，所述柔性PCB板上开设多个所述第一通孔，所述柔性PCB板电连接所述柔性电
连接部，所述柔性电连接部为柔性线路板。
[0017]进一步的，所述实体连接部为平板状，所述实体连接部设置于所述主体板和所述加热膜之间，所述实体连接部上开设多个第二通孔，多个所述第二通孔分别套设于多个所述老化插座，所述实体连接部朝向所述主体板的一面抵接所述主体板，所述实体连接部背离所述主体板的一面连接于所述第二金手指。
[0018]进一步的，还包括隔热垫，所述隔热垫设置于所述实体连接部和所述加热膜之间，所述隔热垫上开设多个第三通孔，多个所述第三通孔分别套设于多个所述老化插座，所述实体连接部朝向所述实体连接部的一面抵接所述实体连接部，所述实体连接部背离所述实体连接部的一面抵接所述加热膜。
[0019]进一步的，还包括限位盖板，所述限位盖板连接于所述热沉背离所述老化插座的一侧，所述限位盖板上开设多个第一限位孔，所述热沉上开设多个第二限位孔，多个所述第一限位孔和多个所述第二限位孔一一对应地连通，多个所述第二限位孔和多个所述老化插座一一对应地连通。
[0020]进一步的，所述老化板还包括把手，所述把手连接于所述主体板，所述把手和所述第一金手指分别位于所述主体板相背离的两边。
[0021]进一步的，所述老化板还包括多个卡夹，多个所述卡夹连接于所述主体板。
[0022]本技术提供一种EML光器件老化测试装置，使用时将待测EML光器件插入至老化插座中，通过第一金手指输入合适的直流电压或电流，经过本体板提供供电使EML光器件正常工作，同时，通过第二金手指输入合适的交流电压，经过柔性电连接部及本体板对EML光器件进行TEC阻值测量等ACR检测。其中第一金手指主要为供电作用，其为由兼容市场定义的标准规格，不需要改变，损耗也较小，而第二金手指主要进行一些特定的功能行测试，可以灵活更改，但是插拔次数较多，损耗也较大。因本技术中，第二金手指是通过柔性电连接部和实体连接部实现和其他部分的可拆卸连接，所以当第二金手指损坏时，仅需更换第二金手指即可，无需修改其他部分甚至替换整个装置，使之便于维护，极大地降低了使用成本。
附图说明
[0023]图1为本技术提供的EML光器件老化测试装置一实施例的主视图；
[0024]图2为本技术提供的EML光器件老化测试装置一实施例的爆炸图。
具体实施方式
[0025]下面结合附图来具体描述本技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本技术的实施例一起用于阐释本技术的原理，并非用于限定本技术的范围。
[0026]在阐述具体实施例之前，首先对本文中需要使用的一些专业名词做出解释：
[0027]EML：Electlro
‑
absorption Modulated Laser，即电吸收调制激光器；
[0028]TEC：Thermo Electric Cooler，即半导体制冷器；
[0029]NTC电阻：NTC(Negative Temperature Coefficient)是指随温度上升电阻呈指数关系减小、具有负温度系数的热敏电阻现象和材料，由该材料制作而成的热敏电阻，即为
NTC电阻。
[0030]可以理解的是，上述名词均为现有技术，本文中与上述名词有关的技术术语，也均为本领域技术人员能够获取并了解的现有技术，如EML光器件、TEC阻值、TEC检测等。
[0031]在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0032]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0033]结合图1～2所示，本技术提供了一种EML光器件老化测试装置的实施例，该EML光器件老化测试装置包括老化板1、老化插座2、柔性电连接部3、实体连接部4、和第二金手指5。其中所述老化板1又包括主体板11和第一金手指12，所述第一金手指12电连接所述主体板11，老化插座2连接于所述主体板11并和所述第一金手指本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种EML光器件老化测试装置，其特征在于，包括：老化板，包括主体板和第一金手指，所述第一金手指电连接所述主体板；老化插座，连接于所述主体板并和所述第一金手指电连接；柔性电连接部，电连接所述主体板；实体连接部，连接于所述主体板；第二金手指，可拆卸地连接于所述实体连接部和所述柔性电连接部，所述第二金手指还可断开地电连接于所述柔性电连接部。2.根据权利要求1所述的EML光器件老化测试装置，其特征在于，还包括加热膜和热沉，所述加热膜电连接所述柔性电连接部，所述加热膜覆盖所述热沉，所述热沉抵接所述老化插座。3.根据权利要求2所述的EML光器件老化测试装置，其特征在于，所述老化插座的数量为多个，多个所述老化插座阵列设置于所述主体板的同一侧，所述热沉为平板状，所述热沉的一面抵接所述老化插座背离所述主体板的一端。4.根据权利要求3所述的EML光器件老化测试装置，其特征在于，所述加热膜覆盖所述热沉朝向所述主体板的一面，所述加热膜上开设有多个和第一通孔，多个所述第一通孔分别套设于多个所述老化插座。5.根据权利要求4所述的EML光器件老化测试装置，其特征在于，所述加热膜包括多个发热铜线、多个温度保险丝、多个NTC电阻和柔性PCB板，多个所述发热铜线均铺设于所述柔性PCB板并和所述柔性PCB板电连接，每个所述发热铜线上连接一个所述温度保险丝，多个所述NTC电阻连接于所述柔性PCB板并和所述柔性PCB板电连接，所述柔性PCB板上开设多个所述第一通孔，所述柔性PCB板电连接所述柔性电连接部，...
【专利技术属性】
技术研发人员：马超，曾志豪，周鹏，黄秋元，
申请(专利权)人：武汉普赛斯电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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